Способ измерения плотности среды или расстояния от прибора до поверхности среды

Способ измерения плотности среды или расстояния от прибора до поверхности среды

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОП ИСАН И Е

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

Со па Советскик

Социалистических

Республик

ВСЕСОЮЗНАЯ

ПАТЕИТИОТЕЩИЧЕСЫАЯ

БИБЛИОТЕКА

Зависимое от авт. свидетельства ¹

Заявлено 12.Ч.1968 (№ 1238312/26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 04.VII.1969. Бюллетень № 22

Дата опубликования описания 28.Х1.1963

Кл. 21g, 18/10

МПК Ci Olt

УДК 621.039.8:681.2 (088.8) Комитет по делам иаобретеиий и открытий при Совете Яииистров

СССР

Автор изобретения

И. Я. Серебренников

Заявитель

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПЛОТНОСТИ СРЕДЫ ИЛИ РАССТОЯНИЯ

ОТ ПРИБОРА ДО ПОВЕРХНОСТИ СРЕДЫ

Предмет изобретения

Изобретение относится к способам измерения плотности среды или расстояния от прибора до поверхности среды (высоты, уровня) с использованием ядерного излучения.

Известны способы измерения плотности, использующие зависимость (прямую или ооратную) интенсивности рассеянного измеряемой средой гамма-излучения от плотности среды (восходящая и нисходящая ветви характеристики) .

Недостатком этих способов является ограничение диапазона измерения пределами восходящего или нисходящего участка калибровочной кривой.

Предложенный способ отличается от известных тем, что, с целью расширения диапазона измерений и повышения точности, контроль измеряемого параметра ведут в области максимальной интенсивности рассеянного излучения. Для этого одновременно с регистрацией рассеянного излучения изменяют базовое расстояние до нахождения области максимальной интенсивности излучения, например, путем перемещения источника или приемника параллельно поверхности контролируемой среды.

При этом для регулирования ширины экстремальной области источник и детектор можно коллимировать. Так как положение экстремального значения калибровочной кривой при найденном базовом расстоянии для заданной энергии источника не зависит от активности источника, то контроль ведут по положению пика. Положение пика на калибровочной кривой сохраняется при изменении как вещест5 венного состава (для легких материалов), так и активности источника излучения.

Измерение плотности среды или расстояния от датчика до поверхности среды осуществляют по найденному базовому расстоянию. Для

10 этого можно пользоваться калибровочными кривыми или градуировкой шкалы прибора в непосредственных единицах плотности (высоты, уровня).

Способ измерения плотности среды или расстояния от прибора до поверхности среды пу20 тем облучения контролируемой среды потоком гамма-квантов и регистрации рассеянного излучения на базовом расстоянии от источника, отличиощийся тем, что, с целью расширения диапазона измерений и повышения точности, 25 одновременно с регистрацией излучения изменяют указанное базовое расстояние до нахождения области максимальной интенсивности рассеянного излучения, фиксируют найденное базовое расстояние, и по его величине судят об

30 измеряемом параметре.