Способ определения точки кюри ферритов

Способ определения точки кюри ферритов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

3lOl35 опНСАННЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ т оюз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 16. I I 1.1970 (Ko 1416370/18-10) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 26Л 11.1971. Бюллетень ¹ 23

Дата опубликования описания 4.Х.1971

МПК С 01k 7/,38

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 536.5:538.665(088.8) Авторы изобретения H Д. Урсуляк, Е. И. Гешко, М. А. Овчинников и А. В. Белицкий

Заявитель

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЧКИ КЮРИ ФЕРРИТОВ

Настоящее изобретение относится к области температурных исследований и может быть использовано для определения точки

Кюри на микрообъемах монокристаллических и поликристаллических ферритов одновременно с измерением параметра кристаллической решетки.

Известно несколько способов определения точки Кюри: по максимуму температурного коэффициента сопротивления, по максимуму отрицательного гальвано-магнитного эффекта, по исчезновению самопроизвольной намагниченности или путем экстраполяции температурных кривых истинной намагниченности к нулевому их значению, по обращению в нуль начальной проницаемости и т. д.

Основным недостатком всех перечисленных способов следует считать зависимость точности измерений от массы образца (в случае малых образцов). Некоторые из методов измерений не пригодны для определения точки

Кюри на образцах произвольной формы.

Для повышения точности определения точки Кюри ферритов на микрообъемах вещества ((10 е смз) произвольной формы, в том числе и на пленках, одновременно с измерением параметра кристаллической решетки.

Это достигается тем, что снимают температурную зависимость интенсивности дифракционных рентгеновских линий и по аномальному. спаду этой интенсивности определяют искомую точку.

Сущность способа заключается в том, что температурная зависимость интенсивностей дифракционных рентгеновских линий аномально уменьшается вблизи температуры точки Кюри, что обусловлено переходом из ферромагнитного состояния в парамагнитное.

Для практических целей определения точки то Кюри более приемлемым является построение логарифма относительных интенсивностей

1т рентгеновских линий от температуры 1

J0

= f (T), где 1о — интегральная интенсивность рентгеновской дифракционной линии при некоторой температуре Т, (например, Т, — комнатная температура, 300 К), 1т — текущее значение интенсивности. Измерение интегральной интенсивности дифракционной линии с углами Вуньера — Брега в пределах

V ) 45 может быть проведено с помощью стандартных приборов.

Точность определения точки Кюри не ху25 же +- 1, На чертеже приведена температурная зависимость логарифма относительной интегральной интенсивности дифракцпонной линии монокристаллического феррограната

Зо YgFe4,еСтас,е01 . Измерения проводились на

310135

4,Ю O,Я 5,0 5,1 5,2 55 5,и

Составитель И. И, Дубсои

Техред Л. Я. Левина Корректор 3. И. Тарасойа

Редактор С. И. Хейфиц

Заказ 2634/2 Изд. № 1120 Ч ираж 473 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

3 установке УРС-50ИМ в монохроматическом

СпКз-излучении с применением в качестве монохроматора кристалла LiF.

Предмет изобретения

Способ определения точки Кюри ферритов, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения на микрообъемах ферритов произвольной формы, снимают температурную зависимость интенсивности дифракционных рентгеновских линий и по аномальБ ному опаду этой интенсивности определяют искомую точку.