Масс-спектрометр
Патент 354337
Классы МПК
Масс-спектрометр
Иллюстрации
Реферат
354337
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик
Зависимое от авт. свидетельства №
М, Кл. 6 Oln 27/62
В 010 59/44
Заявлено 14. 1/11!.1969 (№ 1356205/26-25) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 09.Х.1972. Бюллетень ¹ 30
Дата опубликования описания 31.Х.1972
Комитет по делам иаооретений и открытий при Совете Министров
СССР
УДК 621.384.8 (088.8) Авторы изобретения
О. Р. Савин, А. С. Кузема и В. П. Дубовенко
Заявитель
МАСС-СП EKTPOMETP
Изобретение относится к области массспектрометрии с анализирующими системами, содержащими неоднородные магнитные поля.
Известны конструкции масс-спектрометров, у которых, с целью повышения разрешающей способности и светосилы без увеличения габаритов, применяется аксиально-симметричное магнитное поле с высокой степенью неоднородности (и=1). Такое поле обладает значительно большей дисперсией по массам, чем однородное, и способно фокусировать ионы в вертикальном направлении. Однако горизонтальная фокусировка в таком поле отсутствует и для ее осуществления границы поля выполняют специальной формы или применяют электростатические линзы.
Более полной реализации полезных свойств неоднородного магнипного поля с n= l препятствует уширение изображения за счет разброса ионов по энергиям.
Дополнительные устройства, расположенные после масс-анализатора и служащие для фокусировки ионного пучка по направлению на коллектор масс-спектрометра, усложняют конструкцию прибора и его настройку, так как требуется тщательное согласование изменения магнитного поля масс-анализатора и дополнительного фокусирующего электромагнита, Кроме того,,в связи с увеличением габаритов масс-спектрометра, возрастают требования к вакуумной системе.
Отличительной особенностью предлагаемого масс-спектрометра с неоднородным магнитным полем (n= 1) и двойной фокусировкой является то, что в качестве энергоанализатора и фокусирующего устройства применен тороидальный конденсатор, например, цилиндрический, плоскость изображения ко1р торого при фокусировке по направлению совпадает с плоскостью изображения системы полей двух анализаторов при фокусировке по скорости.
Это позволяет избежать применения до15 полнительных фокусирующих систем и получить высокие значения дисперсии, разрешающей способности и чувствительности при сравнительно простой конструкции прибора и небольших габаритах.
2Р
На чертеже изображена схема масс-спектрометра, где:
1 — источник ионов;
2 — иОнныЙ П1 чок;
25 3 — тороидальный конденсатор;
4 — масс-анализатор;
5 — приемник ионов.
Из источника ионов 1 ионный пучок 2 по30 ступает в тороидальный конденсатор 3, элек354337
Предмет изобретения
Составитель Н. Алимова
Текред Т. Курилко
Редактор Л. Мазуронок
Корректоры: T. Медведева и 3. Тарасова
Заказ 3584/16 Изд. № 1485 Тираж 406 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, )К-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2 трическое поле которого фокусирует ионы по направлению и обеспечивает дисперсию по энергиям.
Масс-анализатор 4, представляющий собой неоднородное аксиально-симметричное. магнитное поле с n= l, разделяет ионы по массам.
Плоскость изображения энергоанализатора при фокусировке по направлению совпадает с плоскостью изображения си стемы полей двух анализаторов при фокусировке по скорости. В плоскости изображения системы полей двух анализаторов располагается приемник ионов 5.
Масс-спектрометр, содержащий источник ионов, масс-анализатор с аксиально-симме5 тричным неоднородным магнитным полем с коэффициентом неоднородности n= l и регистрирующее устройство, отличающийся тем, что, с целью повышения разрешающей способности и светосилы, между источником
10 ионов и масс-анализатором установлен тороидальный конденсатор, плоскость изображения которого при фокусировке по направлению совпадает с плоскостью изображения системы полей двух анализаторов при фоку15 сировке по скорости,