Стереологический способ определения пространственной корреляции вытянутых объектов

Стереологический способ определения пространственной корреляции вытянутых объектов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

Текст описания приведен в факсимильном виде.

1. Стереологический способ определения пространственной корреляции вытянутых объектов, отличающийся тем, что из тела, материала или среды, содержащего (содержащей) исследуемые объекты, изготавливают образец, на котором могут быть найдены профили сечения объектов; на получаемом образце выбирают область для анализа профилей сечения объектов (далее - окно); в окне находят профили сечения объектов; совокупность профилей сечения объектов в окне представляют в виде плоскостного точечного процесса, точки которого характеризуют расположение профилей сечения объектов; для данного плоскостного точечного процесса рассчитывают функцию парной корреляции, являющуюся оценкой редуцированной функции парной корреляции исследуемых объектов в пространстве; по редуцированной функции парной корреляции объектов в пространстве делают заключение о пространственной корреляции исследуемых объектов в содержащем их теле, материале или среде.

2. Способ по п.1, отличающийся тем, что для любой из точек, формирующих плоскостной точечный процесс, определяют плоскостные координаты (х, y), по значениям которых рассчитывают функцию парной корреляции плоскостного точечного процесса.

3. Способ по п.2, отличающийся тем, что координаты расположения точек могут быть измерены любым из следующего образом либо любой комбинацией из следующего: а) линейкой по фотографии, б) по шкале предметного столика микроскопа, позволяющей отслеживать перемещение исследуемого образца, в) посредством перемещения плоскости фокусировки микроскопа по толщине исследуемого образца, г) по количественным данным томографии, д) по количественным данным микроскопии, е) с помощью анализатора изображений.

4. Способ по п.1, отличающийся тем, что для плоскостного точечного процесса определяют расстояния между его точками; по этим расстояниям рассчитывают функцию парной корреляции плоскостного точечного процесса.

5. Способ по п.2, отличающийся тем, что для плоскостного точечного процесса определяют расстояния между его точками; по этим расстояниям рассчитывают функцию парной корреляции плоскостного точечного процесса.

6. Способ по п.3, отличающийся тем, что для плоскостного точечного процесса определяют расстояния между его точками; по этим расстояниям рассчитывают функцию парной корреляции плоскостного точечного процесса.

7. Способ по любому из пп.1-6, отличающийся тем, что окно включает в себя весь образец.

8. Способ по п.7, отличающийся тем, что окно имеет форму в виде любого из следующего: а) прямоугольника, б) квадрата, в) треугольника, г) ромба, д) круга, е) эллипса, ж) другую форму.

9. Способ по любому из пп.1-6, отличающийся тем, что на образце выбирают несколько окон для анализа профилей сечения объектов, в каждом из которых находят профили сечения объектов.

10. Способ по п.9, отличающийся тем, что любое из окон имеет форму в виде любого из следующего: а) прямоугольника, б) квадрата, в) треугольника, г) ромба, д) круга, е) эллипса, ж) другую форму.

11. Способ по любому из пп.1-6, 8 и 10, отличающийся тем, что определяют количество точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов в пределах окна.

12. Способ по п.7, отличающийся тем, что определяют количество точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов в пределах окна.

13. Способ по п.9, отличающийся тем, что определяют количество точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов в пределах окна.

14. Способ по любому из пп.1-6, 8, 10, 12 и 13, отличающийся тем, что измеряют размер или размеры окна, в частности любой из следующих размеров либо любую комбинацию из следующих размеров: а) длину, б) ширину, в) высоту, г) площадь, д) периметр, е) длину диагонали, ж) осевое соотношение, з) радиус, и) диаметр, к) эксцентриситет, л) межфокусное расстояние.

15. Способ по п.7, отличающийся тем, что измеряют размер или размеры окна, в частности любой из следующих размеров либо любую комбинацию из следующих размеров: а) длину, б) ширину, в) высоту, г) площадь, д) периметр, е) длину диагонали, ж) осевое соотношение, з) радиус, и) диаметр, к) эксцентриситет, л) межфокусное расстояние.

