Стенд для проведения измерений параметров рефлектора

Стенд для проведения измерений параметров рефлектора

Реферат

Изобретение относится к радиотехнике, а более конкретно к области техники антенных измерений, преимущественно спутниковых антенн.

Известны стенды для измерения характеристических параметров антенн СВЧ (см. например, Бирюков Р.В., Манаенков Е.В. "Стенд для исследования характеристик направленности антенн СВЧ", 21 Гагаринские чтения: Сборник тезисов и докладов молодежно-научной конференции, Москва, 4-8 апреля 1995 г. Ч.5 - М. 1995 - С.82-84 - Рус.), содержащие безэховую камеру, предназначенную для проведения антенных измерений и проверки на электромагнитную совместимость, и оборудование для установки, крепления и перемещения антенн при проведении исследований характеристик направленности антенн СВЧ.

Недостатком известного стенда является низкая точность результатов измерений параметров рефлекторов.

Известен также, например, стенд для проведения измерений параметров модулированных высокочастотных рефлекторов, используемый при осуществлении способа определения параметров модулированных ВЧ-рефлекторов и описанный в патенте Австрии №400650, МКИ⁶ H 01 Q 15/14 от 9.09.1994 г., выбранный в качестве прототипа, и содержащий безэховую камеру, включающую рефлектор, приемную технологическую антенну и систему передающих рупорных облучателей.

Он предназначен для определения характеристических параметров пассивных модулированных ВЧ-рефлекторов, в частности их эквивалентного поперечного сечения, рабочей частоты и ширины полос частот. Рефлектор размещается в безэховой камере на расстоянии дальней зоны от передающей и приемной антенн. Электромагнитные волны, излучаемые передающей антенной и отраженные от рефлектора, поступают в приемную антенну и в векторной форме - в измерительную аппаратуру. В случае ВЧ-рефлектора, например, с бинарной модуляцией сначала производится калибровочное измерение с эталонным рефлектором, а затем измеряется исследуемый рефлектор при двух режимах модуляции. Векторные результаты измерений заносятся в запоминающее устройство и далее используются для определения искомых параметров.

Однако известный стенд не обеспечивает необходимую точность измерений параметров рефлекторов из-за низкого качества и сложности настройки антенн, размещаемых в безэховой камере.

Задачей настоящего изобретения является создание такого стенда для исследования и проведения измерений параметров рефлектора, который обеспечивал бы качественное проведение исследований и повышенную точность результатов измерений параметров рефлектора.

Технический результат достигается тем, что на стенде для проведения измерений параметров рефлектора, содержащем безэховую камеру, включающую рефлектор, приемную технологическую антенну и систему передающих рупорных облучателей, в отличие от известного, безэховая камера снабжена системой натяжных и регулировочных тросов, выполненных из упругого радиопрозрачного материала, на которых закреплена с возможностью перемещения посредством регулирования длины тросов приемная технологическая антенна, оптическая ось которой направлена перпендикулярно фазовому фронту отражаемой рефлектором электромагнитной волны, при этом система передающих рупорных облучателей подсоединена к регулировочному тросу и установлена на консоли, которая выполнена из прочного жесткого радиопрозрачного материала и закреплена на стене безэховой камеры.

Использование предлагаемого стенда для исследования и проведения измерений параметров рефлектора, например, при проведении исследований и проведении измерений характеристических параметров пассивных модулированных ВЧ- и СВЧ-рефлекторов, используемых для спутниковых антенн, позволит дать значительный экономический эффект за счет повышения качества исследований и точности измерений характеристических параметров пассивных модулированных ВЧ- и СВЧ-рефлекторов.

Сущность изобретения поясняется чертежом. Стенд для исследования и проведения измерений параметров рефлектора содержит безэховую камеру 1, включающую рефлектор 2, приемную технологическую антенну 3 и систему передающих рупорных облучателей 4.

