Устройство для разбраковки магнитных элементов

Устройство для разбраковки магнитных элементов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

291247

ОП ИСАНИЕ

Союз Соеетскят

Социалистическит

Республик

ИЗОБРЕТЕН ИЯ, к втояскомь сеидетвпьстек

Зависимое от авт. свидетельства X"—

МПК G 1lc 29100 (Заявлено 10.1Ч.1969 (Ле 1320539 18-24) с присоединением заявки №вЂ”

Приоритет—

Опубликовано 06.1.1971, Бюллетень ¹ 3

Дата опубликования опнсаш!я 29.III.197!.

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Ъ ДК 681.32у.66(088.8) Автор изобретения

Ю, Д. Сачко, Е. Г. Ойхман, Б. Н. Викторов и С. И. Гагартвтт = .р:->.

," j,, -" - ;„!. " 11 Ц бт,Г.-)!,

Ет:. .

Заявители

УСТРОЙСТВО ДЛЯ РАЗБРАКОВКИ МАГНИТНЪ|Х ЭЛЕМЕНТОВ

Известно устройство длл разбраковкн магнитных элементов, например бнаксов, содержащее программный блок, анализатор годности, измерительный блок, транзисторные формирователи отрицательных и положительных импульсов токов записи и разрушения, шины опроса и выходные шины.

Описываемое устройство отличается от известного тем, что В цепь 1 Ол:1сктора каждого формирователя отрицательных импульсов н в цепь эмиттера каждого формирователя положительных импульсов токов записи н разрушения вкл!очсны последовательно соединенные диод и потенциомстр, шунтированныс ключевым элементом, например транзистором.

Другое отличие устройства состоит в том, что в него введен компенсатор помехи, содержащий две дугообразные пластины, включенные в обратный провод шины опроса, а на пластинах размещены подвижные контакты, соединснныс компенсацио11но!! шиной, причем плоскость перемещения компенсационной шины перпендикулярна контуру прямого и обратного проводов выходной шины.

Эти отличия позволяют повысить производительность и надежность устройства, а так «е точность отбраковки магнитных элементов.

На фиг. 1 изображена блок-схема устройства; на фиг .2 — программа импульсов разбраковки; на фнг, 3 — схема транзисторного формирователя отрицательных импульсов токов записи н разрушения; на фнг. 4 — схема соединений эталонного и испытуемого магннт5 ных элеAIclITQB, например онаксов, содержащая компснсатор помехи.

Устройство содержит программный блок 1, блок 2 формирователей токов записи н разрушения. блок, 3 формирователей токов опроса, 1р измерительный узел 4, блок 5 измерений, анализатор 6 годности.

Эталлонный и испытуемый биаксы устанавливают в измерительный узел 4, выполненный в виде высокочастотного разветвителя.

15 Программный блок 1, формнру!ощнй необходимую последовательность управляющих импульсов и потенциалов, которые обеспечивают сннхроннзацшо работы всех функциональных блоков автомата, состоит нз шести20 разрядного счетчика и комбинацношнтго многоступенчатого дсшнфратора, позволяющего создать набор потенциалов н импульсов, управляющих работой всего комплекса.

Блок 2 формирователей токов записи и разрушения формирует токовую программу 7 записи н разрушения (фнг. 2). В его состав входит схема формирователя отрицательных импульсов токов записи и разрушения (фиг. 3). позволя!Ощал автоматически изменять амплияп туду токов записи н разрушения в соотвстст291247 вии с командами, поступающими из анализатора годности и программного блока. Схема состоит из двух последовательно включенных транзисторных ключей. При закрытом транзисторе 8 и открытом транзисторе 9 ток протекает по цепи резистор 10 — диод 11 — резистор 12 — транзистор 9 — — резистор 18, и его амплитуда определяется, в основном, сопротивлением резисторов 10 и 12. При открыты. . транзисторах цепь резистор 10 — диод 11 шунтирована малым внутренним сопротивлением открытого транзистора 8, и амплитуда тока определяется, в основном, сопротивлением резистора 12. Прн этом цепь резистор 10 — диод 11 практически не влияет на амплитуду тока.

Блок 8 формирователя токов опроса (фнг.

1) формирует токовую программу 14 опроса (см. фиг. 2) для чередующегося опроса эталонного и испытуемого оиаксов.

Токовг,г программа для испытаний биакса подается»а измерительный узел 4 с эталонным и испытуемым биаксами, соединенными по схеме (фнг. 4), позволяющей сравнить амплитуды их выходных сигналов.

Эталонный 15 и испыт смый 16 оиаксы имеют общую шину записи 17, которая одновременно является общей выходной шиной.

По шине 17подается программа записи и разрушения от формирователей токов записи и разрушения. Через отверстия опроса эталонного и испытуемого биаксов проходят шины опроса 18 н 19, соответственно, по которым пода1отся нмпульсы токов опроса от формирователей токов опроса.

В момент воздействия спада импульсов тока опроса с выходной шины 17 снимаются напряжения выходных сигналов 20 (см. фиг.

2) в зависимости от записанной на бпаксы информации к моменту опроса эталонного нлн испытуемого биакса.

Измерительный узел 4 устройства (см, фиг.

1) содержит два компенсатора 21 помехи (см. фиг. 4), в каждый из которых входят две дугообразные пластины 22, включенныс в обратные провода шин опроса 18 и 19, соответстВенно, я ня каждой плястнне размещены подвижные контакты 28, соединенные компенсационной шнной 24, причем плоскость перемещення шины перпендикулярна контуру прямого и обратного проводов выходной шины 17.

Компенсаторы 21 позволяют менять емкостную связь между каждой из шин опроса и выходной шиной.

Выходные сигналы с эталонного и измеря.

III емого биаксов поступают на блок 5 измерений, состоящий из двух идентичных каналов.

В каждый канал включена следящая система, отраоатывающая уровень селекции, пропорциональный амплитуде сигналов с эталонного

15 биакса. С уровнем селекции сравнивается амплитуда сигналов с испытуемого биакса.

Предмет изобретения

1. Устройство для разбраковки магнитных элементов, например биаксов, содержащее программный блок, анализатор годности, измерительный блок, транзисторные формиро25 ватели отрицательных и положительных импульсов токов записи и разрушения, шины опроса и выходные шины, от.гичаюи(ееся тем, что, с целью повышения производительности н надежности устройства, в цепь коллектора з11 каждого формирователя отрицательных ими 1 1hcoII и В цепь эмнттсря кяж Iol о форл1ировятсля положительных импульсов токов записи и разрушешгя вклочены последовательно сое„.1нненные диод н потенциометр, шунтированные клк>чевым элементом, например транзистором.

2, Устройство по п. 1, от.гичаюшееся тем, что, с целью повышения точности отбраковки магнитных элементов, в него введен компен4О сатор помехи, содержащий две дугообразные пластины, вклоченные в обратный провод шины опроса, а на пластинах размещены подвижные контакты, соединенные компенсационной шиной, причем плоскость перемещения компенсационной шины перпендикулярна контуру прямого н обратного проводов выходной шины.