Всьсо'ознаа г5 ?,~ "irrij'-'; tiiluri :;^л '

Всьсо'ознаа г5 ?,~ "irrij'-'; tiiluri :;^л '

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

0 П И С А Н И Е 362345

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Сова Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 06.VI11.1970 (№ 1467341/18-24) с присоединением заявки №

Приоритет

М. Кл. G 1lс 7/00

G llс 11/44

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Опубликовано 13.Х11.1972. Бюллетень № 2 за 1973

Дата опубликования описания 8.II.1973

УДК 681.327.6(088.8) Автор изобретения

Р. А, Ченцов

Заявитель

КРИОТРОННОЕ УСТРОЙСТВО УПРАВЛЕНИЯ ЧИСЛОВЫМИ

ЛИНЕЙКАМИ КРИОТРОННОГО АССОЦИАТИВНОГО

ЗАПОМИ НАЮЩЕГО УСТРОЙСТВА

Известны криотронные устройства управления числовыми линейками криотронных ассоциативных запоминающих устройств (АЗУ), позволяющие обходить числовые линейки, содержащие определенные дефекты (например, обрывы шин в запоминающих или других элементах). Это дает возможность использовать в запоминающем устройстве частично дефектные платы, а следовательно, приводит к увеличению эффективного выхода годных плат при их производстве и к снижению стоимости устройства.

Известные устройства включают в себя цепь первичного запуска тока во все числовые линейки, содержащую в каждой числовой линейке один криотрон, вентиль которого включен в малоиндуктивную ветвь контура числовой линейки, а управляющая цепь — во внешнюю шину управления, общую для всех числовых линеек.

Недостатки известных устройств связаны с тем, что обход дефектных числовых линеек производится алгоритмическим путем непосредственно в процессе использования запоминающего устройства. Это усложняет логику внешнего управления запоминающим устройством, требует добавочного электронного оборудования и уменьшает быстродействие запоминающего устройства.

Целью изобретения является упрощение устройства и повышение его быстродействия.

Это достигается тем, что предлагаемое устройство содержит в каждой числовой линейке три криотронных контура, охватывающих четыре криотрона, причем в малоиндуктивной ветви каждого из трех контуров содержится один вентиль криотрона, а в высокоиндуктивной ветви каждого из трех контуров содер10 жится одна управляющая цепь криотрона.

Контуры соединены таким образом, что вентиль первого контура запирается током в числовой линейке, вентили второго и третьего контуров запираются токами в высокоиндук1З тивных ветвях соответственно первого и второго контуров, а ток в высокоиндуктивной части третьего контура, запирает вентиль криотрона, включенный в малоиндуктивную ветвь контура числовой линейки. Устройство позво20 ляет запускать ток избирательно, лишь в исправные числовые линейки и, следовательно, позволяет обходить дефектные числовые линейки схемным путем.

2s На чертеже изображена схема предложенного устройства для одной числовой линейки.

Устройство содержит контур числовой линейки, состоящий из высокоиндуктивной ветви

1 и малоиндуктивной ветви 2, первый 8, втоЗо рой 4 и третий 5 контуры, криотроны б — 10, 3 шины 11 — 15, по которым подаются токи от внешнего устройства управления.

В первой части ветви 1, обозначенной пунктиром, находятся запоминающие элементы и другие необходимые элементы криотронного ассоциативного запоминающего устройства.

Криотрон 10 и шина 11 относятся к цепи первоначального запуска тока во все числовые линейки.

Управляющая цепь криотрона б пересекает вентиль этого криотрона, содержащийся в первом контуре 8, криотрона 7 — во втором контуре 4, криотрона 8 — в третьем контуре

5, а управляющая цепь криотрона 9 пересекает вентиль этого криотрона, включенный в ветвь 2 контура числовой линейки.

Предложенное устройство построено на тех же элементах (криотронах), что и все запоминающие устройства. Оно является частью интегрального пленочного устройства, помещающегося на плате и изготавливаемого в едином технологическом цикле.

Практическому использованию запоминающего устройства должны предшествовать испытания устройства (или его частей) при рабочей температуре. Эти испытания имеют целью, в частности, выявление дефектных числовых линеек и выбор исправных числовых линеек. При этих испытаниях запуск тока по шине 12 во все числовые линейки производится с использованием цепи первичного запуска, состоящей в каждой числовой линейке из шины 11 и криотрона 10.

После окончания испытаний необходимо произвести следующую последовательность действий: оставить ток в шине 12 (см. чертеж) лишь в исправных числовых линейках, включить ток в шине 15, включить ток в шине 14, выключить ток в шине 15, выключить ток в шине 14.

В результате этих действий во втором контуре 4 в исправных числовых линейках запишется незатухающий ток. Можно производить запись тока во второй контур и сразу после установления исправности той или числовой линейки.

В дальнейшей практической работе с запоминающем устройством цепь запуска тока во все числовые линейки (шина ll, криотрон 10) не используется. Запуск тока в шине 12 в числовые линейки производится подачей тока в шину 18. Поскольку вентиль криотрона 8 в исправных числовых линейках заперт записанным во второй контур 4 незатухающим током, ток в шине 18 будет отклонен в высокоиндуктивную ветвь третьего контура 5 и запрет вентиль криотрона 9. В результате ток в шине 12 будет вытеснен в ветвь 1 числовой линейки.

