Способ нейтронного количественного анализа элементного состава вещества

Способ нейтронного количественного анализа элементного состава вещества

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

О П И С А...Н И Е

ИЗОЬЕЕтЕНИЯ

Союз Советских

Социалистически", Республик .- Г274859

К АВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6l) Дсполнительнос к авт. свид-в — (221 Заявлено 26.10.57 (21 ) 1193554!26-25

Ч К, з б 01 V 9/00 с присоединением заявки,Я—

Государственный комитет (23) Пр иоритет— ло делам изобретений и открытий

Опубликовано 28.02.82. Бюллетень Х 8

Дата опубликования описания 28.02.82 (53) УДЫ 550.839 (088.8) (72) Авторы изобретения Р. Г. Гамбарян, Ю. Н. Казаченков и А. С. Штань (71) Заявитель (54) СПОСОБ НЕЙТРОННОГО

КОЛИЧЕСТВЕННОГО АНАЛИЗА ЭЛЕМЕНТНОГО

СОСТАВА ВЕЩЕСТВА

Изобрстспис относится к радпомстричсским способам определения содержания элементов в пробах вещества, основанным на измерении интенсивности гамма-квантов радиационного захвата медленных нейтронов в исследусмом образце. Оно может быть применено для экспрссспого количсствснного определения элементов, обладающих резонансным характером зависимости сечения поглощения нейтронов от энергии.

Известен способ определения железа в образцах руд, заключающийся в том, что образец помещают на торцовую поверхность цилиндрического парафинового замедлителя с заключенным в нем изотопным нейтронны.и источником H 0H3 0 T EIc прерывную регистрацию интенсивности жесткого захватного гамма-излучения железа сцпнтилляционным детектором, размещенHbIM над образцом. Иптснсивность этого излучения сопоставляют с калибровочной кривой, составле.шой по результатам аналогичных измерений с использованием образцов извсстного содержания железа, и тсм самым определяют количественное содержание этого элемента. Однако известный способ обладает низкой селективностью, Для повышснпя селсктивности анализа, т. е. расширения круга анализируемых элсментов и повышения точности анализа, исследуемое вещество помещают в среду тяжелого (например, свинец, железо) замедлителя и облучают его импульсным по5 током быстрых нейтронов и спустя некоторое время после каждого нейтронного импульса регистрируют интенсивность импульсного захватного гамма-излучения и; вещества. Время регистрации выбирают

10 таким образом, чтобы быстрые нейтронь . успели замедлиться до энергии резонансного поглоп;ения определяемого элемента.

Длительность нейтронного импульса должна бь;ть короче минимального временного 15 интервала между пиками импульсного захватного гамма-излучения присутствующих в веществе элементов.

Таким образом, в предлагаемом способе используется явление резонансного погло20 щения в анализируемом веществе нейтронов определенных энергий, что становится возможным в результате применения тяжелого замедлптеля импульсного источника нейтронов и временной селекции захватного

25 гамма-излучения.

В качестве импульсного источника нейтронов может использоваться импульсный генератор нейтронов, либо импульсный реактор на быстрых нейтронах. Использова50 ние импульсного реактора на тепловых нейт274859

4 ьшой Формула изобретения

Редактор Н. Багирова

Техрсд А. Камышникова Корректор Л. Исаева

Заказ 1287

Изд. ¹ 112 Тираж 719

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Подписное

Загорская типография Упрполнграфиздата Мособлпсполкома

3 ронах нецелесообразно из-за бол длительности импульса. Поскольку выход

HeIIrро Ion менястся от импульса к импульсу, то соответствующие флуктуации будут наблюдаться и в выходе захватного гаммаизлуч;пия из анализируемого образца. Для того. чтобы исключить эту неопределенность, целесообразно относить интенсивность захватного гамма-излучения, измеренную датчиком гамма-излучения, к скорости счета, зарегистрированной счетчиком медленных нейтронов за этот же интервал времени. Построив серию калибровочных кривых, представляющих зависимость отношения интенсивностей гамма- и нейтронного излучения от содержания резонансных поглотителей, можно с их помощью проводить анализ на различные элементы, обладающие нейтронными резонансами.

По предлагаемому способу можно определить элементы, имеющие высокие резонансные парамстры. а именно: родий, палладпй, серебро, индий, сурьму, цезий, тантал, вольфрам, репин, иридий, платину, золото, уран и болыпинство редкоземельных элементов.

Способ нейтронного количественного анализа элементного состава вещества путем облучения последнего потоком нейтронов и последующей регистрации интенсивности захватного гамма-излучения, отли I а ю шийся тем, что, с целью повышения селективности анализа, вещество помегца1о

1п в среду тяжелого замедлитсля, например свинца или железа, который затем облуча1от импульсным потоком быстрых нейтронов, и с задержкой после каждого нейтронного импульса регистрируют интенсивность импульсного захватного гамма-излучения облученного вещества, причем задержку выбирают равной времени замедления быстрых нейтронов до энергии резонансного поглощения определяемого элемента, а длительность нейтронного импульса не должна превышать минимального временного интервала между пиками импульсного захватного гамма-излучсния присутствующих в гсществс элементов.