Прибор для сравнительного испытания цветных стекол

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

J

/ ,- „ C,с " и, 1

М 24663 -)" -1 Ц йвтораое евидетепьетво ва изо0ретение

Класс 42h, 18

ОПИСАНИЕ прибора для сравнительного испытания цветных стекол.

К авторскому свидетельству В. Il. Щекина, заявленному 16 февраля

1929 года (заяв. саид. K 40958).

О выдаче авторского свидетельства опубликоваио 31 декабря 1931 года.

Изобретение касается приборов для сравнительного испытания цветных стекод, с применением расположенного перед источником света фотоэлемента, на пути между которыми помещается исследуемое стекло.

В предлагаемом приборе, с целью определения прозлачности стекла для света различных длин волн, между источником света и фотоэлементом расположены поворотные диски, соответственно с рядом нормальных цветных стекол и рядом светофильтров.

На чертеже фиг. 1 изображает общий вид прибора; фиг. 2 — схему электрической части прибора.

Прибор (фиг.1) состоит издвух ящиков, размещенных на общем основании.

В правом ящике 1 помещается источник света — лампа накаливания в 50 ватт. Перед лампой находится диск 2 с пятью отверстиями, из которых четыре закрыты нормальными сигнальными стеклами (красным, желтым, зеленым и синим), а пятое — остается свободным. Нормальные стекла служат для сравнения результатов измерений, полученных при испытании раЗличных сигнальных стекол. Диск с нормальными стеклами несколько выступает через прорезь в наружной стенке ящика и вращается от руки для установки соответствующего отверстия против фотоэлемента и источника света.

Между правым и левым ящиками имеется зазор 3, в который вставляются испытуемые сигнальные стекла. В левом ящике 12 собрана электрическая схема прибора с усилительной лампой, фотоэлементом, диском с светофильтрами.

Перед отверстием в боковой стенке ящика расположен фотоэлемент в алю-. миниевом футляре, перед которым помещается диск с светофильтрами, совершенно аналогичный с диском, помещенным в ящике 2, с той лишь разницей, что в нем четыре отверстия закрыты цветными светофильтрами, а пятое не пропускает света и служит для затемнения фотоэлемента при установке микроамперметра на нуль. Диск с светофильтрами также вращается и устанавливается любым отверстием против фотоэлемента. Лля проверки правильности установки дисков на требуемые отверстия, выступающие ободки дисков окрашены в различные цвета, соответствующие цветам устанавливаемых фильтров или нормальных стекол.

Электрическая часть прибора собрана по изображенной на фиг. 2 схеме. Постоянными сопротивлениями в схеме прибора служат две катушки с проволочными сопротивлениями в 30000 и

15000 ом, а в качестве переменного еопротивления †потенциоме, позволяющий, посредством переключателя 5, включать сопротивления в 3000, 4000, 5000 и 6000 ом, а затем, с помощью после- ( довательно включенного потенциометра б в 1000 ом, плавно регулировать сопротивление до необходимой величины.

В диагональ мостика включен микроамперметр 7 чувствительностью 10 б А, снабженный шунтами на /5, /к, "/ o и /5о, которые включаются переключателем 8. На передней стенке прибора смонтирован реостат накала 9 и вольтметр 11 на б и 120 вольт с переключателем 10 для измерений напряжений накала, анодного и фотоэлемента. Вся электрическая схема прибора заэкранирована металлическим экраном от возможных внешних влияний. Передняя панель с основанием, на котором смонтирована вся схема, может выдвигаться из ящика, обеспечивая таким образом легкий доступ ко всем деталям прибора для необходимых переключений и исправлений. В качестве источников питания могут служить две сухие 80-вольтовые батареи для пи гания фотоэлемента и анода усилительной лампы и 4-зольтовая аккумуляторная батарея — для г;итания цепи накала лампы. Включение батарей производится посредством специальной колодки, которая вставляется в гнезда боковой панели питания прибора.

При испытаниях сигнальных стекол в отношении их пропускной способности могут применяться два метода работы прибором: 1) метод сравнения абсолютных отклонений микроамперметра от испытуемых и нормальных стекол и

2) нулевой метод сравнения, при котором с нормальнылти стеклами микроамперметр устанавливается на нуль, и при измерениях для испытуемых стекол получают отклонения, представляющие разность показаний микроамперметра для нормального и испытуемого стекла, При измерениях по первому методу затемняют фотоэлемент с помощью диска с светофильтрами, который устанавливается на закрытое отверстие, и затем подают напояжение к усилительной лампе и фотоэлементу. Установив реостатом нормальный накал усилительной лампы, проверяют вольтме гром с помощью переключателя анодное йапряжение лампы и напряжение на фотоэлем=нте. Затем, при минимальной чувствительносги микроамперметра (шунт /so), включают его и подбирают потенциометром сопротивление для равновесия в мостике, для чего вначале переключателем 5 подбирают необходимое сопротивление, а, затем точно потенциометром б устанавливают микроамперметр на нуль. После подготовки электрической схемы для измерений включают лампу накаливания в осветительную сеть. Диск с нормальными стеклами устанавливается на свободное отверстие.

Процесс измерений состоит в следующем. Испытуемое стекло вставляют в щель между ящиками и, вращая диск с светофильтрами, записывают показания микроамперметра для каждого светофильтра, Для сравнения полученных показаний микроамперметра, хара ктеризующих качество испытуемого стекла, с показаниями микроамперметра от нормального стекла соответствующей окраски, вынимают испытуемое стекло и устанавливают диск с нормальными стеклами на соответствующее нормальное стекло. Вращая диск с светофильтрами, записывают показания микроамперметра для каждого светофильтра. При сравнении получснных результатов от испытуемого и нормального стекол находят процент расхождения в показаниях микроамперметра для каждого фильтра. Если этот процент превышает допустимый процент расхождения, испытуемое стекло признается не соответствующим установленным нормам.

Второй нулевой метод измерений отличается от первого только тем> что в начале измерений диск с нормальными стекл". ми устана вливается на соответствую:.ц "е нормальное стекло и для какого-либо светофильтра потенциометром 5 и б подбирается равновесие в мостике с установкой микроамперметра на нуль. Затем вставляется испытуемое стекло и при TQM же светофильтре замечают отклонения микроамперметра в ту илч другую сторону, являющиеся разностью показаний между отклонениями для нормального и испытуемого стекол.

Повторяя весь процесс измерений для всех четырех светофильтров, сравнивают полученные рвзультаты с установленными допусками.

I б„--;,;, Q )

11

li (7 ! !

ЦЗИ Г.H.

Е0. Г. тип. айеяатиый Теди

Предмет изобретения.

1. Прибор для сравнительного испытания цветных стекол с применением расположенного перед источником света фотоэлемента, на пути между которыми вводится исследуемое стекло, отличаю 1нйся тем, что с целью определения прозрачности испытуемого стекла для света различных длин волн, соответствующих таковым нормальных стекол, на пути между источником света 1 и фотоэлементом Ф расположены поворотные диск 2 и 4, соответственно срядом нормальных цветных стекол и рядом светофильтров.

2. При приборе по и. 1 применение усилительной схемы для усиления фототока.