Устройство для разбраковки магнитных элементов

Иллюстрации

Устройство для разбраковки магнитных элементов (патент 291247)
Устройство для разбраковки магнитных элементов (патент 291247)
Устройство для разбраковки магнитных элементов (патент 291247)
Устройство для разбраковки магнитных элементов (патент 291247)
Показать все

Реферат

 

291247

ОП ИСАНИЕ

Союз Соеетскят

Социалистическит

Республик

ИЗОБРЕТЕН ИЯ, к втояскомь сеидетвпьстек

Зависимое от авт. свидетельства X"—

МПК G 1lc 29100 (Заявлено 10.1Ч.1969 (Ле 1320539 18-24) с присоединением заявки №вЂ”

Приоритет—

Опубликовано 06.1.1971, Бюллетень ¹ 3

Дата опубликования опнсаш!я 29.III.197!.

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Ъ ДК 681.32у.66(088.8) Автор изобретения

Ю, Д. Сачко, Е. Г. Ойхман, Б. Н. Викторов и С. И. Гагартвтт = .р:->.

," j,, -" - ;„!. " 11 Ц бт,Г.-)!,

Ет:. .

Заявители

УСТРОЙСТВО ДЛЯ РАЗБРАКОВКИ МАГНИТНЪ|Х ЭЛЕМЕНТОВ

Известно устройство длл разбраковкн магнитных элементов, например бнаксов, содержащее программный блок, анализатор годности, измерительный блок, транзисторные формирователи отрицательных и положительных импульсов токов записи и разрушения, шины опроса и выходные шины.

Описываемое устройство отличается от известного тем, что В цепь 1 Ол:1сктора каждого формирователя отрицательных импульсов н в цепь эмиттера каждого формирователя положительных импульсов токов записи н разрушения вкл!очсны последовательно соединенные диод и потенциомстр, шунтированныс ключевым элементом, например транзистором.

Другое отличие устройства состоит в том, что в него введен компенсатор помехи, содержащий две дугообразные пластины, включенные в обратный провод шины опроса, а на пластинах размещены подвижные контакты, соединснныс компенсацио11но!! шиной, причем плоскость перемещения компенсационной шины перпендикулярна контуру прямого и обратного проводов выходной шины.

Эти отличия позволяют повысить производительность и надежность устройства, а так «е точность отбраковки магнитных элементов.

На фиг. 1 изображена блок-схема устройства; на фиг .2 — программа импульсов разбраковки; на фнг, 3 — схема транзисторного формирователя отрицательных импульсов токов записи н разрушения; на фнг. 4 — схема соединений эталонного и испытуемого магннт5 ных элеAIclITQB, например онаксов, содержащая компснсатор помехи.

Устройство содержит программный блок 1, блок 2 формирователей токов записи н разрушения. блок, 3 формирователей токов опроса, 1р измерительный узел 4, блок 5 измерений, анализатор 6 годности.

Эталлонный и испытуемый биаксы устанавливают в измерительный узел 4, выполненный в виде высокочастотного разветвителя.

15 Программный блок 1, формнру!ощнй необходимую последовательность управляющих импульсов и потенциалов, которые обеспечивают сннхроннзацшо работы всех функциональных блоков автомата, состоит нз шести20 разрядного счетчика и комбинацношнтго многоступенчатого дсшнфратора, позволяющего создать набор потенциалов н импульсов, управляющих работой всего комплекса.

Блок 2 формирователей токов записи и разрушения формирует токовую программу 7 записи н разрушения (фнг. 2). В его состав входит схема формирователя отрицательных импульсов токов записи и разрушения (фиг. 3). позволя!Ощал автоматически изменять амплияп туду токов записи н разрушения в соотвстст291247 вии с командами, поступающими из анализатора годности и программного блока. Схема состоит из двух последовательно включенных транзисторных ключей. При закрытом транзисторе 8 и открытом транзисторе 9 ток протекает по цепи резистор 10 — диод 11 — резистор 12 — транзистор 9 — — резистор 18, и его амплитуда определяется, в основном, сопротивлением резисторов 10 и 12. При открыты. . транзисторах цепь резистор 10 — диод 11 шунтирована малым внутренним сопротивлением открытого транзистора 8, и амплитуда тока определяется, в основном, сопротивлением резистора 12. Прн этом цепь резистор 10 — диод 11 практически не влияет на амплитуду тока.

Блок 8 формирователя токов опроса (фнг.

1) формирует токовую программу 14 опроса (см. фиг. 2) для чередующегося опроса эталонного и испытуемого оиаксов.

Токовг,г программа для испытаний биакса подается»а измерительный узел 4 с эталонным и испытуемым биаксами, соединенными по схеме (фнг. 4), позволяющей сравнить амплитуды их выходных сигналов.

Эталонный 15 и испыт смый 16 оиаксы имеют общую шину записи 17, которая одновременно является общей выходной шиной.

По шине 17подается программа записи и разрушения от формирователей токов записи и разрушения. Через отверстия опроса эталонного и испытуемого биаксов проходят шины опроса 18 н 19, соответственно, по которым пода1отся нмпульсы токов опроса от формирователей токов опроса.

В момент воздействия спада импульсов тока опроса с выходной шины 17 снимаются напряжения выходных сигналов 20 (см. фиг.

2) в зависимости от записанной на бпаксы информации к моменту опроса эталонного нлн испытуемого биакса.

Измерительный узел 4 устройства (см, фиг.

1) содержит два компенсатора 21 помехи (см. фиг. 4), в каждый из которых входят две дугообразные пластины 22, включенныс в обратные провода шин опроса 18 и 19, соответстВенно, я ня каждой плястнне размещены подвижные контакты 28, соединенные компенсационной шнной 24, причем плоскость перемещення шины перпендикулярна контуру прямого и обратного проводов выходной шины 17.

Компенсаторы 21 позволяют менять емкостную связь между каждой из шин опроса и выходной шиной.

Выходные сигналы с эталонного и измеря.

III емого биаксов поступают на блок 5 измерений, состоящий из двух идентичных каналов.

В каждый канал включена следящая система, отраоатывающая уровень селекции, пропорциональный амплитуде сигналов с эталонного

15 биакса. С уровнем селекции сравнивается амплитуда сигналов с испытуемого биакса.

Предмет изобретения

1. Устройство для разбраковки магнитных элементов, например биаксов, содержащее программный блок, анализатор годности, измерительный блок, транзисторные формиро25 ватели отрицательных и положительных импульсов токов записи и разрушения, шины опроса и выходные шины, от.гичаюи(ееся тем, что, с целью повышения производительности н надежности устройства, в цепь коллектора з11 каждого формирователя отрицательных ими 1 1hcoII и В цепь эмнттсря кяж Iol о форл1ировятсля положительных импульсов токов записи и разрушешгя вклочены последовательно сое„.1нненные диод н потенциометр, шунтированные клк>чевым элементом, например транзистором.

2, Устройство по п. 1, от.гичаюшееся тем, что, с целью повышения точности отбраковки магнитных элементов, в него введен компен4О сатор помехи, содержащий две дугообразные пластины, вклоченные в обратный провод шины опроса, а на пластинах размещены подвижные контакты, соединенные компенсационной шиной, причем плоскость перемещения компенсационной шины перпендикулярна контуру прямого н обратного проводов выходной шины.