Способ оценки качества полированной поверхности

Способ оценки качества полированной поверхности

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

257035

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства ¹

Заявлено 16.У1.1967 (№ 1164600/25-28) Кл. 42Ь, 12/05 с присоединением заявки ¹

Приоритет

МПК С 011

УДК 531.717.8(088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Сосете Министрое

СССР

Опубликовано 11.XI.1969. Бюллетень ¹ 35

Дата опубликования описания 8.IV.1970

Авторы изобретения

IQ, А, Концерой И Р, Р. РСзрь

Заявитель

СПОСОБ ОЦЕНКИ КАЧЕСТВА ПОЛИРОВАННОИ

ПОВЕРХНОСТИ

Известен способ оценки качества полированной поверхности, заключающийся в том, что поверхность освещают равномерным по интенсивности пучком света и .визуально определяют ее качество.

Предложенный способ отличается от известного тем, что отраженный от поверхнос1и пучок лучей отбрасывают на экран и оценивают степень неравномерности светового пятна.

Это отличие позволяет повысить .полноту оценки поверхности.

На чертеже изображена схема определения качества полированной поверхности, иллюстрирующая предложенный способ. Контролируемая полированная поверхность 1 освещается равномерным по интенсивности пучком света, испускаемым, например, лазевом

2. Отраженный от поверхности 1 пучок лучей отбрасывают через зеркало 8 на экран 4. Световое пятно на экране имеет для каждой поверхности свой вид. Изгибы, перекосы, неровности, которые могут возникнуть при полировке, отражают лучи под разными углами, что создает возможность для интерференции.

По интерференционной картине и величине полученного на экране изображения можно рассчитать (оценить) степень неровности, вогнутости или выпуклости пластины, или глубину, или высоту дефекта.

При необходимости световое пятно на экране 4 регистрируют на фотопленку прибором 5.

Предмет изобретения

Способ оценки качества полированной поверхности, заключается в том, что поверхность освещают равномерным по интенсивности .пучком света и визуально определяют ее качество, отличпющийся тем, что, с целью повышения полноты оценки поверхности, отраженной от нее пучок лучей отбрасывают на экран и оценивают степень неравномерности светового пятна.

257035

Составитель В. Иванова

Техред А. А, Камышникова Корректоры: P. И. Крючкова и Г. П. Шильман

Редактор Горшкова

Типография, пр. Сапунова, 2

Заказ 728/6 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва Ж-35, Раушская наб., д. 4/5