Устройство для измерения деформаций пьезоэлектрических преобразователей

Устройство для измерения деформаций пьезоэлектрических преобразователей

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

208777

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Сойз COBBTCKNX

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 22.VI.1966 (№ 1085217/26-9) Кл. 21а4 71 с присоединением заявки ¹

Приоритет

МПК G 01г

УДК 621.317.39л39.37 (088.8) Комитет по делам изобретений и открытий прн Совете Министров

СССР

Опубликовано 17.!.1968. Бюллетень № 4

Дата опубликования описания 14.111.1968

Авторы изобретения

В. IN Гармаш, А. М. Еняков и А. Г. Сегалла

Московский институт стали и сплавов

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ

ПЬЕЗОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ

Известные устройства для измерения деформаций пьезоэлектрических преобразователей, содержащие микроскоп и интерференционный блок, характеризуются сложностью процесса измерений.

В описываемом устройстве для измерения деформаций пьезоэлектрических преобразователей упрощение процесса измерений достигнуто соединением исследуемого образца посредством штока с плиткой Иогансона, над которой в поле зрения микроскопа размещена глоскопараллельная пластинка, соединенная

c MHKpoMeTpH IecmM механизмом, образующая совместно с плиткой Иогансона и воздушным

I,ëèHo0áðàçíûì зазором между плиткой и пластинкой интгрференционный блок.

Конструкция описываемого устройства гредставлена на чертеже.

Как видно из чертежа исследуемый образец 1, помещенный в термокамеру 2, посредством штока 8 соединен с плиткой Иогансона

4. Над плиткой Иогансона 4 в поле зрения микроскопа 5 размещена плоскопараллельная стеклянная пластинка б, соединенная с микрометрическим механизмом 7. Плоскопараллельная пластинка б образует совместно с плиткой Иогансона 4 и воздушным клинообразным -азором 8 между плиткой 4 и пластинкой б интерференционный блок. Микрометрический механизм 7 позволяет плавно измснять величину воздушного клинообразного зазора 8.

Для измерения пьезодеформаций подают на исследуемый образец 1 электрическое поле. вследствие расширения (или сжатия) образца, плитка Иогансона 4 поворачивается на некоторый угол вокруг своей оси 9, в результате чего полосы интерференции (полосы равной толщины) в поле зрения окуляра 10

10 микроскопа 5 сместятся. По этому смещен ию рассчитывают пьезодеформацию образца.

Абсолютная погрешность определения пьезодеформаций не превышает + 2 ° 10-с см.

Предмет изобретения

Устройство для измерения деформаций пьезоэлектрических преобразователей, содержащее микроскоп и интерференционный блок, 20 отличающееся тем, что, с целью упрощения процесса измерений, исследуемый образец, например, находящийся в термокамере, соединен посредством штока с плиткой Иогансо»а, над которой в поле зрения микроскопа

25 размещена плоскопараллельная стеклянная пластинка, соединенная с микрометрическим механизмом, образующая совместно с плит«ой 1 Iогансона и воздушным клинообразным зазором между. плиткой и пластинкой интер30 ференционный блок

208777

7 6 4

Составитель В. Судариков

Редактор Ю. И. Петров Техред А. А. Камышникова Корректоры; А. И. Шпукова и Л. В. Наделяева

Заказ 343/IO Тираж 530 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2