Способ многопараметрового контроля деталей из ферромагнитных материалов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОПИСАНЙЕ

Союз Сооетокил

Социалистических

Ресл1 6лик

Зависимое от авт. свидетельства М

Заявлено 18.111.1968 (№ 1226361/18-10) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Опубликовано 03.1IX.1970. Бюллетень ¹ 28

Кл. 21е, 37/10

Комитет оо делоае изобретений и открытий арн Сосете Министров

СССР

МПК б 01r 33/02

УДК 621.317.445(088.8) Дата опубликования описания 4.XII.1970

Авторы изобретения

И. И. Кифер, С. Х. Гиршовичус и E. Б. Седова

Заявитель

СПОСОБ МНОГОПАРАМЕТРОВОГО КОИТРОЛЯ

ДЕТАЛЕЙ ИЗ ФЕРРОМАГИИТИЬ1Х МАТЕРИАЛОВ

Изобретение относится к области магнитометрии, в частности к контролю качества деталей из ферромагнитных материалов.

Известен способ контроля, основанный на сравнении петель перемагничиванпя эталонной и испытуемой деталей. Однако этот способ трудоемок и часто не дает необходимой точности.

Сравнение же отдельных параметров (остаточной индукции, коэрцптивной силы н индукции насыщения) петли гистерезнса даже для трех значений не полностью определяет петлю перемагничиванпя, особенно для деталей разомкнутой формы.

Целью изобретения является создание способа одновременного определения нескольких параметров, полностью характеризующих петлю перемагничивания сердечников из ферромагнитных материалов, что позволяет увеличить скоросгь и надежность нх контроля.

Для этого на деталь, помещенную в низкочастотное магнитное поле, кратковременно, в определенные моменты накладывают высокочастотное магнитное поле, амплитуда которого меньше амплитуды низкочастотного поля в 10 или более раз и по величине гысокочастотной э.д.с. судят о качестве детали.

При этом моменты включения высокочастотного поля выбирают определенным образом так, чтобы возбуждаемая им э.д.с. характеризовала заданные участки низкочастотной петли перемапшчнва ия, причем высокочастотное магнитное поле подают преимущественно в виде кратковременных серий колебаний для удобства снятия результатов измерения.

Сущность способа поясняется чертежом.

Испытуемую дсталь помещают в переменное магнитное поле низкой частоты постоянной амплитуды, обеспечивающей изменение маг10 нитного состояния детали по динамической петле перемагничившшя а. В строго определенные моменты времени, например, когда магнитное состояние детали в низкочастотном поле достигает вершины динамической петли

15 и близко к значенгио коэрцитивной силы Н„ или остаточной индукции В,, па деталь кратковременно подают также высокочастотное поле с постоянной амплитудой, величина которой не менее чем в 10 раз меньше амплитуды

20 низкочастотного поля, причем частота высокочастотного поля на порядок или более выше частоты низкочастотного поля. При этом магнитное состояние будет изменяться по частным динамическим циклам соответственно о, 25 в и " Если ".ìïëèòóäà высокочастотного поля постоянна, э.д.с. измерительной обмоткой, помещенной на контролируемую деталь, пропорциональна значениям дифференциальной магнитной проницаемости 1,, 30 Выбранные три значения и,,т полност рактеризуют низкочастотную петлю перемагничивания и ее основные параметры: наклон ее вершины (амплитудную проницаемость m,„), коэрцитивную силу Б, и остаточную индукцию В,. Применяя соответствующее переключающее устройство, указанные значения э.д.с. измеряют тремя раздельпымп селективными приборами п, сравнивая их значения с э.дх. эталонного образца (вручную нли автоматически), определяют пригодность испытуемой детали. Выбор амплитуд и частот низкочастотного и высокочастотного магнитных полей, а также моменты включения высокочастотного поля определяются конкретнымп объектами контроля, например, для эллиптической петли перемагпичнванпя достаточно получить параметры двух ее точек.

Предлагаемый способ можно применить и в случаях сложных объектов контроля, когда не. обходнмо их испытать при двух-трех значениях амплитуды низкочастотного поля, например, по двум-трем динамическим петлям перемагничивания.

Предмет изобретения

Способ многопараметрового контроля дета10 лей из ферромагнитных материалов по динамической петле гистерезиса, отличающийся тем, что, с целью одновременного нахождения нескольких основных параметров, на контролируемую деталь, помещенную в ннзкочастот15 ное магнитное поле, накладывают высокочастотное магнитное поле с амплитудой меньше в 10 и более раз, чем амплитуда низкочастотного магнитного поля, и по величине высокочастотной э.д.с. судят о качестве детали.

Состгги тсль H. М. Киселева

Редактор A. В. Корнеев Тскред 3. Н. Тараненко KopJ)clcTop В. В. Чаклина

Заказ 3443/10 Тираж 480 Подписное

ЦИИИПИ Комитета по дслам изобрегений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, 71(-35, Раугпскан паб., д. 4, 5

Типография, пр. Сапунова, 2