Патент ссср 221485

Патент ссср 221485

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

22I485

Союз Советских

Социалистических

Республик

".-ависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 20.1.1967 (№ 1127110/26-10) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 01.Ч11.1968. Бюллетень ¹ 21

Дата опубликования описания 8.Х.1968

Кл. 57с, 4. 1ПК C 081

УДЫ, 771.534.531.5(088.8) Комитет по делам изобретений н открытий при Совете 1йинистрое

СССР

Авторы изобретения

К. В. Вендровский, 1О. С. Андреев и А. И. Вейцман

Заявители

Всесоюзный научно-исследовательский кинофтоинститут и Всесоюзный научно-исследовательский институт химикофотографической промышленности

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОТНОСИТЕЛЬНЫХ ВЕЛИЧИН

ЭКСПОЗИЦИЙ, ДЕЙСТВОВАВШИХ НА ФОТОМАТЕРИАЛ

Известные способы определения величин экспозиций, действовавших на фотоматериал, ocHoBBHbI на фотометрировании почернений негатива, требуют дополнительных графических построений с использованием характеристической кривой фотоматериала.

Предлагаемый способ позволяет автоматизировать процесс определения. Он заключается в том, что, с помощью двух фотоэлектрических устройств одновременно фотометрирует исследуемый негатив и сенситометрический клин, изготовленный на той же пленке и обработанный в тех же условиях, что и негатив.

Частота считывания клина должна быть не менее, чем в 10 раз выше максимальной частоты изменения сигнала на выходе фотометра, сканирующего негатив. Этого можно достичь, например, установив клин перед экраном кинескопа с тем, чтобы при движении луча по экрану фотоумножитель, расположенный за клином, фиксировал изменения его коэффициентов пропускания.

Если закон распределения экспозиции вдоль оси клина во время его экспонирования линеен, то при движении луча по экрану кинескопа в любой момент времени напряжение на пластинах отклоняющей системы пропорционально экспозиции, подействовавшей на клин в точке, просматриваемой лучом кинескопа в данный момент времени.

Зависимость тока фотоэлемента от напряжения, управляющего движением луча, будет аналогична зависимости коэффициента пропускания пленки от экспозиции, наложенной на нее при съемке. Фотсэлектрические устройства согласуют таким образом, что сигналы .на их выходе равны в моменты равенства коэффициентов пропускания негатива и клина.

Если в эти моменты снимать мгновенные величины напряжения, управляющего лучом, считывающим клин, то при постоянной скорости фотометрирования негатива на выходе системы мы получим последовательность импульсов, огибающая которой соответствует распределению экспозиций на негативе во времч съемки.

На чертеже приведена схема устройства для осуществления предлагаемого способа.

Свет от источника 1, пройдя исследуемый

®О негатив 2, попадает на фотоэлемент основного фотометра 3. На экране кинескопа 4 генератором 5 развертывается вдоль оси клина световая точка. Закон изменения экспозиции вдоль клина 6 при его изготовлении линеен, а закон движения точки может быть произвольным. Свет, прошедший клин, воспринимается фотоэлементом вспомогательного фотометра 7. Сигналы с фотометров 8 и 7 подаются на нуль-индикатор 8, который при30 равенстве сигналов выдает управляющие им221485

Предмет изобретения !п|г; !! !

"О

Редактор П. Шлайн Техред A. А. Камыгпникова Корректор Л. В. Наделяева

Заказ 2849!5 Тираж 530 Подписное

ЦНИИПИ Комигста по дслам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2 пульсы. В,момент прохождения управляющих импульсов через параметрический модулятор

9 снимаются мгновенные значения напряжений на отклоняющих пластинах кинескопа. Огибающая модулированного сигнала, пропорциональная действовавшим экспозициям, детектируется амплитудным детектором 10, откуда может быть подана на регистрирующий прибор.

Описанный способ позволяет по распределению почернений фотоматериала получить распределение освещенностей на фотографируемом объекте и может быть и спользован в спектрографии, аэрофотографии, микробиологических и рентгенографических исследованиях.

Способ определения относительных величин экспозиц|ий, действовавших на фотоматериал, 5 путем поэлементного фотометрирования негатива, отличшощийся тем, что, с целью а втоматизации процесса, одновременно с фото|метрированием изображения на негативе производят сканирование изображения линей ного фоТ0 тогметричеакого клина, полученного на том же фотоматериале и обработанного в тех же условиях, с частотой, не менее чем на порядок превышающей ча|стоту развертки негатива, в момент равенства сигналов регистри15 руют мгновенные значения напряжений и выделяют огибающую полученных импульсов.