16. Способ по п.9, отличающийся тем, что измеряют размер или размеры окна, в частности любой из следующих размеров либо любую комбинацию из следующих размеров: а) длину, б) ширину, в) высоту, г) площадь, д) периметр, е) длину диагонали, ж) осевое соотношение, з) радиус, и) диаметр, к) эксцентриситет, л) межфокусное расстояние.

17. Способ по п.11, отличающийся тем, что измеряют размер или размеры окна, в частности любой из следующих размеров либо любую комбинацию из следующих размеров: а) длину, б) ширину, в) высоту, г) площадь, д) периметр, е) длину диагонали, ж) осевое соотношение, з) радиус, и) диаметр, к) эксцентриситет, л) межфокусное расстояние.

18. Способ по любому из пп.1-6, 8, 10, 12, 13, 15-17, отличающийся тем, что размеры любого из окон представляют в виде любого из следующего или в виде любой комбинации из следующего: а) плоскостных координат (х, y) углов окна, б) плоскостных координат (х, y) других опорных точек окна.

19. Способ по п.7, отличающийся тем, что размеры любого из окон представляют в виде любого из следующего или в виде любой комбинации из следующего: а) плоскостных координат (х, y) углов окна, б) плоскостных координат (х, y) других опорных точек окна.

20. Способ по п.9, отличающийся тем, что размеры любого из окон представляют в виде любого из следующего или в виде любой комбинации из следующего: а) плоскостных координат (х, y) углов окна, б) плоскостных координат (х, y) других опорных точек окна.

21. Способ по п.11, отличающийся тем, что размеры любого из окон представляют в виде любого из следующего или в виде любой комбинации из следующего: а) плоскостных координат (х, y) углов окна, б) плоскостных координат (х, y) других опорных точек окна.

22. Способ по п.14, отличающийся тем, что размеры любого из окон представляют в виде любого из следующего или в виде любой комбинации из следующего: а) плоскостных координат (х, y) углов окна, б) плоскостных координат (х, y) других опорных точек окна.

23. Способ по любому из пп.1-6, 8, 10, 12, 13, 15-17, 19-22, отличающийся тем, что при измерении размера (размеров) любого из окон используется любой из следующих методов либо любая комбинация из следующих методов: а) измерение линейкой, б) измерение по количеству пикселей (плоскостных элементов изображения), в) измерение по количеству вокселей (объемных элементов изображения), г) измерение по шкале предметного столика микроскопа, позволяющей отслеживать перемещение исследуемого образца (координаты х, у), д) измерение по количественным данным томографии, е) измерение по количественным данным микроскопии, ж) измерение с помощью анализатора изображений.

24. Способ по п.7, отличающийся тем, что при измерении размера (размеров) любого из окон используется любой из следующих методов либо любая комбинация из следующих методов: а) измерение линейкой, б) измерение по количеству пикселей (плоскостных элементов изображения), в) измерение по количеству вокселей (объемных элементов изображения), г) измерение по шкале предметного столика микроскопа, позволяющей отслеживать перемещение исследуемого образца (координаты х, y), д) измерение по количественным данным томографии, е) измерение по количественным данным микроскопии, ж) измерение с помощью анализатора изображений.

25. Способ по п.9, отличающийся тем, что при измерении размера (размеров) любого из окон используется любой из следующих методов либо любая комбинация из следующих методов: а) измерение линейкой, б) измерение по количеству пикселей (плоскостных элементов изображения), в) измерение по количеству вокселей (объемных элементов изображения), г) измерение по шкале предметного столика микроскопа, позволяющей отслеживать перемещение исследуемого образца (координаты х, y), д) измерение по количественным данным томографии, е) измерение по количественным данным микроскопии, ж) измерение с помощью анализатора изображений.