Таким образом, при работе с запоминающим устройством возможно обращение лишь к числам, числовые линейки которых исправны. При этом все типичные операции криотронного ассоциативного запоминающего устройства (ассоциативный поиск чисел по признаку, разделение множественного ответа, счи362345

4 тывание, запись, поиск незанятой числовой линейки) производятся обычным образом по алгоритмам, используемым прн работе с таким же устройством, совершенно не имеющим дефектных числовых линеек.

Использование для запуска тока в числовые линейки предлагаемой схемы вместо обычной схемы запуска тока практически не отразится на быстродействии запоминающего устройстlO ва, так как постоянная времени третьего контура предлагаемой схемы во много раз меньше постоянной времени контура числовой линейки и времени ввода токов в шины внешнего управления.

ls Рассмотрим влияние на работу АЗУ дефектов, имеющихся в самом предложенном устройстве. Разумеется, недопустимы полные обрывы (отсутствие проводимости) внешних шин управления 13, 14 и 15 — так же, как и обры20 вы в какой-либо из десятков либо даже сотен других внешних шин управления. Дефекты этого рода легко обнаруживаются при комнатной температуре (соответствующие платы бракуются). Но обрыв в одной из двух ветвей

2 какого-либо из трех контуров 3, 4, 5 при этом обнаружен не будет. Легко видеть, что обрывы в высокоиндуктивных ветвях любого из этих контуров не представляют опасности, так как в этом случае ток в шине 12 не может быть

ЗО запущен в соответствующую числовую линейку и, следовательно, эта числовая линейка будет обойдена. То же произойдет при обрыве малоиндуктивной ветви второго контура 4.

Напротив, при обрыве малоиндуктивной ветss ви первого или третьего контура (8 или 5) запуск тока в соответствующую числовую линейку будет происходить независимо от ее исправности или дефектности. Если эта числовая линейка исправна, рассматриваемый де40 фект безвреден, если же она дефектна, работа устройства обхода дефектных числовых линеек будет в этом месте нарушена. Возникновение такой ситуации практически маловероятно по следующим причинам. Во-первых, 45 обрывы обычно наблюдаются в узких шинах, а малоиндуктивные ветви трех контуров предлагаемой схемы, содержащие вентили криотронов, представляют собой широкие шины.

Во-вторых, площадь, занимаемая на плате

50 этими ветвями, примерно на два порядка величины меньше площади, занимаемой на пла. те другими аналогичными шинами (где появление дефекта будет обнаружено), а вероятность появления дефекта в каком-либо эле55 менте пленочной схемы пропорциональна занимаемой им площади. В-третьих, крайне маловероятное появление обрыва в малоиндуктивной ветви первого или третьего контура должно к тому же прийтись на дефектную

60 числовую линейку, тогда как при сколько-нибудь приемлемой технологии значительное большинство числовых линеек должны быть исправными.

В заключение отметим, что можно периоди

65 чески повторять испытания работающего уст362345

Предмет изобретения

11 1о 13

Составитель В. Рудаков

Тсхред T. Миронова

Редактор В. Нанкина

Корректоры: А. Степанова и Л. Чуркина

Заказ 233/11 Изд. ¹ 1003 Тираж 404 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий прн Совете Министров СССР

Москва, Я-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 ройства и исключать числа, в которых появились дефекты, из состава работающих. Для этого достаточно, сохраняя ток в шине 12 в ветви 1 бывшей исправной числовой линейки, ставшей дефектной, подать и затем выключить ток в шине 15: вентиль криотрона 7 будет заперт, ток во втором контуре 4 затухнет, и обращение к данной числовой линейке станет невозможным.

Криотронное устройство управления числовыми линейками криотронного ассоциативного запоминающего устройства, содержащее цепь первичного запуска тока, состоящую в каждой числовой линейке из одного криотрона, вентиль которого включен в малоиндуктивную ветвь контура числовой линейки, содержащего запоминающие элементы, а управляющая цепь — во внешнюю шину управления числовых линеек, отличающееся тем, что, с целью упрощения устройства и повышения его быстродействия, оно содержит в каждой числовой линейке три криотронных контура с различными индуктивностями ветвей, малоиндуктивная ветвь каждого из которых содержит один вентиль криотрона, а высокоиндуктивная ветвь — одну управляющую цепь криотрона, управляющая цепь криотрона, включенная в

Т0 высокоиндуктивную ветвь контура числовой линейки, пересекает вентиль криотрона, содержащийся в первом контуре, управляющая цепь криотрона, включенная в первый контур, пересекает вентиль крпотрона, содержащий15 ся во втором контуре, управляющая цепь криотрона, включенная во второй контур, пересекает вентиль криотрона, содержащийся в третьем контуре, а управляющая цепь криотрона, включенная в третий контур, пересекает вен20 тиль криотрона, включенный в малоиндуктивную ветвь контура числовой линейки.