Патент ссср 302776

Патент ссср 302776

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

О П И С А Н И Е 30277б

Союз Советских

Социалистических

Республик

ИЗОБРЕТЕН >

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства ¹

Заявлено 10.Х1.1969 (И 1375843 26-9) МПК Н 01р 3/20 с присоединением заявки №

Комитет по делам иэобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Приоритет

Опубликовано 28.IV.1971. Бюллетень № 15

Дата опубликования описан пя 7.Х. 1971

УДК 621.317.029 (088.8) Автор изобретения

Д. П. Лукьянов

Ленинградская военная инженерная Краснознаменная академ им, А. Ф. Можайского

Заявитель

СПОСОБ ИЗМЕРЕН ИЯ РАЗНОСТИ ФАЗ (ЧАСТОТ) ДВУХ ЭЛ ЕКТРОМАГН ИТН ЫХ КОЛ ЕБАН И Й

Изобретение относится к области измерений и может найти применение в фазометрических доплеровских системах, а также в кольцевых оптических квантовых генераторах для выделения сигналов разностей частоты без использования объединяющей оптики (схем совмещения).

Известны способы измерения разности фаз (частот) двух электромагнитных колебаний с использованием сложных объединяющих систем, например призм или совокупности зеркал, не обеспечивают измерения на субмиллиметровых волнах.

Цель изобретения — обеспечение работы на субмиллиметровых волнах и увеличение диапазона углов их прихода.

Дл@ этого по предлагаемому способу на пути двихкения волн перед приемником размещают периодическую структуру с периодом, кратным нечетному числу полупериодов пространственной модуляции результирую цей интерференционной картины наклонно падающих волн вдоль плоскости структуры, и осуществляют индикацию разности фаз с помощью приемника, расположенного в направлении диффракционного максимума поля за периодической структурой.

На чертеже дана схема, поясняющая предлагаемый способ.

На схеме изображены наклонно падающие волны 1 и 2, периодическая структура 8 (например, дпфракционная решетка), приемники

4, 5 и б.

На пути движения волн 1 и 2 размещают периодическую структуру, например дифракционную решетку, с периодом, равным периоду Х. Выбирая соответствующим образом ширину b штрихов решетки принимая, наприХ1

»ep, b= — можно прикрыть ими часть ин2, терференционной картины, оставив открыты15 ми, например, только максимумы результирующего поля. Прп этом в соседних участках дифракционной решетки поле окажется в фазе и вдоль некоторых направлений за дифракционной решеткой образуются максимумы.

Направления на эти максимумы можно найти из соотношений теории дифракцииОдно из таких направлений вдоль перпендикуляра к II;IocKOcT;> решетки даст основной

25 максимум. Ес. ш в направлении дифракционных максимумов разместить приемники, то они могут выделить информацшо о разности фаз интерферирующих волн. При этом ширина максимумов получается достаточно боль30 шой, и при незначительном изменении углов

302776

2 /

/ ЪЧе АЫГ:БЯХ:

Составите.п, А. Мерман

Текред А. А. Камышникова

Корректор О. И. Волкова

Г, диктор T. Иванова

Заказ 2642, 4 И ад . о 1Ц.15 Тира>к 473 Подписное

Ц1-1(1ИПИ Комитета по делам изопрстений и QTr

Москва, )К-Зо, Раун.скан паб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 падения волн интенсивность максимумов меняется незначительно.

Аналогично выделяется информация о частоте биений волн, если их частоты не равны.

В этом случае максимумы и минимумы результирующего интерференционного поля перемещаются вдоль оси Х со скоростью, пропорциональной разностной частоте в — о, в результате чего интенсивность максимумов за периодической структурой меняется с той же частотой.

Предмет изобретения

Способ измерения разности фаз (частот) двух электромагнитных колебаний с помощью объединяющего устройства и приемника, отлича ощийся тем, что, с целью обеспечения работы на субмиллиметровых волнах и увеличения диапазона углов их прихода, на пути движения волн перед приемником размещают периодическую структуру с периодом, кратным нечетному числу полупериодов пространственной модуляции результирующей,интерференционной картины наклонно падающих

10 волн вдоль плоскости структуры, и осуществляют индикацию разности фаз с помощью приемника, расположенного в направлении диффракционного максимума поля за периодической структурой.