26. Способ по п.11, отличающийся тем, что при измерении размера (размеров) любого из окон используется любой из следующих методов либо любая комбинация из следующих методов: а) измерение линейкой, б) измерение по количеству пикселей (плоскостных элементов изображения), в) измерение по количеству вокселей (объемных элементов изображения), г) измерение по шкале предметного столика микроскопа, позволяющей отслеживать перемещение исследуемого образца (координаты х, y), д) измерение по количественным данным томографии, е) измерение по количественным данным микроскопии, ж) измерение с помощью анализатора изображений.

27. Способ по п.14, отличающийся тем, что при измерении размера (размеров) любого из окон используется любой из следующих методов либо любая комбинация из следующих методов: а) измерение линейкой, б) измерение по количеству пикселей (плоскостных элементов изображения), в) измерение по количеству вокселей (объемных элементов изображения), г) измерение по шкале предметного столика микроскопа, позволяющей отслеживать перемещение исследуемого образца (координаты х, y), д) измерение по количественным данным томографии, е) измерение по количественным данным микроскопии, ж) измерение с помощью анализатора изображений.

28. Способ по п.18, отличающийся тем, что при измерении размера (размеров) любого из окон используется любой из следующих методов либо любая комбинация из следующих методов: а) измерение линейкой, б) измерение по количеству пикселей (плоскостных элементов изображения), в) измерение по количеству вокселей (объемных элементов изображения), г) измерение по шкале предметного столика микроскопа, позволяющей отслеживать перемещение исследуемого образца (координаты х, y), д) измерение по количественным данным томографии, е) измерение по количественным данным микроскопии, ж) измерение с помощью анализатора изображений.

29. Способ по любому из пп.1-6, 8, 10, 12, 13, 15-17, 19-22, 24-28, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются любым из следующего либо любой комбинацией из следующего: а) физическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, б) физическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов, в) оптическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, г) оптическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов.

30. Способ по п.7, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются любым из следующего либо любой комбинацией из следующего: а) физическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, б) физическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов, в) оптическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, г) оптическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов.

31. Способ по п.9, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются любым из следующего либо любой комбинацией из следующего: а) физическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, б) физическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов, в) оптическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, г) оптическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов.

32. Способ по п.11, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются любым из следующего либо любой комбинацией из следующего: а) физическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, б) физическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов, в) оптическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, г) оптическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов.

33. Способ по п.14, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются любым из следующего либо любой комбинацией из следующего: а) физическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, б) физическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов, в) оптическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, г) оптическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов.

34. Способ по п.18, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются любым из следующего либо любой комбинацией из следующего: а) физическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, б) физическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов, в) оптическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, г) оптическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов.

35. Способ по п.23, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются любым из следующего либо любой комбинацией из следующего: а) физическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, б) физическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов, в) оптическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, г) оптическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов.

36. Способ по любому из пп.1-6, 8, 10, 12, 13, 15-17, 19-22, 24-28, 30-35, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются изображениями, получаемыми с использованием любого из следующего: а) световой микроскопии, б) трансмиссионной электронной микроскопии, в) другой электронной микроскопии, г) конфокальной лазерной сканирующей микроскопии, д) рентгеновской компьютерной томографии, е) рентгеновской компьютерной микротомографии, ж) рентгеновской компьютерной микроскопии, з) магнитно-резонансной томографии, и) магнитно-резонансной микротомографии, к) магнитно-резонансной микроскопии, л) позитронно-эмиссионной томографии, м) однофотонной эмиссионной компьютерной томографии (SPECT), н) ультразвуковой томографии, о) ультразвуковой микроскопии, п) другого ультразвукового метода исследования, р) другого вида томографии, с) другого вида микроскопии.

