Способ дефектоскопии ферромагиитныхкристаллов

Способ дефектоскопии ферромагиитныхкристаллов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

О П И С"А"Й Й-

ИЗСБРЕТЕН ЙЯ

36060!

Союз Советских

Социалистических

Респувлин

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

Заявлено 29ЛЧ.1970 (№ 1433547/25-28) с присоединением заявки №вЂ”

Приоритет—

Опубликовано 28.Х1.1972. Бюллетень ¹ 36

Дата опубликования описания 16.!.1973

М. Кл. G 01п 27/78 комитет fl0 делам изооретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 620.179.1 (088.8) Авторы изобретения

Я. А. Моносов и В. В. Сурин

Институт радиотехники и электроники АН СССР

Заявитель

СПОСОБ ДЕФЕКТОСКОПИИ ФЕРРОМАГНИТНЫХ

КР И СТАЛЛ ОВ

Изо бретен ие опноеи гся к области не1разр1ушаю1щего .ко нт1роля и может быть иаполь3oBа1но для отбора кристаллов с за дан ными .свойствами.

Известен способ дефектоскспии фе рромагнн гных IKIpIIICTaa oB, заклкхчающ ий оя в том, что на кристалл во здей сч1в уют посто ян ньгм маг нитным полем и СВЧ- полем, ота п ра1вле нньнм пер пенди куляр но постоя и ному,,и,измеряют шири ну спектра,поглощени я на частоте

СВЧ-поля, по.,вели чи не кото рой судят î IKaчестве,кристаллов.

Однако IHIBBBcTIHblH cllосо б позволяет Illpo водить измерения на образцах старого определенной формы и мальих размеро в, что требует раз руше ния вы|ра щен ных кр исталло в и длителыного в1ремени 1ез гото вления ко нтрольнькх об1разпов; кроме того, о н,по зволяет судить, в осио в1но м, о дефектах IIIOIBepxIHQIcTH кристалла, о внут1ре н н их |же дефектах судить ттрудн о, Перечисле нные:недостат ки связаны .с тем, что для измере н ия шlllpHIHbl спектра по гло1цен ия иаполызуются колебания однородной

;п роцессии емапн ит1ного момента кристалла с большей длиной волны, чувст1вителыным, в

OClHOBIHIOBf, IK ДЕфЕКтаМ,IIOIBelP XIHОСТИ КД И СтаЛла.

Для того, чтобы по высить чувствительность к pelgelKTBM, располо женн ым в1н ут ри кристалла, СВЧ-1поле прикла11тыва ют параллельно постоя н ном у посею .и MoIIIIIHolcтью неакол ыко еди н п ц в атт, о бес п ечив а кице и из 1учение из к1ристалла низко часто т ных колебаний,,по ширине спект1ра которьнх судят о дефеKTIHости к р исталла.

IIlocTo5IlHHoe и леременное СВЧ-магнитные поля .п ри кладывают к образцу Illapaллельно з ру г другу, При этом СВЧ-поле имеет мо щIHocTb, равную .несколыким ваттам, прп. кото,рой к|ристалл излучает низкочастотные колсба нпя магнитно го момента. IIIH)pIHHa спектра низкочастотных колеба|ний за висит от дефект ностц в нутри образца, Это п роисходит вследствие того, что па|раллелыное СВЧ-1поле,возбуждает внутри I pllcTaлла апи новые полоны с очень;короIIKQH длиной волны и нпзКо lac ToTIHble колебания, ко тсхрые модулир уют спино вые волны по амплитуде и излучаются оп из кристалла. Спи ноевые волны чу вствптельны к дефектам внутри кристалла: они рассеиваются на дефектах. При рассеивании изменяется од новремен но и,шири на с пекпра низкочастотных колебагпй. Поэтому ло ши25 pvlHe спектра низкочастотных,колеба|нпй, пзлуча1сщихся >рз к рпсталла, судят о,дефектности 1крксталла.

Предмет изобретения

30 Способ дефектоскопип ферромагнитных

3660601

Составитель Л. Савенко

Редактор T. Баранова Техред Л. Богданова Корректоры С. Сатагулова и Л. Кириллова

Заказ 5994 Изд. № 1825 Тираж 406 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, К-35, Раушская наб., д. 4/5

Загорская типография кристаллов, заключающийся .в том, что, на

1ориста IJI воздейспвуют постоянным:ма гнитныгм лолем и СВЧ-полем, отличающийся тем, что, с,целью повышения чу вст1вителыности, СВЧ-.поле, мощностью нес колыко еди ни ц ватт прикладьпва1от,параллелыно постоянному полю,и по шир и|не спекцра излучения низкочастотных,колебаний иристалла судят о его дефектности.