Устройство для измерения радиусов кривизны больших поверхностей
Патент 34190
Авторы
Классы МПК
Устройство для измерения радиусов кривизны больших поверхностей
Иллюстрации
Реферат
go gg $ g() Класс 42 h, 35
ABTGPCHGE СВИД(ПЛЬСТВО НА H306PETERNE
ОПИСАНИЕ устройства для измерения радиусов кривизны больших поверхностей.
К авторскому свидетельству Д. Д. Максутова, заявленному 7 декабря
1932 года (спр. о перв. № 119766).
0 ввдаче авторского свидетельства опубликовано 31 января 1934 года.
d,: гг я: d,: d, .. = 1: б 2: 2: 2 )/ 2...
f429) При измерении радиуса кривизны поверхностей астрономических зеркал, линз объективов и вообще любых больших сферических поверхностей умеренной кривизны в процессе их изготовле:ния пользуются в большинстве случаев прибором, называемым сферометром.
Сферометры обычного типа имеют в своем основании микрометренный винт или шкалу высокой точности изготовления, с помощью которых измеряется
-стрелка, а по ней и радиус кривизны испытуемой поверхности.
Эти сферометры достаточно сложны, требуют исключительной точности механической, а иногда и оптической частей, а потому цена их весьма высока.
Йредлагаемое устройство для этой же .дели построено по иному принципу, заключающемуся в применении эталона постоянной толщины в виде шариков, . причем отсчеты длин производятся по шкале пониженной точности.
На чертеже фиг. 1 изображает вид устройства сверху; фиг. 2 — схему устройства для измерения радиуса кривизны .вогнутых поверхностей; фиг. 3 — схему уст1аойства для измерения радиуса кривизны выпуклых поверхностей.
Устройство (фиг. 1) состоит из снабженной делениями линейки 1 из прозрачного материала (стекла) и одного или двух шариков 2 и 2 .
На нижней поверхности линейки 1 выфрезерован желобок 3 для прохождения нити 4, с помощью которой по измеряемой поверхности подтягивается шарик 2 до соприкосновения с линейкой 7.
Для отсчетов и установки на центр шарика предусмотрен хомутик 5, снабженный любыми штрихами и нониусом на зеркальном стекле, которое, кроме того, может быть частично засеребрено снизу для наблюдения зеркального отражения штриха. К каждому устройству желательно иметь набор из нескольких шариков 2, построенный приблизительно по следующей системе:
На фиг. 2 представлена схема измерения радиуса кривизны вогнутой поверхности, Зная диаметр d шарика 2 и имея, отсчеты л, и, и л„дающие величины Й и г, находят радиус кривизны Я поверхности по следующей формуле: ггл — г) гв и + аггв — г) При небольших относительных кривизнах вторым членом формулы можно пренебречь. На фиг. 2 представлена схема измерения радиуса кривизны выпуклой сферической поверхности с помощью двух шариков 2 и 2, произвольного, но точно измеренного диа метра
d и ггв. Измерение величины l производят по той же шкале при пониженной точности измерения..радиус кривизны R в. этом случае определяется по формуле: . (2)
2 (й + А + 2 б и ° й)
В случае полированной выпуклой поверхности можно пользоваться одним шариком 2, наблюдая точку касания между линейкой 1 и выпуклой сферой по кольцам Ньютона с помощью светофильтра.
В этом случае, т. е. при d> — — О, величину радиуса кривизны Я определяют по следующей формуле: л
R —.......(3)
2й
По подсчетам изобретателя, измеряя величины l u D с точностью до 0,2 мм, величину d с точностью до 0,01 мм и, пользуясь для шкалы обычным зеркальным стеклом, при определении радиуса
Фиг 3
Š—, 1 — 1 —
1
/
Л иирояиечатьсоюз. Тип.,Пет, Труд". Зак. Т238 — 466
Эксперт Н. Н. Георгиевс:: ..
Редяктор Н. П. Адаи ее кривизны вогнутого зеркала диаметрви в 2500 мм, имеющего относительное отверстие1:5, допускают ошибку порядка
0,0003, т. е. 0,03% измеряемой величины.
Предмет изобретения.
Устройство для измерения радиусов кривизны больших поверхностей, отиичающвеся применением снабженной делениями лйнейки 1 из прозрачного материала, предназначенной для наклады- вания на испытываемую поверхность, и одного шарика 2 для вогнутой поверхности и двух 2 и 2 для выпуклой поверхности, имеющих точно калиброваи ные диаметры и предназначенных для подкатывания по измеряемой поверхности под линейку 1 для отсчета по делениям на ней положения шариков.