Способ импедансметрического контроля массы кристаллов в сахарсодержащих кристаллизатах

Способ импедансметрического контроля массы кристаллов в сахарсодержащих кристаллизатах

Реферат

Способ импедансметрического контроля массы кристаллов в сахаросодержащих кристаллизатах, включающий высокочастотное определение величины общего тангенса угла диэлектрических потерь кристаллизата и определение массы кристаллов расчетным путем, отличающийся тем, что дополнительно одновременно с определением величины общего тангенса угла диэлектрических потерь кристаллизата измеряют величину модуля электрического импеданса кристаллизата, а определение массы M_кр кристаллов проводят с использованием зависимости где - модуль электрического импеданса; tg - общий тангенс угла диэлектрических потерь кристаллизата; A и B - предварительно экспериментально определенные коэффициенты.