Безэховая камера 1 снабжена системой натяжных тросов 5 и регулировочных тросов 6, 7, выполненных из упругого радиопрозрачного материала, например капрона. На натяжных тросах 5 закреплена с возможностью перемещения посредством регулирования длины тросов 5, 6 приемная технологическая антенна 3, причем ее оптическая ось 8 направлена перпендикулярно фазовому фронту отражаемой рефлектором 2 электромагнитной волны 9. Система передающих рупорных облучателей 4 подсоединена к регулировочному тросу 7 и установлена на консоли 10, которая выполнена из прочного жесткого материала, пропускающего радиоволны - радиопрозрачного материала, например древесины, и закреплена на стене 11 безэховой камеры 1, стенд снабжен натяжными устройствами 12, например, выполненными в виде лебедок для обеспечения натяжения и регулирования длины тросов 5, 6, 7 при регулировании и настройке приемной технологической антенны 3 и системы передающих рупорных облучателей 4 относительно рефлектора 2. Зона сканирования обозначена буквой l. Натяжной трос 5 и регулировочные тросы 6, 7 подвешены на блоках кронштейнов 13, выполненных из прочного жесткого радиопрозрачного материала (древесины) и закрепленных на стенах 14, 15.

Работает стенд для исследования и проведения измерений параметров пассивной следующим образом.

Для исследования и определения характеристических параметров пассивных модулированных СВЧ-рефлекторов, рефлектор 2 размещают в безэховой камере 1 на расстоянии дальней зоны от системы передающих рупорных облучателей и приемной технологической антенны 3, во время чего посредством регулировочного троса 6 перемещают относительно рефлектора 2 приемную технологическую антенну 3, закрепленную на натяжных тросах 5 с возможностью перемещения посредством регулирования длины тросов 5, 6, устанавливают ее таким образом, что оптическая ось 8 приемной технологической антенны 3 направлена перпендикулярно фазовому фронту отражаемой рефлектором 2 электромагнитной волны 9, а угол α между вертикалью и оптической осью 8 приемной технологической антенны 3 определяется расчетным путем и составляет величину от 15° до 35°, при этом систему передающих рупорных облучателей 4, имеющих общую фокальную точку 16, устанавливают на консоли 10 и посредством регулировочного троса 7 производят настройку относительно рефлектора 2. При расчете угла β между оптической осью 17 системы передающих рупорных облучателей 4 и вертикалью учитывают координаты фокальной точки рупорных облучателей относительно фокуса рефлектора, при этом фокальная точка рупорных облучателей должна находиться в сфере с минимальным расчетным радиусом, например, 200 мм, с центром в фокусе рефлектора. Расчетная величина угла β составляет от 20° до 30°.

Электромагнитные волны, излучаемые системой передающих рупорных облучателей 4 и отраженные от рефлектора 2, поступают в приемную технологическую антенну 3 и в векторной форме в измерительную аппаратуру, аналогичную описанной в патенте SU 5473333, МПК: G 01 S 3/16, 04.01.1995. Векторные результаты измерений заносятся в запоминающее устройство и далее используются для определения искомых параметров рефлектора 2. Таким образом, предлагаемый стенд обеспечивает качественное проведение исследований и повышенную точность результатов измерений параметров рефлектора.

Стенд для проведения измерений параметров рефлектора, включающий безэховую камеру, содержащую рефлектор, приемную технологическую антенну и систему передающих рупорных облучателей, отличающийся тем, что безэховая камера снабжена системой натяжных и регулировочных тросов, выполненных из упругого радиопрозрачного материала, на которых закреплена с возможностью перемещения посредством регулирования длины тросов приемная технологическая антенна, оптическая ось которой направлена перпендикулярно фазовому фронту отражаемой рефлектором электромагнитной волны, при этом система передающих рупорных облучателей подсоединена к регулировочному тросу для ее настройки относительно рефлектора и закреплена на консоли, которая выполнена из прочного жесткого радиопрозрачного материала и закреплена на стенке безэховой камеры.