Элемент интегральной микросхемы

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

6.)-:::". ОП КСАН ИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

354768

Сак)з Саеетских

Социалистических

Респтблик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №

М. Кл. Н 01l 9/00

Заявлено 31.Ч.1971 (№ 1661167/26-9) с присоединением заявки №вЂ”

Приоритет

Комитет по делом изобретений и открытий при Спеете Министрае

СССР

УДК 621 382 232(088 8) Опубликовано 25.Х111972. Бюллетень М 4 за 1973

Дата опубликования описания 16.II.1973

Автор изобретения

И. Я. Ходак

Заявитель

ЭЛЕМЕНТ ИНТЕГРАЛЬНОЙ МИКРОСХЕМЫ

2 электриком, боковая поверхность которого значительно чище, чем поверхность подложки.

Применение подслоя диэлектрика под электродами и связанное с ним уменьшение тока

5 утечки позволяет увеличить стабильность, надежность и длительность работы, а также повторяемость параметров тонкопленочных планарных элементов. В качестве материала подслоя должны использоваться хорошие диэлек10 трики, например SiO.

Элемент интегральной микросхемы, напри15 мер планарный диод, состоящий из диэлектрической подложки, электродов и активного материала, отличающийся тем, что, с целью уменьшения тока утечки, увеличения стабильности, под электродами по их форме располо20 жен подслой диэлектрика.

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано на предприятиях, изготавливающих тонкопленочные элементы и схемы.

Цель изобретения — уменьшение тока утечки и увеличение стабильности устройства.

Достигается это тем, что под электродами по их форме расположен подслой диэлектрика.

На чертеже представлен элемент интегральной микросхемы.

Устройство состоит из подложки 1, электродов 2, активного материала 8 и подслоя из диэлектрикака 4.

Применение подслоя диэлектрика под электродами, протравленного по форме электродов, увеличивает длину пути поверхностного паразитного тока на удвоенную толщину подслоя диэлектрика АВ. Кроме того, в предлагаемой конструкции используется более чистый контакт между полупроводником и диПредмет изобретения

354768

Редактор Л. Мазуронок

Заказ 252/14 Изд. ¹ 1085 Тираж 404 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, OK-35, Раушская наб., д. 4!5

Типография, пр. Сапунова, 2

Составитель А. Туляков

Техред Л, Богданова

Корректоры: Л. Царькова и 3. Тарасова