Оптическая система подсветки к оптическим измерительным приборам

Оптическая система подсветки к оптическим измерительным приборам

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

О П И <. А Н- И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

262425

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 12.XII.1968 (№ 12893il7/18-10) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 26.I.1970. Бюллетень № 6

Дата опубликования описания 06Х111.1971

Кл. 4211, 3/02

МПК G 02b 21/06

УДК 53.087.51(088.8) Комитет по делам иаобретеиий и открытий при Совете Министров

СССР

Автор изобретения

А. А. Лапаури

Всесоюзный научно-исследовательский кинофотоинститут

Заявитель

ОПТИЧЕСКАЯ СИСТЕМА ПОДСВЕТКИ К ОПТИЧЕСКИМ

ИЗМЕРИТЕЛЬНЫМ ПРИБОРАМ

Изобретение относится к области оптического приборостроения.

Известные оптические системы подсветки объекта в поле зрения измерительного оптического прибора, содержащие источник света, светофильтр, конденсор и диафрагму, выполненную в теле оптического элемента с отражающей поверхностью, обращенной в сторону подсвечиваемого объекта, не обеспечивают необходимой контр астности изображения просвечиваемого объекта, что влияет на точность измерений.

В предл агаемой оптической системе отр ажающая поверхность оптического элемента выполнена в виде трех концентрично расположенных зон. Крайние зоны позолочены, а средняя алюминирована. Для подсветки их асимметрично и под углом к оптической оси установлены дополнительный зеркальный конденсор и плоское зеркало, сопряженное с входным зрачком микрообъектива, формирующего изображение измерительного светового пятна в плоскости подсвечиваемого обьекта.

На фиг. 1 приведена принципиальная схема устройства в применении к денситометру (в подготовительном к измерению положении); на фиг. 2 — вид отражающей поверхности.

Оптическая система подсветки содер}кит источник света 1, сменный светофильтр 2, конденсор 8, кольцевое сферическое зеркало 4 с диафрагмой 5 в его теле, светоделительный элемент б и микрообъектив 7. Конденсор 8 проецирует увеличенное изображение источника света в зрачок микрообъектива 7 через све5 тоделительный элемент б, который поворачивает пучок на 90 . Микрообъектив создает уменьшенное изображение диафрагмы 5 в плоскости просвечиваемого объекта (плоскости измерения) в виде очень яркого и резко

10 ограниченного измеряющего пятна. С целью создания вокруг измеряющего пятна дополнительного кольцевого пучка используют подсветку зеркала 4, установленного под небольшим углом к оси конденсора. Отражающая

15 поверхность зеркала разделена на три зоны (см. фиг. 2): крайние зоны ы позолочены, средняя зона б алюминирована. Для подсветки отражающей поверхности используют зеркальный конденсор 8 и плоское зеркало 9, ко20 торое установлено в одном из сопряженных фокусов кольцевого зеркала и сопряжено с входным зрачком микрообъектива, Вокруг измеряющего пятна в плоскости измерения формируются три концентрично расположенных

25 цветных конца, наружные кольца золотистые, среднее — бесцветно-серебристое. При наведении на измеряемый объект последний следует располагать так, чтобы границы измеряемого участка находились вне измерительного

30 пятна. Тогда эти границы будут четко выде262425

Составитель М. Иилленко

Техред Л. Л. Евдонов Корректор О. Б. Тюрина

Редактор H. Белявская

Заказ 2187/3 Изд. № 955 Тираж 473 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 ляться на золотистом или серебристом фоне.

Для регулирования положения измеряющего пятна в плоскости объекта может быть предусмотрена оптическая система в виде лупы

10 с призмой 11, расположенной на одном рычаге с регистратором, а для перекрывания паразитных потоков между источником света и дополнительным зеркальным конденсором устанавливается подвижная заслонка 12.

Данная система подсветки может быть использована в сочетании с любым измерительным оптическим прибором, например, денситометром, биологическим микроскопом и т. д.

Предмет изобретения

Оптическая система подсветки к оптическим измерительным приборам, например к фотоэлектрическому денситометру, содержащая источник света, светофильтр, конденсор и диафрагму, выполненную в теле сферического зеркала, отражающая поверхность которого

5 обращена в сторону объекта подсветки, отличаюи аяся тем, что, с целью повышения контрастности изображения и точности измерений, отражающая поверхность кольцевого сферического,зеркала содержит три концентрич10 но расположенные зоны, крайние две из которых позолочены, а средняя алюминирована, причем для подсветки их асимметрично и под углом к оптической оси установлены дополнительный зеркальный конденсор и плоское

15 зеркало, сопряженное с входным зрачком микрообъектива, формирующего изображение измерительного светового пятна в плоскости подсвечиваемого объекта.