Патент ссср 263170
Патент 263170
Классы МПК
Патент ссср 263170
Иллюстрации
Реферат
ОПИСАНИЕ
ИЗОЬРЕтЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Сова Свветских
Социалистических
Республик
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 27.1.1969 (№ 1299085/25-28) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 28.Х.1971. Бюллетень ¹ 32
Дата опубликования описания 23,XII.1971
МПК G 01Ь 15i02
G 01п 23,20
Комитет ло делам иаобретений и открытий лри Совете Министров, СССР
УДК 620.179.152.2 (088.8) Автор изобретения
Ю. А. Скобло
Заявитель
РАДИАЦИОННЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ
Предмет изобретения
Известен способ измерения толщины с помощью обратно рассеянного гамма-излучения, заключающийся в том, что изделие облучается гамма-лучами и регистрируется обратно рассеянное излучение, по величине которого судят о толщине изделия, а прямое излучение задерживается защитным устройством, выполненным в виде конуса.
Недостатком известного способа является утяжеление массы датчика и невозможносгь 10 уменьшения погрешности при измерении толщин изделий из материалов с малым коэффициентом обратного рассеяния гамма-квантов.
Предлагаемый способ отличается от из- 15 вестного тем, что с целью повышения точности измерения за изделием со стороны, противоположной падению гамма-лучей, помещают подложку из материала, коэффициент обратного рассеяния гамма-квантов которого 20 больше, чем у материала изделия, а абсолютное значение отношения производной скорости счета от толщины к квадратному корню из полной скорости счета для измеряемой толщины при наличии подложки боль- 2s ше аналогичного отношения при отсутствии подложки.
Предлагаемый способ может быть реализован практически со всеми отражательными гамма-толщиномерами. При необходимости измерения толщины с постоянной точностью эффект от применения подложки может быть выра кен в уменьшении необходимой активности источника или времени измерения.
Радиационный способ измерения толщины, заключающийся в том, что изделие облучают гамма-лучами и регистрируют обратно рассеянное излучение, по величине которого судят о толщине изделия, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, за изделием со стороны, противоположной паденшо гамма-лучей, помещают подложку из материала, коэффициент обратного рассеяния гаммаквантов которого больше, чем у материала изделия, а абсолютное значение отношения производной скорости счета от толщины к квадратному корню из полной скорости счета для измеряемой толщины при наличии подложки больше аналогичного отношения при отсутствии подложки.