Способ обнаружения дефектов поверхностных слоев в изделиях из ферромагнитных материалов

Способ обнаружения дефектов поверхностных слоев в изделиях из ферромагнитных материалов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

) 204003

ОПИ КН

ИЗОБРЕТЕ

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТ (61) Дополнительное к авт. свид (22) Заявлено 09.10.65 (21) 1031 с присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано 15.12.75. Бюллетень

Дата опубликования описания 19. (51) М. Кл. G 01п 27/82

Гасударственный комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 620.179.14.05 (088.8) (72) вторы изобретения

И. Е. Горон, Г. А, Панков, И. Х. Меркин, Ю. А. Баранов, В. Ф. Дембинский и В. В. Добровольский (71) Заявитель

Московский электротехнический институт связи (54) СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ

ПОВЕРХНОСТНЫХ СЛОЕВ В ИЗДЕЛИЯХ

ИЗ ФЕРРОМАГНИТНЫХ МАТЕРИАЛОВ

Известен способ обнаружения дефектов поверхностных слоев в изделиях из ферромагнитных материалов, заключающийся в том, что намагничивают поверхностный слой ко нтролируемого изделия и считывают магнитограмму с последующей индикацией на электронно-лучевом индикаторе.

Известный способ не оценивает качества микроструктуры контролируемого поверхностного слоя и недостаточно регулирует толщину этого слоя.

По предлагаемому способу на исследуемую поверхность наносят, например, с помощью промежуточного носителя, непрерывный линейчатый магнитный растр, а для индикации формируют на экране электронно-лучевого индикатора яркостное точечно-растровое изображение контролируемого слоя.

Кроме того, изменяют частоту возбуждающего поля.

Способ заключается в следующем.

Вначале линейчатый магнитный растр наносят с помощью магнитной головки с шириной трека записи, определяемой размерами контролируемой поверхности, на первичный магнитный носитель. При этом первичному носителю придается форма, удобная для записи линейчатого растра. Затем производят перенос линейчатого магнитного растра с первичного магнитного носителя на поверхность изделия. Перенос ведут при воздействии возбуждающего магнитного переменного, спадающего,по амплитуде поля, направленного, вдоль контролируемой поверхности. Линейчатый растр, записанный на поверхность изделия, переносят на вторичный магнитный носитель. Контролируемая поверхность может иметь любую сложную форму, которая сопрягается с эластичными магнит ными носи10 телями.

Образование сигналов точечного растра производят путем считьавания линейчатого магнитного растра воспроизводящей головкой со вторичного магнитного носителя, при15 веденного к форме, удобной для считывания, в направлении, поперечном линиям растра.

Полученные контрольные сигналы усиливают и подают на экран электронно-лучевого индикатора, на котором формируют яркостное

20 точечно-растровое изображение контролируемого слоя, причем используется экран с долговременной памятью. Эти импульсы разве ртываются на экране в двумерный точечный растр.

25 Глубину контролируемого слоя изделия в зависимости от необходимости регулируют изменением частоты возбуждающего магнитного поля при переносе магнитного линейчатого растра на исследуемую поверхность.

30 Таким образом, получаемое при контроле

204003

Составитель И, Кесоян

Редактор С. Бычихина

Техред E. Подурушина

Корректор Н. Стельмах

Заказ 373/1 Изд. № 2100 Тираж 902 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 двумерное изображение поверхностного слоя дает существенную информацию о топографии дефектов, т. е. об их форуме, размерах и расположении. Зто позволяет использовать результаты контроля для исправления брака и корректировки технологии обработки изделий.

Считывание линейчатого магнитного растра с помощью магнитной головки является не единственным и может производиться любым другим известным методом, позволяющим формировать точечно-растровое изображение на экране электронно-лучевого индикатора, Предмет изобретения

1. Способ обнаружения дефектов поверхностных слоев в изделиях из ферромагнитных материалов, заключающийся в том, что намагничивают поверхностный слой контролируемого изделия и считывают магнитограмму с последующей индикацией на элект1ронно-лучевом индикаторе, отл и ч аю щи и с я тем, что, с целью оценки качества микроструктуры контролируемого поверхностного слоя, на исследуемую поверх ность наносят, например, с ,помощью промежуточного носителя непрерывный линейчатый магнитный растр, а для индикации формируют на экране электроннолучевого индикатора яркостное точечно-растровое изображение контролируемого слоя. 2. Способ по п, 1, отл и чаю щийся тем, что, с целью регулирования толщины контролируемого слоя, изменяют частоту возбуждающего магнитного поля.