Источник ионоввсесоюзнаяпатмтш"техш!4екаябиблиотека
Патент 335596
Классы МПК
Источник ионоввсесоюзнаяпатмтш"техш!4екаябиблиотека
Иллюстрации
Реферат
О П И С А Н И Е 335596
ИЗОБРЕТЕН ИЯ
N АВТОРСКОМУ СВЙДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик
Зависимое от авт, свидетельства №вЂ”
Заявлено 26.Х.1970 (№ 1486557/26-25) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 11.IV.1972. Бюллетень ¹ 13
Дата опубликования описания 10Х.1972
М. Кл. G Oln 27/62
В 010 59/44
Комитет по делам изобретений и открьпий при Совете Мииистрсе
СССР
УДК 621.384(088.8) Авторы изобретения
Л. H. Галль, М. С. Комаров, В. А. Павленко, М. С. Степанова, Т. Я. Фишкова, С. Я. Явор и Е. В. Шпак
Специальное конструкторское бюро аналитического приборостроения
АН СССР
Заявитель
ВСЕСС! 1С311АЯ
И7ПЛ4 - . :I l .,""" --.. -N."=1т
БИБЛЙОТЕКА
ИСТОЧНИК ИОНОВ
Изобретение относится к приборам для масс-спектрометрии.
При использовании в источниках ионов известных ионно-оптичсоких систем ширина изобра>кения увеличивается из-за коллимации пучка выходной щелью источника ионов, что приводит к резкому снижению светосилы ионно-оптической системы источника ионов и, следовательно, к снижению чувствительности масс-спектрометра.
Целью изобретения является уменьшение ширины линейного изображения до 10 лтк с незначительной коллпмацией.
Отличительной особенностью предлагаемого источника ионов является выполнение ионно-оптической системы из пятиэлектродных квадрупольпо-октупольных линз. Для обеспечения фокусировки кольцевых пучков и пучков с большими входными углами система ионизации исследуемого вещества помещена в область поля пятиэлектрод ной квад„",упольно-октупольной линзы.
Изобретение позволяет увеличить,коэффициент использова ния пробы и улучшить геометрические параметры пучка.
Схема предлагаемого источника ионов изображена на чертеже.
Источник ионов, включает в себя систему ионизации 1, систему согласования 2 и дублет 3 пятиэлектрод ных квадрупольно-октупольных лтснз. Объектом дублета является щель;последнего заземленного электрода системы согласования (система согласования может быть любой в зависимости от способа ионизации, п ринятого в источнике ионов) .
Изображение совмещается с выходной щелью
4 источника ионов.
Использование дублета IIHTHýëåêòðoäíûõ квадруопольно-окту польных линз .в источнике
10 ионов не только существенно улучшает параметры пучка ионов в горизонтальном и вертикальном направлениях, но и упрощает систему согласования, так как вследствие компенсации сферической аберрации ширины линей15 ного изображения требования к параметрам пучка ионов на входе в дублет становятся значительно менее жесткими.
В предлохкенном источнике ионов можно получить ширину линейного изображения по20 рядка 10 лк для сплошных пучков ионов с входными углами расходимости до 10 . Кроме того, возможна фокусировка полых кольцевых пучков ионов с выходными углами расходимости до 45 . При этом положение
2о выходной щели источника ионов приближается к дублету относительчо положения,плоскостей гауссового изображения HB величину, равную произведению коэффициента сферической аберрации на квадрат
30 входного угла расходимости пучка ионов, Та335596
Предмет изобретения
4-А
Составитель И. Алимова
Техред A. Камышникова
Корректор О. Волкова
Редактор Т. Орловская
Заказ 1282/2 Изд. № 523 Тираж 448 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2 ким образом, конструктивно источники ионов для фокусировки сплошных пучков с большим углом расходимости и кольцевых пучков различаются только .положением выходной щели источника. Пучки с большими углами расходимости и кольцевые пучки появляются, например, при ионизацпи полем. Для фокусировки |пучков с большим yiI JIoi>I расходпмости система ионизации должна быть помещена в область .поля линзы соосно с последней. Анализ условий фокусировки показывает, что и в этом случае может быть получено изображение со скомпенсированной сферическои аберрацией, причем а пертура дублета обеспечивает использование всего, пучка без потери интенсивности на электродах линз. Прп этом величины потенциалов на электродах .пят электродных квадрупольно-октупольных линз не,превышают величины ускоряющего напряжения; на внешний электрод подастся потенциал, соответствующий эпер пп ионов, а октупольные добавки потенциала подаются па внутренние электроды линз.
Использование более сложных систем пз пятиэлектродных линз (различные мультиплеты) позволяет также фор InpoBBTh .пучки ионов с более широко варьируемыми,на входе и выходе параметрами.
Таким образом; применение пятиэлектродных квадруполь но-октупольных линз в качестве элемента ионно-оптической системы псточника ионов позволяет уменьшить га бариты и упростить конструкцию источника ионов, значительно расширить аналитические,возможности масс-спектрометра за счет, повыше5 нпя разрешающей с пособности при значительно меньшем снижении чувствительности (малая ширина изображения в плоскости входной щели источника ионов) и применения методов ионизация, характеризующихся образованием
10 ионов в большом объеме или с большим телесным углом начальных скоростей.
1. Источник ионов, содержащий систему ввода анализируемого вещества, систему ионизации этого вещества и ионно-оптическую систему, отличающийся тем, что, с целью уве20 личепня коэффициента использования пробы и улучшения геометрических параметров,пучка в двух плоскостях, ионно-оптическая система вы полнена из пятиэлектродных квадрупольно-октуполыных линз.
25 2. Источник ионов по iII. 1, отличающийся тем, что, с целью обеспечения фокусировки кольцевых пучков и пучков ионов с большими входными углами, система ионизации исследуемого вещества помещена в область поля
30 пятиэлектродной квадрупольно-октупольной линзы.