Эталонное приспособление для рентгеноструктурного анализа

Эталонное приспособление для рентгеноструктурного анализа

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ЗО9287

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

R АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Сова Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства ¹

Заявлено ОЗЛ!.1969 (№ 1304811/26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 09.VII.1971. Бюллетень М 22

МПК б 01п 23/22

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 539.261(088,8) Дата опубликования описания 1.IX.1971

Авторы изобретения

А. M. Байков и В. А. Ланда

Заявитель

Всесоюзный научно-исследовательский инструментальный институт

ЭТАЛОННОЕ HPИСПОСОБЛЕНИЕ

ДЛЯ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА

Эталонное приспособление предназначено для дифрактометрических установок рентгеноструктурного анализа и обеспечивает точный анализ количества фаз и их соотношения в многофазных системах.

Предложенное приспособление выполнено в виде двух брусков, между которыми установлен анализируемый образец. Бруски скреплены двумя планками. На внутренней стороне нижнего бруска расположена эталонная пластинка, лежащая в одной плоскости с плоскостью образца. На нижнем бруске сделан срез под углом 40 — 50 .

На фиг. 1, 2 изображено эталонное приспособление, общий вид и сечение по А — А; на фиг. 3 — эталонное приспособление с образцом в держателе образцов дифрактометра

УРС-50И.

Эталонное приспособление состоит из верхнего 1 и нижнего 2 брусков, двух планок 8, скрепляющих эти бруски, и эталонной пластинки 4. Анализируемый образец 5 расположен между верхним и нижним брусками. На нижнем бруске сделан срез под углом 40—

50 .

Эталонное приспособление крепится на держателе образца дифрактометрическнх установок вместе с образцом (см. фиг. 3).

Срез на нижнем бруске позволяет использовать образцы с одним прямым ребром н гранями, находящимися под 1 глом больше

90 . Площадь эталонной пластинки занимает часть площади всей облучаемoi поверхности.

Доля этой площади зависит от химического состава анализируемого материала, так как высота фона флюоресцентного излучения составляющих элементов исследуемого материала и излучения, на котором ведется исследование, может быть различной.

15 Предмет изобретения

1. Эталонное приспособление для рентгеноструктурного анализа, отличающееся тем, что, с целью повышения точности анализа, оно выполнено в виде двух брусков, скрепленных между собой на выбранном расстоянии, причем один из брусков несет на себе =-талонный материал.

2. Приспособление по и. 1, отличаюи1ееся тем, что, с целью расширения днапа=она изме25 рений, на бруске, несущем эталонный материал, имеется срез под углом 40 — 50 .

309287

A A Раг.2

Фиг.1 вериг.3

Составитель E. И. Шульгин

Редактор T. 3. Орловская Тсхред E. Борисова

Корректор О. Б. Тюрина

Типография, пр. Сапунова. 2

Заказ 2249,!4 Изд. Ж. 993 Тираж 473 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4i 5