37. Способ по п.7, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются изображениями, получаемыми с использованием любого из следующего: а) световой микроскопии, б) трансмиссионной электронной микроскопии, в) другой электронной микроскопии, г) конфокальной лазерной сканирующей микроскопии, д) рентгеновской компьютерной томографии, е) рентгеновской компьютерной микротомографии, ж) рентгеновской компьютерной микроскопии, з) магнитно-резонансной томографии, и) магнитно-резонансной микротомографии, к) магнитно-резонансной микроскопии, л) позитронно-эмиссионной томографии, м) однофотонной эмиссионной компьютерной томографии (SPECT), н) ультразвуковой томографии, о) ультразвуковой микроскопии, п) другого ультразвукового метода исследования, р) другого вида томографии, с) другого вида микроскопии.

38. Способ по п.9, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются изображениями, получаемыми с использованием любого из следующего: а) световой микроскопии, б) трансмиссионной электронной микроскопии, в) другой электронной микроскопии, г) конфокальной лазерной сканирующей микроскопии, д) рентгеновской компьютерной томографии, е) рентгеновской компьютерной микротомографии, ж) рентгеновской компьютерной микроскопии, з) магнитно-резонансной томографии, и) магнитно-резонансной микротомографии, к) магнитно-резонансной микроскопии, л) позитронно-эмиссионной томографии, м) однофотонной эмиссионной компьютерной томографии (SPECT), и) ультразвуковой томографии, о) ультразвуковой микроскопии, п) другого ультразвукового метода исследования, р) другого вида томографии, с) другого вида микроскопии.

39. Способ по п.11, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются изображениями, получаемыми с использованием любого из следующего: а) световой микроскопии, б) трансмиссионной электронной микроскопии, в) другой электронной микроскопии, г) конфокальной лазерной сканирующей микроскопии, д) рентгеновской компьютерной томографии, е) рентгеновской компьютерной микротомографии, ж) рентгеновской компьютерной микроскопии, з) магнитно-резонансной томографии, и) магнитно-резонансной микротомографии, к) магнитно-резонансной микроскопии, л) позитронно-эмиссионной томографии, м) однофотонной эмиссионной компьютерной томографии (SPECT), н) ультразвуковой томографии, о) ультразвуковой микроскопии, п) другого ультразвукового метода исследования, р) другого вида томографии, с) другого вида микроскопии.

40. Способ по п.14, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются изображениями, получаемыми с использованием любого из следующего: а) световой микроскопии, б) трансмиссионной электронной микроскопии, в) другой электронной микроскопии, г) конфокальной лазерной сканирующей микроскопии, д) рентгеновской компьютерной томографии, е) рентгеновской компьютерной микротомографии, ж) рентгеновской компьютерной микроскопии, з) магнитно-резонансной томографии, и) магнитно-резонансной микротомографии, к) магнитно-резонансной микроскопии, л) позитронно-эмиссионной томографии, м) однофотонной эмиссионной компьютерной томографии (SPECT), н) ультразвуковой томографии, о) ультразвуковой микроскопии, п) другого ультразвукового метода исследования, р) другого вида томографии, с) другого вида микроскопии.

41. Способ по п.18, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются изображениями, получаемыми с использованием любого из следующего: а) световой микроскопии, б) трансмиссионной электронной микроскопии, в) другой электронной микроскопии, г) конфокальной лазерной сканирующей микроскопии, д) рентгеновской компьютерной томографии, е) рентгеновской компьютерной микротомографии, ж) рентгеновской компьютерной микроскопии, з) магнитно-резонансной томографии, и) магнитно-резонансной микротомографии, к) магнитно-резонансной микроскопии, л) позитронно-эмиссионной томографии, м) однофотонной эмиссионной компьютерной томографии (SPECT), н) ультразвуковой томографии, о) ультразвуковой микроскопии, п) другого ультразвукового метода исследования, р) другого вида томографии, с) другого вида микроскопии.

