Способ измерения геометрических параметров рефлектора антенны

Иллюстрации

Способ измерения геометрических параметров рефлектора антенны (патент 291093)
Способ измерения геометрических параметров рефлектора антенны (патент 291093)
Способ измерения геометрических параметров рефлектора антенны (патент 291093)
Показать все

Реферат

 

2%093

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Соеетскик

Социалистические

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

МПК G 01Ь 13/16

Н Olq 19/10

Заявлено 30.1Х.1969 (№ 1363114/26-9) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 06.1.1971. Бюллетенo ¹ 3

Дата опубликования описания 19.1I.1971

Комитет по депм изобретений и открытий при Совете Мииистров

СССР

УДК 621.396.677.833:

: 531. 7 (088.8) Авторы изобретения

А. В. Самоцветов и Е. А. Теленков

Заявитель

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ

РЕФЛЕКТОРА АНТЕННЫ а1 — — б+в+г.

as= б+в — г.

Изобретение относится к области антеHHbIx измерений, а именно к способу измерения геометрических параметров рефлектора антенны.

Известны способы измерения геометрических параметров рефлектора антенны, основанные на определении в контрольных точках расстояний между рефлектором и шаблоном.

Известный способ не может быть использован при измерении точности изготовления антенн, предназначенных для работы в условиях невесомости, так как он вносит значительные ошибки в результаты измерений вследствие деформации рефлектора под действием собственного веса.

По предлагаемому способу для повышения точности измерения геометрических параметров рефлектора антенны расстояния между рефлектором и шаблоном определяют при размещении шаблона над и под рефлектором и для каждой контрольной точки усредняют результаты этих измерений.

На фиг. 1 изображено размещение шаблона над рефлектором; на фиг. 2 — графическое суммирование составляющих зазора при размещении шаблона над, рефлектором; на фиг. 3 — размещение шаблона под рефлектором; на фиг. 4 — графическое суммирование составляющих зазора при размещении шаблона под рефлектором.

Рефлектор I консольно укреплен на опорной ферме 2. Шаблон 8 расположен над рефлектором и укреплен на той же ферме, которая снабжена горизонтально расположенной осью 4 вращения и может поворачиваться на

180 (см. фиг. 3).

Зазор ai между рефлектором и шаблоном (см. фиг. 2) при верхнем расположении шаббона равен сумме эквидистанты б, производ10 ственного отклонения в и прогиба г под действием собственного веса:

При повороте фермы 2 на 180 (см. фиг 3) шаблон располагается под рефлектором, а прогиб рефлектора будет направлен в противоположную сторону. Тогда зазор аг (см. фиг, 4) равен:

Для определения зазора в условиях невесомости производят усреднение замеренных величин для каждой контрольной точки

25 а,+а, а+в+г+б+в — г б+

2 2

При этом автоматически исключается про30 гиб, вызываемый силой тяжести рефлектора.

291093

Произведя подобное усреднение для всех контрольных точек, получают распределение отклонений положения рефлектора от заданной кривой в условиях невесомости, Одновременно с решением основной задачи — определением производственных отклонений — легко определить прогиб рефлектора под действием собственного веса в земных условиях, который равен полуразности измеренных зазоров. Значения эквидистанты и производственные отклонения при этом автоматически исключаются.

Предмет изобретения

Способ измерения геометрических параметров рефлектора антенны, основанный на опре5 делении в ряде контрольных точек расстояний между рефлектором и шаолоном, отлича ощийся тем, что, с целью повышения точности измерений, расстояния между рефлектором и шаблоном определяют при размещении

10 шаблона над рефлектором и при размещении шаблона под рефлектором, после чего для каждой контрольной точки усредняют результаты измерений.

Фиг. 2

4 фиг.4

Составитель Ю. Козлов

Техред Т. П. Курилко

Редактор Т. Иванова

Корректор О. С. Зайцева

Типография, пр. Сапунова, 2

Изд. ¹ 13! Заказ 261/17 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министроз СССР

Москва, (К-35, Раушская наб., д. 4(5