Магнитографический дефектоскоп

Магнитографический дефектоскоп

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ЗБШ

Союз Советских

Социалистических

Ревлуйлик

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

Заявлено 05.II.1970 (№ 1402096/25-28) с присоединением заявки №вЂ”

Приоритет

Опубликовано 211Х.1971. Бюллетень № 28

Дата опубликования описания 25.Х.1971.

МПК G 01п 27/82

Иовтитет ло лолам изобретений и открытий ори Совете Министров

СССР

УДК 680.179.14(088.8) Авторы изобретения

Л. М. Клюкин, Ю. H. Николаев и В. А. Фабриков

Заявитель

МАГНИТОГРАФИЧЕСКИЙ ДЕФЕКТОСКОП

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а именно к области контроля качества стыковых сварных соединений или неоднородностей в металлах и диэлектриках.

Известны матнитографические дефектоокопы для контроля качества сварных соединений, содержащие магнитный носитель, выполненный в виде ферромагнитной пленки, источник магнитного поля, счи гывающее устройство и электроннолучевую трубку, на экране которой наблюдается изображение дефекта. Однако конструкция этих дефектоскопов сложна и, кроме того, они применяются лишь для контроля ферромагнитных материалов.

Целью настоящего изобретения является упрощение конструкции и получение возможности контролировать не только ферромагнитные материалы, но и неферромагнитные.

В предлагаемом дефектоскопе магнитный носитель выполнен в виде тонкой магнитной пленки с полосовой доменной структурой, на поверхность которой нанесен магнитный коллоид, а дефектоскоп снабжен источником импулысного магнитного поля, расположенным по отношению к первому так, что поля их ортогональны и направление силовых линий параллельно плоскости пленки, источником света и защитным экраном, расположенными в плоскости, нормальной к плоскости пленки и совпадающей с направлением силовых линий второго источника магнитного поля.

Для расширения области применения дефектоскоп снабжен источником импульсного электрического поля, силовые линии которого параллельны полю второго источника магнитного поля.

Описываемый дефектоскоп изображен на чертеже.

Магнитографический дефектоскоп содержит пластину 1, на которой размещены источник

2 магнитного поля ориентации, источник 3 импульсного магнитного поля записи, источник импульсного электрического поля (не показан), источник света (осветитель 4), защитный экран б, магнитный носитель б, представляющий собой тонкую магнитную пленку с полосовой доменной структурой, на поверх20 ность которой нанесен магнитный коллоид, герметизируемый прозрачным покрытием и контролируемый объект 7. Контроль с помощью дефектоскопа ведется наблюдателем 8.

Магнитографический дефектоскоп работает

25 следующим образом.

Дефектоскоп устанавливают на поверхностт контролируемого объекта. С помощью импульса тока, длительность которого превышает 40 мксек, источником магнитного поля

S0 ориентации создается магнитное поле величи315111

Составитель В. Тазина

Редактор Л. Жаворонкова Техред 3. Н. Тараненко Корректор В. П. Федулова

Заказ 3035/11 Изд. № 1260 Тираж 473 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ж-35 Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 ной не менее 400 э в .плоскости магнитного носителя. Это поле ориентирует домены пленки в определенном направлении. После окончания действия поля ориентации в направлении, нормальном к на правлению поля ориентации, к магнитной пленке прикладывается поле записи, длительность которого зависит от толщины материала (чем толще контролируемый объект, тем длительность .импульса больше) и его свойств (если материал не ферромагнитный, то, чем выше проводимость материала, тем короче импульс). Величина поля записи определяется свойствами пленки: полем старта или полем насыщения.

В процессе, приложения поля записи к пленке над ней возникает поле, определяемое реакцией поверхности контролируемого объекта и самим полем записи. В тех местах пленки, где результирующее поле превысит ,поле старта, .произойдет поворот полосовых доменов пленки. Такими местами являются бездефектные места; на тех участках, где имеются неоднородности (по удельному сопротивлению металла или пустоты), суммарное поле имеет меньшее значение, записи не произойдет или угол поворота будет меньшим.

Раопределение углов поворота доменов отражает картину распределения неоднородностей в контролируемом объекте.

Таким образом, благодаря тому, что сочетание коллоида и пленки приводит к появлению на ее поверхности магнитоуправляемой дифракционной решетки, записанное изображение мгновенно переводится в порошковые картины, наблюдаемые под углом дифракции указанной решетки с помощью осветителя и защитного экрана. Яркость наблюдаемой картины высока, она определяется нааравленностью излучения с поверхности магнитной пленки.

10 Предмет изобретения

1. Магнитографический дефектоскоп, содержащий матнитный носитель и источник магнитного поля, отличающийся тем, что, с целью упрощения конструкции, магнитный носитель выполнен в виде тонкой магнитной пленки с полосовой доменной структурой, на поверхность которой нанесен магнитный коллоид, а дефектоскоп снабжен источником импульсного магнитного поля, раоположенным по отноше 0 нию к первому так, что поля их ортогональны и направление силовых линий параллельно плоскости пленки, источником света и защитным экраном, расположенными в плоскости, нормальной к плоскости пленки и совпадаю25 щей с направлением силовых линий второго источника магнитного поля.

2. Дефектоскоп по п. 1, отличающийся тем, что, с целью расширения области применения, он снабжен источником импульсного электри30 ческого поля, силовые линии которого параллельны полю второго источника магнитного поля.