42. Способ по п.23, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются изображениями, получаемыми с использованием любого из следующего: а) световой микроскопии, б) трансмиссионной электронной микроскопии, в) другой электронной микроскопии, г) конфокальной лазерной сканирующей микроскопии, д) рентгеновской компьютерной томографии, е) рентгеновской компьютерной микротомографии, ж) рентгеновской компьютерной микроскопии, з) магнитно-резонансной томографии, и) магнитно-резонансной микротомографии, к) магнитно-резонансной микроскопии, л) позитронно-эмиссионной томографии, м) однофотонной эмиссионной компьютерной томографии (SPECT), н) ультразвуковой томографии, о) ультразвуковой микроскопии, п) другого ультразвукового метода исследования, р) другого вида томографии, с) другого вида микроскопии.

43. Способ по п.29, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются изображениями, получаемыми с использованием любого из следующего: а) световой микроскопии, б) трансмиссионной электронной микроскопии, в) другой электронной микроскопии, г) конфокальной лазерной сканирующей микроскопии, д) рентгеновской компьютерной томографии, е) рентгеновской компьютерной микротомографии, ж) рентгеновской компьютерной микроскопии, з) магнитно-резонансной томографии, и) магнитно-резонансной микротомографии, к) магнитно-резонансной микроскопии, л) позитронно-эмиссионной томографии, м) однофотонной эмиссионной компьютерной томографии (SPECT), н) ультразвуковой томографии, о) ультразвуковой микроскопии, п) другого ультразвукового метода исследования, р) другого вида томографии, с) другого вида микроскопии.

44. Способ по любому из пп.1-6, 8, 10, 12, 13, 15-17, 19-22, 24-28, 30-35, 37-43, отличающийся тем, что образцом тела, материала или среды, содержащего (содержащей) исследуемые объекты, является любое из следующего: а) гистологический срез, б) полутонкий срез, в) ультратонкий срез, г) другой срез, д) металлографический шлиф, е) другой шлиф, ж) металлографическая реплика, з) другая реплика, и) фольга, к) порошковая проба, л) другая обработанная поверхность изучаемого тела, материала или среды.

45. Способ по п.7, отличающийся тем, что образцом тела, материала или среды, содержащего (содержащей) исследуемые объекты, является любое из следующего: а) гистологический срез, б) полутонкий срез, в) ультратонкий срез, г) другой срез, д) металлографический шлиф, е) другой шлиф, ж) металлографическая реплика, з) другая реплика, и) фольга, к) порошковая проба, л) другая обработанная поверхность изучаемого тела, материала или среды.

46. Способ по п.9, отличающийся тем, что образцом тела, материала или среды, содержащего (содержащей) исследуемые объекты, является любое из следующего: а) гистологический срез, б) полутонкий срез, в) ультратонкий срез, г) другой срез, д) металлографический шлиф, е) другой шлиф, ж) металлографическая реплика, з) другая реплика, и) фольга, к) порошковая проба, л) другая обработанная поверхность изучаемого тела, материала или среды.

47. Способ по п.11, отличающийся тем, что образцом тела, материала или среды, содержащего (содержащей) исследуемые объекты, является любое из следующего: а) гистологический срез, б) полутонкий срез, в) ультратонкий срез, г) другой срез, д) металлографический шлиф, е) другой шлиф, ж) металлографическая реплика, з) другая реплика, и) фольга, к) порошковая проба, л) другая обработанная поверхность изучаемого тела, материала или среды.

48. Способ по п.14, отличающийся тем, что образцом тела, материала или среды, содержащего (содержащей) исследуемые объекты, является любое из следующего: а) гистологический срез, б) полутонкий срез, в) ультратонкий срез, г) другой срез, д) металлографический шлиф, е) другой шлиф, ж) металлографическая реплика, з) другая реплика, и) фольга, к) порошковая проба, л) другая обработанная поверхность изучаемого тела, материала или среды.

49. Способ по п.18, отличающийся тем, что образцом тела, материала или среды, содержащего (содержащей) исследуемые объекты, является любое из следующего: а) гистологический срез, б) полутонкий срез, в) ультратонкий срез, г) другой срез, д) металлографический шлиф, е) другой шлиф, ж) металлографическая реплика, з) другая реплика, и) фольга, к) порошковая проба, л) другая обработанная поверхность изучаемого тела, материала или среды.

