Способ определения степени деформации надмолекулярных структур полимеров

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

239639

Союз Сооотских

Социалистических

Республик

"- :---/

Кл. 42l, 3/08

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 10.I I.1968 (№ 1216861/23-5) с присоединением заявки №вЂ”

Приаритет

Опубликовано 18.Ill.1969. Бюллетень № 11

Дата опубликования описания 11 VIII.1969

МПК G Oln

УДК 678.012.4:620.186 (088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Мииистроо

СССР

Авторы изобретения В. А. Белый, А. И. Свириденок, В. Г. Савкин и М. И. Петроковец

Отдел механики полимеров АН Белорусской ССР

Заявитель

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТЕПЕНИ ДЕФОРМАЦИИ

НАДМОЛЕКУЛЯРНЫХ СТРУКТУР ПОЛИМЕРОВ

Известен способ определения степени деформации надмолекулярных структур полимеров путем однаосного,растяжения пленочного образца с .последующим визуальным митсроскопическим определением в проходящем поляризованном свете, искомой величины.

Для усовершенствования известного способа и .повышения точности определения предлагается полимерную пленку наносить на оптичесии прозрачную подложку, а затем производить механическое воздействие с помощью оптически прозрачного инденгора. Изменение сгруктуры во времени фиксируется с,помощью фото- и киносъемки.

На чертеже пртсведена схема осуществления предлатавмого способа.

Исследуемый образец 1 в виде тонкой пленки .полимерного материала, нанесенной на оптически прозрачную подложку (предметное стекло), устанавливают и закрепляют на столике микроскопа 2. На полимерную пленку, например, со стараны осветителя микроскапа, с апределенным усилием воздействуют оптически прозрачным индентором 8 заданной формы. Применение оптически прозрачного,индентора обеспечивает беспрепятственное прохождение светового потока от осветителя микроскопа и необходимое освещение исследуемого объекта поляризованным светом. В результате воздействия и нденто р л ч а поли м е рную пленку происходят определенные изменения надмолекулярных структур изучаемого обьекта. Эти изменения наблюдают и фиксируют на фотопленке и фотапластинках .при помощи

5 оптической системы микроскопа и кино- или фогоа|п|парата 4. Задавая движение изучаемому объекту в горизонтальной плоскости с определенной скоростью при одновременном воздействии индентора, можно исследавать де10 формативность надмолекуля рных структур, например, в процессе трения скольжения.

Предлагаемый способ может найти применение в различных науччо-и сследовательских учреждениях и заводских лабораториях при

15 исследовании деформативности надмолекулярных структур .в лроцессе контактного воздействия на них индентара заданной формы и будет опособсгвовать более глубокому изучению физических процессав, происходящих в поли20 мерах отод дейсгвием внешних нагрузак. Способ можно .использавать как экспресс-метод для оценки механических свойств покрытий.

П р е д м е т и з о б,р е т е.н и я

Способ определения степени деформации надмолекулярных структур полимеров путем механического воздействия на полимерную

;пленку с последующим микроскопическим

50 определением изменений структуры в проходя239639

Составитель E. Розанцева

Редактор Л. А. Новожилова Техред А. А. Камышникова Корректор А. А. Березуева

Заказ Р880,/!4 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2 щем поляризованном свете, отличающийся тсм, что, с целью усовершенствования способа и повышения точности определения, полимерную пленку наносят на оптически прозрачную подложку, механическое воздействие производят с IIQMOIIIblo оптически прозрачного индентора и изменение структуры:во,времени фиксируют с помощью фото- и .киносъемки.

J