Способ определения примеси флюорита б пробах

Способ определения примеси флюорита б пробах

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

О Il И С А Н И Е 280982

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советскик

Сацивлистическил

Республик

Зависимое от авт. свидетельства М

Заявлено 22.IV.1968 (¹ 1234044/26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано ОЗ.IX.1970. Бюллетень № 28

Дата опубликования описания 9.XII.1970

Кл, 421, 3/52

Комитет па делам изобретений н открытий при Совете Министров

СССР

МПК С Oln 23/22

УДК 543.064(088,8) Ig нтевтьс.

Авторы изобретения

В. Ф. Реснянский и Д. М. Мамбстов

Заявитель

БИ1т ЛК6 1 у".1.,.1

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРИМЕСИ ФЛН)ОРИТА В ПРОБАХ

ОКИСИ ИТТРИЯ

Изобретение относится к способам качественного и количественного анализов примеси флюорита в продуктах технологической переработки руд и минералов при получении окиси иттрия.

Для определения содержания флюорита в пробах окиси иттрия в условиях горнообогатительных комбинатов широко используется оптико-спектральный способ возбуждения молекулярных полосатых спектров флюорита и фотометрирования интенсивности их по почернению фотопластинок.

Для реализации этого способа необходимы дорогостоящая оптикоспектральная аппаратура и квалифицированные спектроскописты.

Для определения содержания флюорита этим способом, включающим приготовление пробы, возбуждение и фотографирование молекулярных спектров, фотометрирование фотопластинок и обработку данных, затрачивается много времени, при этом чувствительность и точность способа невысокие.

Целью изобретения является повышение чувствительности и точности анализа при меньших затратах времени и средств.

Предлагаемый способ отличается тем, что измельченную пробу подвергают воздействию тлеющего газового разряда, по интенсивности фотостимулировапной экзоэлектронной эмиссии с поверхности пробы судят о количестве флюорита в пробе.

На фиг. 1 приведены кривые, характеризующие кинетику затухания фотостимулированной экзоэлектронной эмиссии с двух проб окиси иттрия с различным содержанием флюорита (С1(С ). Эти кривые ясно показывают зависимость интенсивности эмиссии 1 от количества примеси флюорита в пробах окиси иттрия в определенный момент времени после обработки пробы в тлеющем разряде.

На фиг. 2 прямыми 1. 2 в двойных логарифмических координатах представлена зависимость интенсивности эмиссии I через 1 л ин после обработки пробы в разряде от концентрации флюорита в пробе.

Чувствительность метода может быть повышена путем возбуждения экзоэмиссии в тлеющем разряде в атмосфере инертного газа (прямая 2).

Для анализа проб предлагаемым способом

20 достаточно небольшого количества вещества — десятки миллиграммов. Если с помощью эталонов предварительно построена градуировочная кривая для данной установки с постоянной чувствительностью, то определе25 ние количества примеси флюорпта в пробах окиси иттрия сводится к возбуждению пробы в тлеющем разряде с последующим измерением интенсивности фотостимулированной экзоэлектронной эмиссии.

ЗО Способ может быть применен для определения концентрации неорганических соединений

280%2

7,имл/сек

1000

500

25 30

:"0

ЯрphiR май

Фиг 1 — 0,8 -0,4 0 О,о 0,8 /,2 С, /о

-I,2 Ри г.2

Составитель Ю. Борисевич

Редактор T. 3. Орловская Текред А. А. Камышникова Корректор О. С. Зайцева

Заказ 3434 !3 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, 7i(-35, Раушская наб., д. 4 5

Типография, пр. Сапунова, 2 (сульфатов, сульфидов, хлор идов, окислов и др.), входящих в неэмиттирующие носии ели.

Предмет изобретения

Способ определения примеси флюорита в пробах окиси иттрия, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности и то1ности анализа, измельченную пробу подвергают воздействйю тлеющего разряда и по интенсивности фотостимули ров анной экзоэлектронной эмиссии судят о количестве флюорита в пробе.