50. Способ по п.23, отличающийся тем, что образцом тела, материала или среды, содержащего (содержащей) исследуемые объекты, является любое из следующего: а) гистологический срез, б) полутонкий срез, в) ультратонкий срез, г) другой срез, д) металлографический шлиф, е) другой шлиф, ж) металлографическая реплика, з) другая реплика, и) фольга, к) порошковая проба, л) другая обработанная поверхность изучаемого тела, материала или среды.

51. Способ по п.29, отличающийся тем, что образцом тела, материала или среды, содержащего (содержащей) исследуемые объекты, является любое из следующего: а) гистологический срез, б) полутонкий срез, в) ультратонкий срез, г) другой срез, д) металлографический шлиф, е) другой шлиф, ж) металлографическая реплика, з) другая реплика, и) фольга, к) порошковая проба, л) другая обработанная поверхность изучаемого тела, материала или среды.

52. Способ по п.36, отличающийся тем, что образцом тела, материала или среды, содержащего (содержащей) исследуемые объекты, является любое из следующего: а) гистологический срез, б) полутонкий срез, в) ультратонкий срез, г) другой срез, д) металлографический шлиф, е) другой шлиф, ж) металлографическая реплика, з) другая реплика, и) фольга, к) порошковая проба, л) другая обработанная поверхность изучаемого тела, материала или среды.

53. Способ по любому из пп.1-6, 8, 10, 12, 13, 15-17, 19-22, 24-28, 30-35, 37-43, 45-52, отличающийся тем, что образец подвергают обработке, например любому из следующего: а) окрашиванию, б) контрастированию, в) просветлению, г) обезвоживанию, д) иммуногистохимической обработке, е) другой иммунологической обработке, ж) обработке ферментами, з) напылению металлом.

54. Способ по п.7, отличающийся тем, что образец подвергают обработке, например любому из следующего: а) окрашиванию, б) контрастированию, в) просветлению, г) обезвоживанию, д) иммуногистохимической обработке, е) другой иммунологической обработке, ж) обработке ферментами, з) напылению металлом.

55. Способ по п.9, отличающийся тем, что образец подвергают обработке, например любому из следующего: а) окрашиванию, б) контрастированию, в) просветлению, г) обезвоживанию, д) иммуногистохимической обработке, е) другой иммунологической обработке, ж) обработке ферментами, з) напылению металлом.

56. Способ по п.11, отличающийся тем, что образец подвергают обработке, например любому из следующего: а) окрашиванию, б) контрастированию, в) просветлению, г) обезвоживанию, д) иммуногистохимической обработке, е) другой иммунологической обработке, ж) обработке ферментами, з) напылению металлом.

57. Способ по п.14, отличающийся тем, что образец подвергают обработке, например любому из следующего: а) окрашиванию, б) контрастированию, в) просветлению, г) обезвоживанию, д) иммуногистохимической обработке, е) другой иммунологической обработке, ж) обработке ферментами, з) напылению металлом.

58. Способ по п.18, отличающийся тем, что образец подвергают обработке, например любому из следующего: а) окрашиванию, б) контрастированию, в) просветлению, г) обезвоживанию, д) иммуногистохимической обработке, в) другой иммунологической обработке, ж) обработке ферментами, з) напылению металлом.

59. Способ по п.23, отличающийся тем, что образец подвергают обработке, например любому из следующего: а) окрашиванию, б) контрастированию, в) просветлению, г) обезвоживанию, д) иммуногистохимической обработке, е) другой иммунологической обработке, ж) обработке ферментами, з) напылению металлом.

60. Способ по п.29, отличающийся тем, что образец подвергают обработке, например любому из следующего: а) окрашиванию, б) контрастированию, в) просветлению, г) обезвоживанию, д) иммуногистохимической обработке, е) другой иммунологической обработке, ж) обработке ферментами, з) напылению металлом.

