Способ контроля электропроводности жидких полупроводящих сред
Реферат
Изобретение относится к измерительной технике - к области измерения и контроля электрофизических свойств жидких технологических сред. Жидкую полупроводящую среду помещают в переменное электромагнитное поле и измеряют один из параметров электромагнитного поля, по которому судят об электропроводности. Поле возбуждают в виде замедленной волны и измеряют величину затухания такой волны, по которой судят об электроповодности полупроводящей среды. Технический результат заключается в увеличении чувствительности и точности контроля относительно малой электропроводности жидких технологических сред. 2 ил.
Изобретение относится к измерительной технике, в частности к области измерения и контроля электрофизических свойств жидких технологических сред, и может быть использовано для контроля свойств полупроводящих органических жидкостей и нефтепродуктов.
Известен способ измерения электропроводности жидких полупроводящих сред и материалов, заключающийся в том, что в контролируемую среду помещают два электрода и измеряют сопротивление между ними, по которому судят о электропроводности контролируемой среды [1]. Недостатком известного способа является низкая чувствительность и точность измерения из-за сложной конфигурации силовых линий тока и быстрого загрязнения электродов. Наиболее близким техническим решением к предлагаемому является выбранный заявителем прототип - способ контроля электропроводности, заключающийся в том, что контролируемую среду помещают в электромагнитное поле высокой частоты и измеряют комплексное сопротивление, нагружающее источник электромагнитной энергии и зависящее от электропроводности среды [2]. Недостатком известного способа является низкая чувствительность контроля при малой проводимости среды, вызванная малыми потерями, а также большая температурная погрешность, вызванная нестабильностью диэлектрической проницаемости среды. Технической задачей, на решение которой направлено изобретение, является увеличение чувствительности и точности контроля относительно малой электропроводности жидких технологических сред и нефтепродуктов. Решение технической задачи достигается тем, что жидкую полупроводящую среду помещают в переменное электромагнитное поле и измеряют один из параметров электромагнитного поля, по которому судят о электропроводности, согласно изобретению электромагнитное поле возбуждают на участке измерения в виде замедленной волны и измеряют величину затухания такой волны, по которой судят о электропроводности полупроводящей среды, причем коэффициент замедления волны электромагнитного поля n, длина участка измерения l и измеряемое значение электропроводности связаны соотношением: (nl)3(10-4...10-2). Способ контроля электропроводности жидких полупроводящих сред иллюстрируется чертежами. На фиг.1 изображена структурная схема устройства для реализации способа контроля. На фиг.2 представлены экспериментальные графики зависимостей коэффициента затухания К3 от электропроводности контролируемых жидкостей с учетом концентрации раствора. Предлагаемый способ контроля осуществляется следующим образом. Контролируемую жидкую среду 1 пропускают вблизи поверхности замедляющей системы 2, подключенной к схеме измерения затухания электромагнитной энергии в виде согласующего шлейфа между измерительным генератором 3 электромагнитных колебаний высокой или сверхвысокой частоты и измерителем мощности 4. По измеренной величине затухания с помощью калибровочного графика или путем пересчета судят о электропроводности контролируемой жидкой полупроводящей среды. Величина объемной электропроводности контролируемой среды 1 определяется по измеренному значению коэффициента затухания К3, который пропорционален длине l замедляющей системы и измеряемой электропроводности . Возможность достижения поставленной цели подтверждается экспериментально - примерами контроля проводимости различных жидких сред. Графики зависимостей коэффициента затухания К3 (в децибелах) от электропроводности контролируемых жидкостей - водных растворов электролитов - обозначаются на фиг. 2 следующим образом: для NaCl - кривой А, для CuSO4 - кривой В и для водной суспензии моторного масла типа М6 - кривой С. Представленные зависимости получены экспериментально для различных концентраций указанных сред (5. ..25%) при температуре 20oС. В качестве чувствительного элемента использовалась спиральная замедляющая система с коэффициентом замедления 40 и длиной участка измерения 22 см. Из графиков, приведенных на фиг.2, следует, что при электропроводности растворов меньших 10-5 Сим/м, контроль проводимости сред затруднен в связи с малыми изменениями К3 от . В случае значений , превышающих 10-1 Сим/м, наступает насыщение, характеризуемое относительно большими и достаточно стабильными значениями электропроводности растворов при малых изменениях затухания, что приводит к снижению чувствительности и точности контроля. Таким образом, увеличение чувствительности и точности контроля относительно малой электропроводности жидких технологических сред и нефтепродуктов наиболее эффективно достигается при контроле предлагаемым способом значений удельных проводимостей в диапазоне 3(10-4...10-2)Сим/м, коэффициентах замедления n порядка 10...100 и интервалах длин участка измерения l=10-2...1 м. ИСТОЧНИКИ ИНФОРМАЦИИ 1. Левшина Е.С., Новицкий П.В. Электрические измерения физических величин. - Л.: Энергоатомиздат, 1983, С.232. 2. Левшина Е.С., Новицкий П.В. Электрические измерения физических величин. - Л.: Энергоатомиздат, 1983, С.235.Формула изобретения
Способ контроля электропроводности жидких полупроводящих сред, заключающийся в том, что полупроводящую среду помещают в переменное электромагнитное поле и измеряют один из параметров электромагнитного поля, по которому судят о электропроводности, отличающийся тем, что электромагнитное поле возбуждают в виде замедленной волны и измеряют величину затухания волны, по которой судят о электропроводности полупроводящей среды, при этом отношение контролируемого коэффициента электропроводности жидкой полупроводящей среды к фазовой скорости замедленной волны ф определяется соотношением где с - скорость света; l - длина участка контроля (измерения).РИСУНКИ
Рисунок 1, Рисунок 2