Прибор для определения светорассеяния и мутности среды

Прибор для определения светорассеяния и мутности среды

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Щ Яф8Щ

Класс 421, 3

АВТОРСКОЕ СВИДЕТЕЛЬСТВО НА ИЗО6РЕТЕНИЕ

ОПИСЙНИЕ прибора для определения светорассеяния и мутности средыК авторскому свидетельству IN. IN. Гуревича, заявленному 16 октября

1931 года (спр. о перв. № 96062), 0 выдаче авторского свидетельства опубликовано 28 февраля 1934 года.

1а= к F (527) Прибор для определения светорассеяния мутности среды при помощи фотоэлемента состоит из ряда линз, имеющих общую ось 00 (см. чертеж). Источник света S, расположенный на, оси, освещает при помощи.линзы 4.4 небольшое отверстие а в непрозрачном экране

М, которое служит источником света для остальной оптической системы. Линза L» главный фокус которой находится в а, делает пучок параллельным. Параллельный пучок падает на линзу Еа, фокус которой лежит, в плоскости N.

Линза Z3 собирает параллельный пучок в другом фокусе в точке А, после чего пучок снова расходится и падает на линзу L, позади, которой помещен фотоэлемент Ф.

Фотоэлемент расположен таким образом, что задняя его поверхность приходится в фокальной плоскости линзы L4 (точка А не лежит в фокусе А4).

При таком расположении линз пучок света, вышедший из а и попавший на линзу L>, осветит часть поверхности фотоэлемента 4 и вызовет фототок Io, пропорциональный попавшему в фотоэлемент потоку Рв

lo = — + Fo.

После этого помещают исследуемый мутный слой в плоскости N, т. е. в параллельном пучке. Часть лучистого потока Рт пройдет через слой по старому пути и даст фототок

14=к Р т.

Часть потока рассеивается частицами слоя, который, вследствие этого, становится самостоятельным источннком излучения. Часть этого рассеянного слоем, потока падает на линзу Еа, в фокусе которой находится слой и, пройдя параллельным пучком между линзами Еа и 14 дает В фокалънОЙ плоскОсти L4 (дно фотоэлемента) изображение слоя.

Поток F» попадающий в фотоэлемент из рассеянного слоем света, вызывает пропорциональный себе фототок 1а

Помещая в плоскость N мутный слой, измеряют сумму токов I, +1а — — 1„которая вызывается попадающими одновременно в фотоэлемент потоками Рт и

F» Для того, чтобы отделить поток Рт

От ПОтОКа 4-а, ПОМЕЩаЮт В ФОКУСЕ ЛИНЗЫ

L там, где собираются лучи, проходящие через слой по прежнему пути, маленький экран Т, который не мешает рассеянным лучам попадать из Lа в

L4, а лучи, собирающиеся в а., задерживает целиком.

Таким образом, возможно измерить следующие токи: 1) 10, 2) 14+Та — — 1, и 3) 1» ь — ь, Отношение — = — = 1 дает ко+o 0 эфициент пропускания „прямых лучей" исследуемым слоем. 2

Отношение же > — S характеризует

1 степень мутности слоя.

Весь прибор от непрозрачного экрана М до фотоэлемента включительно, должен быть заключен в твердый светонепроницаемый футляр (черный изнутри) для устранения возможности попадания в фотоэлемент постороннего света.

Предлагаемый прибор дает возможность: 1) измерить в чистом виде пропускание „прямых лучей" без примеси рассеянных и 2) дать численную характеристику малых мутностей в направлении проходящего света (обычно измерения производятся в направлении, перпендикулярном к направлению луча).

Данныи прибором можно производить измерения в различных условиях.

Можно также снабдить фотоэлемент фильтром, приводящим кривую его чувствительности к кривой чувствитель. ности глаза или, взяв в качестве источника света S щ е л ь b м оOнHоoх рpоoм а тTоoр а, делать измерения для любой длины волны.

Предмет изобретения.

Прибор для определения светорассеяния и мутности среды при помощи фотоэлемента, отличающийся тем, что, с целью отделения потока прошедших через мутный слой лучей от потока лучей рассеянных, в фокусе собирательной линзы А„находящейся между фотоэлементом и освещаемой пучком параллельных лучей мутной средой, помещен экран Т.

Эксперт А. В. Уткин

Редактор Ю. Н. Вахрамеев

Ленпромпечатьсоюа. Тип. „Печ. Труд". Зак. 3995-400