61. Способ по п.36, отличающийся тем, что образец подвергают обработке, например любому из следующего: а) окрашиванию, б) контрастированию, в) просветлению, г) обезвоживанию, д) иммуногистохимической обработке, е) другой иммунологической обработке, ж) обработке ферментами, з) напылению металлом.

62. Способ по п.44, отличающийся тем, что образец подвергают обработке, например любому из следующего: а) окрашиванию, б) контрастированию, в) просветлению, г) обезвоживанию, д) иммуногастохимической обработке, е) другой иммунологической обработке, ж) обработке ферментами, з) напылению металлом.

63. Способ по любому из пп.1-6, 8, 10, 12, 13, 15-17, 19-22, 24-28, 30-35, 37-43, 45-52, 54-62, отличающийся тем, что окно представляют в виде изображения, по которому производят дальнейший анализ объектов; при необходимости изображение окна увеличивают в размерах.

64. Способ по п.7, отличающийся тем, что окно представляют в виде изображения, по которому производят дальнейший анализ объектов; при необходимости изображение окна увеличивают в размерах.

65. Способ по п.9, отличающийся тем, что окно представляют в виде изображения, по которому производят дальнейший анализ объектов; при необходимости изображение окна увеличивают в размерах.

66. Способ по п.11, отличающийся тем, что окно представляют в виде изображения, по которому производят дальнейший анализ объектов; при необходимости изображение окна увеличивают в размерах.

67. Способ по п.14, отличающийся тем, что окно представляют в виде изображения, по которому производят дальнейший анализ объектов; при необходимости изображение окна увеличивают в размерах.

68. Способ по п.18, отличающийся тем, что окно представляют в виде изображения, по которому производят дальнейший анализ объектов; при необходимости изображение окна увеличивают в размерах.

69. Способ по п.23, отличающийся тем, что окно представляют в виде изображения, по которому производят дальнейший анализ объектов; при необходимости изображение окна увеличивают в размерах.

70. Способ по п.29, отличающийся тем, что окно представляют в виде изображения, по которому производят дальнейший анализ объектов; при необходимости изображение окна увеличивают в размерах.

71. Способ по п.36, отличающийся тем, что окно представляют в виде изображения, по которому производят дальнейший анализ объектов; при необходимости изображение окна увеличивают в размерах.

72. Способ по п.44, отличающийся тем, что окно представляют в виде изображения, по которому производят дальнейший анализ объектов; при необходимости изображение окна увеличивают в размерах.

73. Способ по п.53, отличающийся тем, что окно представляют в виде изображения, по которому производят дальнейший анализ объектов; при необходимости изображение окна увеличивают в размерах.

74. Способ по любому из пп.1-6, 8, 10, 12, 13, 15-17, 19-22, 24-28, 30-35, 37-43, 45-52, 54-62, 64-73, отличающийся тем, что изображение окна, содержащего изображения профилей сечения объектов, представляют на любом из следующего: на а) фотографии, б) цифровом снимке, в) томограмме, г) сканограмме, д) видеоизображении, е) поле зрения микроскопа.

75. Способ по п.7, отличающийся тем, что изображение окна, содержащего изображения профилей сечения объектов, представляют на любом из следующего: на а) фотографии, б) цифровом снимке, в) томограмме, г) еканограмме, д) видеоизображении, е) поле зрения микроскопа.

76. Способ по п.9, отличающийся тем, что изображение окна, содержащего изображения профилей сечения объектов, представляют на любом из следующего: на а) фотографии, б) цифровом снимке, в) томограмме, г) сканограмме, д) видеоизображении, е) поле зрения микроскопа.

77. Способ по п.11, отличающийся тем, что изображение окна, содержащего изображения профилей сечения объектов, представляют на любом из следующего: на а) фотографии, б) цифровом снимке, в) томограмме, г) сканограмме, д) видеоизображении, е) поле зрения микроскопа.

