Способ обнаружения дырчатости в частично пропускающих свет материалах

Способ обнаружения дырчатости в частично пропускающих свет материалах

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕ Н ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

27I09l

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства хе

Заявлено 04,XI.1968 (№ 1283218/29-33) Кл. 421, 52 с присоединением заявки М>—."у1ПК G Oln

УДК 676.019.258(088.8) Приоритет

Опубликовано 12Л .1970. Бюллетень хе 17

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Дата опубликования описания 19Л 111.1970 (л у1чу уg ° ° jE 2ол В лл

- - - - Т " - e P с т ноллнллоуно-оунолнлотлу-,нл

Лвтор изобретения

И. H. Лихтман

Заявитель Украинский научно-исследовательский институт промышленности

СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЫРЧАТОСТИ В ЧАСТИЧНО

ПРОПУСКАЮЩИХ СВЕТ МАТЕРИАЛАХ

Известный способ обнаружения дырчатости в частично пропускающих свет материалах, например бумаге, путем сканирования материала на просвет световым лучом отличается сложностью процесса и низкой степенью точности обнаружения дырчатости.

По предлагаемому способу весь световой поток одного луча развертки разделяют на две компоненты — прямую с примесью диффузной и диффузную, причем прямую компоненту с примесью диффузной используют для получения основного сигнала, а диффузную для получения компенсирующего сигнала датчика.

Предлагаемый способ повышает степень точности обнаружения дырчатости и упрощает процесс, На фиг. 1 изображена схема просмотра материала по предложенному способу; на фиг.

2 — ход лучей сквозь контролируемый материал при попадании в зону контроля отверстия (дырки) в материале; на фиг. 3 — ход лучей сквозь контролируемый материал при нахождении в зоне контроля участка материала без дырчатости; на фиг. 4 — оптическая схема для осуществления предложенного спосооа.

Способ осуществляется следующим ооразом. Контролируемый материал 1 освещают последовательно световым лучом 2 развертки, просматривающим вс|о подлежащую контролю поверхность материала. Поперечнос сечение луча развертки представляет собой вытянутую поперек направления движения по5 лоску с длиной, равной или несколько большей ширины материала, т. е. в данном случае используют всего один элемент развертки.

Продольное ссчстше луча развертки в плоскости А, перпендикулярной поверхности мате10 риала, представляет собой конус с вершиной, находящейся в плоскости источника 8, что достигают с помощью диафрагмы 4, вырезающей из всего светового потока и точника 8 необходимый для получения элем нта развертки

15 пучок лучей с угловым размером и.

Если луч развертки попадает на поверхность частично пропускающего свет п рассеивающего пропущенный световой поток материала 1 (фиг. 3), то направление хода лучей

20 после выхода из материала изменится, что приводит к тому, что угол выхода лучей а )u.

Выходящий из материала диффузный пучок лучей промодулирован по интенсивности не25 одиородностями структуры материала.

Если в материале имеется равное или большее элемента развертки отверстие, то направление хода лучей пучка развертки не изменится, т. е. а =а, и весь луч развертки, ис изме30 нившись ни по интенсивности. ни по направлеП едмет изобр етения

271091

4 го ослабления ОНОВОГО СИГ

3 ле д, я еще большег го потока ди ффузной ком е стие в материа ала часть светова отоприемника и сквозь отверс нала нию, проходит ие мень- ПОНЕНТЫ OO P але имеется Отверстие, меньЕсли в материале име ие мень

ОД KOTOPOI О поДают его сигнал о гпее п оходящая сквозь на- емника, е ал не меняя ся за матери ., Л С ОТОПРИЕМ мника б содера другая часть а сигнал с фотоправления и и нтенсивности, а жит только фонов а с хо- а

ый сигнал, а с чей части чно поглощаясь в I и узн

Рф но рассеиваяс ь в yI - жит — и оновыи и п

10 е вычита ния выходной

" сигит сквозь него, д н ве ст то в результат ержит только дит оходящ ве стие лы, то ого силителя соде нал разностного у а ним диффракцион- ого

2 (фиг 4) Эту полезнь " азвертки ное изображение р ез отверстие диачасть лучей р п опускают через . е ы которого го выбирают в со- 15 пос ия дырчатос и д р ости в частично фрагмы 4, размер иффракционного изоСпособ обнаружени д р

2. Попадая на фот р азмерами ди ак топ исвет материалах, HB вания м атериала на прбр р Р п тем сканиро ийся тем, что, "" ООР 1 ют ом отличающи

В точности обна хОдит и некотор мате, иале. ме ая 20 свет ния степени то ф агмы про. его с 1 и п ощения процесса, ве сь отверстие Р ия дырчатости звертки раздеф зной компонен чен- жени ного луча раз дифч У иал светового оненты †пр ка основного сиги сигкомпонентой, авномерн

ЧЯ ПОЛУЧЕНИЯ е д. ения комп енсирующего си1 ельно осла ляе о ную— риала, значитель ч зной нала датчика. ненты, заключенной в угл

Составитель В. Распопова

Редактор С. И. Хейфиц Техред Л. В. Куклина Корректор Т. Лаврухина

Заказ 2208/13 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 4, 5

Типография, пр. Сапунова, 2