Способ регистрации тел\пературы и температурной зависимости межплоскостного расстояния

Способ регистрации тел\пературы и температурной зависимости межплоскостного расстояния

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

277316

О П Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 06.111.1969 (№ 1308975/18-10) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 22.VII.1970. Бюллетень № 24

Дата опубликования описания 2.XI.1970

Кл. 42i, 12/01

МПК G Olk 21/46

УДК 536.5,082.54(088,8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Авторы изобретения

В. Н. Гриднев, М. Е. Гуревич, Л. Н. Лариков, В. Н. Минаков и

В. И. Трефилов

Институт металлофизики АН Украинской ССР

Заявитель

СПОСОБ РЕГИСТРАЦИИ ТЕМПЕРАТУРЬ1 И ТЕМПЕРАТУРНОЙ

ЗАВИСИМОСТИ МЕЖПЛОСКОСТНОГО РАССТОЯНИЯ

Изобретение относится к области приборостроения и автоматизации научных исследований.

Известные способы рентгеноструктурного анализа с автоматической регистрацией температурной зависимости межплоскостного расстояния путем непрерывного слежения за максимумом ичтенсивности интерференционной линии сдвоенным счетчиком Гейгера ——

Мюллера, установленным на ре; тгеновском 10 дифрактометре, трудоемки и не применимы для изучения бь|стропротекающих процессов.

Кроме того, при изучении структур с более низкой сингонией, чем кубическая, или двухфазнь1х систем, возникают дополнительные 15 трудности, связанные с устройством двух или более следящих систем со счетчиками Гейгега — Мюллера.

Предлагаемый способ не имеет этих недостатков и отличается от известны.; тем, что 20 определяют положение максимума интенсивности интерференционной линии на временной оси, например,,по изменению знака производной моделирующего напряжения, измеряют и автоматически регистрируют смещение макси- 25 мума интенсив "cTH линии IG времени относи. тельно, например, рсперного импульса под влиянием внешних параметров, пропорциональное, например, в случае кристаллической структуры с кубической симметрией периоду 30 решетки, и регистрируют одновременно изменения температуры и периода решетки.

Кроме того, измерения производят по двум каналам и регистрируют одновременно на одном и том же регистрирующем устройстве смещение максимумов интенсивности нескольких интерференционных линий и изменения температуры. Это .позволяет упростить методику и ускорить анализ результатов измерений.

Сущность предлагаемого способа заключается в определении положения во времени максимума рентгеновской интерференционной линии, спектр которой получен сканированием линии щелями, относительно неподвижного детектора излучения. ПОложение указанного максимума определяется, путем моделирования спектра линии импульсом напряжения при помощи интегрирующего устройства, дифференцирования этого импульса и определения голожения максимума vо изменению знака производной моделирующего напряжения.

В случае абсолютных измерений межплоскостное расстояние определяется измерением временного интервала между фиксированным во времени контрольным импульсом, соответствующим определенному углу, и максимумом интерференционной линии. При определении изменений межплоскостного расстояния производится измерение изменений временного

27731 6

Составитель И. И. Дубсоп

Редактор Т, Иванова

Корректоры А. И. Зимина и О. Б. Тюрина. Заказ 3159/19 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров CC(Р

Москва, iK-35, Раугпская кгб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

hHTepaaла между двумя соседними максимум а ми. Регистрируется зависимость a = f (т) .

В случае определения зависимости межплоскостного расстояния от внешних параметров, на пример температуры, давления и т, д., лснта регистрирующего устройства перемещается синхронно с изменением влияющего параметра. Таким образом, непрерывное измерение временных интервалов с преобразованием в аналоговую форму моделирует изменение па- 10 раметра решетки в,случае кристаллической структуры с,кубической симметрией.

В случае более сложных кристаллических структур, например теграгональной, гексагональной, а также двух- или многофазных си- 15 стем, производят измерение по двум или более каналам с применением двух или нескольких детекторов излучения, установленных в местах нахождения интерференционных линий, например различных фаз. 20

Предмет изобретения

1. Способ регистрации температуры и температурной зависимости межплоскостного расстояния путем сканирования интерференцнон- 25 ной рентгеновской линии щелями относительно неподвижного детектора излучения и измерения распределения интенсивностей и изменений температуры, от.гииа о цийся тем, что, с целью упрощения методики и ускорения анализа результатов измерений, определяют положение максимума интенсивности интерференционной линии на временной оси, например, по изменению знака производной моделирующ го напряжения, измеряют и автоматически регистрируют смещение максимума интенсивносги линии во времени относительно, например, реперного импульса под влиянием внешних параметров, пропорциональное, например, в случае кристаллической структурь; с кубической симметрией периоду решетки, и регистрируют одновременно изменения температуры и,периода решетки.

2. Способ по п. 1, от,гиаагощийся тем,. что, с целью ускорения анализа в случае более сложных кристаллических структур, например, тетрагональной а также двухфазных систем, производят измерения,по двум каналам и регистрируют одновремеч:0 на одном и том же регистрирующем устройстве смещение максимумов интенсивности нескольких интерференционных линий и изменения температуры.