78. Способ по п.14, отличающийся тем, что изображение окна, содержащего изображения профилей сечения объектов, представляют на любом из следующего: на а) фотографии, б) цифровом снимке, в) томограмме, г) сканограмме, д) видеоизображении, е) поле зрения микроскопа.

79. Способ по п.18, отличающийся тем, что изображение окна, содержащего изображения профилей сечения объектов, представляют на любом из следующего: на а) фотографии, б) цифровом снимке, в) томограмме, г) сканограмме, д) видеоизображении, е) поле зрения микроскопа.

80. Способ по п.23, отличающийся тем, что изображение окна, содержащего изображения профилей сечения объектов, представляют на любом из следующего: на а) фотографии, б) цифровом снимке, в) томограмме, г) сканограмме, д) видеоизображении, е) поле зрения микроскопа.

81. Способ по п.29, отличающийся тем, что изображение окна, содержащего изображения профилей сечения объектов, представляют на любом из следующего: на а) фотографии, б) цифровом снимке, в) томограмме, г) сканограмме, д) видеоизображении, е) поле зрения микроскопа.

82. Способ по п.36, отличающийся тем, что изображение окна, содержащего изображения профилей сечения объектов, представляют на любом из следующего: на а) фотографии, б) цифровом снимке, в) томограмме, г) сканограмме, д) видеоизображении, е) поле зрения микроскопа.

83. Способ по п.44, отличающийся тем, что изображение окна, содержащего изображения профилей сечения объектов, представляют на любом из следующего: на а) фотографии, б) цифровом снимке, в) томограмме, г) сканограмме, д) видеоизображении, е) поле зрения микроскопа.

84. Способ по п.53, отличающийся тем, что изображение окна, содержащего изображения профилей сечения объектов, представляют на любом из следующего: на а) фотографии, б) цифровом снимке, в) томограмме, г) сканограмме, д) видеоизображении, е) поле зрения микроскопа.

85. Способ по п.63, отличающийся тем, что изображение окна, содержащего изображения профилей сечения объектов, представляют на любом из следующего: на а) фотографии, б) цифровом снимке, в) томограмме, г) сканограмме, д) видеоизображении, е) поле зрения микроскопа.

86. Способ по любому из пп.1-6, 8, 10, 12, 13, 15-17, 19-22, 24-28, 30-35, 37-43, 45-52, 54-62, 64-73, 75-85, отличающийся тем, что в качестве точки, характеризующей расположение профиля сечения объекта, используют любое из следующего или любую комбинацию из следующего: а) центральную точку профиля сечения, б) центр тяжести профиля сечения, в) начальную точку профиля сечения, г) конечную точку профиля сечения, д) точку максимальной кривизны профиля сечения, е) точку минимальной кривизны профиля сечения, ж) точку средней кривизны профиля сечения, з) любую другую точку, связанную с кривизной профиля сечения, и) точку пересечения двух или нескольких диаметров профиля сечения, к) точку, связанную с любой из перечисленных, л) любую другую точку, характеризующую расположение профиля сечения.

87. Способ по п.7, отличающийся тем, что в качестве точки, характеризующей расположение профиля сечения объекта, используют любое из следующего или любую комбинацию из следующего: а) центральную точку профиля сечения, б) центр тяжести профиля сечения, в) начальную точку профиля сечения, г) конечную точку профиля сечения, д) точку максимальной кривизны профиля сечения, е) точку минимальной кривизны профиля сечения, ж) точку средней кривизны профиля сечения, з) любую другую точку, связанную с кривизной профиля сечения, и) точку пересечения двух или нескольких диаметров профиля сечения, к) точку, связанную с любой из перечисленных, л) любую другую точку, характеризующую расположение профиля сечения.

88. Способ по п.9, отличающийся тем, что в качестве точки, характеризующей расположение профиля сечения объекта, используют любое из следующего или любую комбинацию из следующего: а) центральную точку профиля сечения, б) центр тяжести профиля сечения, в) начальную точку профиля сечения, г) конечную точку профиля сечения, д) точку максимальной