Способ измерения компонент тензора нелинейной поляризуемости монокристаллов класса dzd
Иллюстрации
Показать всеРеферат
363021
О Л И СА Н И Е
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 27 )Ч.1971 (№ 1650413i26-25) М. Кл. 6 Oln 21/40 с присоединением заявки №
Приоритет
Комитет по делам
УДК 622.412 3(088.8) изобретений н открытий при Совете 1т)нннстров
СССР
Опубликовано 20.XI1.1972. Бюллетень ¹ 3 за 1973
Дата опубликования описания 7.II.1973
Авторы изобретения
М. П. Лисица и И. В. Фекешгази
Институт полупроводников АН Украинской ССР
Заявитель
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОМПОНЕНТ ТЕНЗОРА НЕЛИНЕИНОЙ
ПОЛЯРИЗУЕМОСТИ МОНОКРИСТАЛЛОВ КЛАССА Оф 36 / С(14.
Изобретение относится к способам определения компонент тензора нелинейной поляризуемости монокристаллов класса Dsd тетрагональной сингонии и может быть использовано в промышленной квантовой электронике, в частности для получения данных о нелинейных свойствах материалов, используемых в качестве рабочих тел в параметрических генераторах, модуляторах света и преобразователях его частоты.
Известный способ определения компонент нелинейной поляризуемости этих материалов позволяет измерить только одну компоненту нелинейной поляризуемости д66.
По предлагаемому способу измерения компонент тензора нелинейной поляризуемости монокристаллов класса Dsd, с целью одновременного измерения абсолютных и относительных значений последних, измеряют зависимость интенсивности излучения второй гармоники, возникающей в плоскопараллельном образце, вырезанном параллельно кристаллографической оси Х, от угла а между плоскостью колебания электрического вектора и плоскостью, проходящей через оптическую ось кристалла и нормаль к образцу. Затем по величине интенсивности при а = 0 определяют абсолютное значение d>4, а по отношению интенсивностей при а = 0 и а = — относительное значение
На фиг. 1 показано прохождение лазерной волны через образец; на фиг. 2 приведена зависимость интенсивности излучения второй гармоники от угла а.
s Измеряемая зависимость выражается формулой:
1(2в) = 4 —. 1з(а) (() ()) siï 28+ с (и (2о) — n ())
10 (d 4cos й+ $1п 2х, (1) где 1(от) и 1(2а) — интенсивности излучения основной частоты и второй гармоники соответственно;
15 / — толщина образца; а (от) и и (ао) — его показатели преломления на упомянутых частотах;
0 — угол между оптической осью кристалла и нормалью к образцу.
20 Образец вырезают из монокристалла таким образом, чтобы нормаль к его поверхности при любом значении 0 была всегда перпендикулярна кристаллографической оси Х (см. фиг. 1). Абсолютное значение компонен25 ты нелинейной поляризуемости с(т4 находят из измерения 1(2то) при сс = 0 и вычисляют из соотношения:
fсо
st ni — (л(2,о) тт(<о))
I, 0(20 )=44-, 1 (а)з)п 28 d 4. (2) с (л (2 „) — n (о)),36 3 021
I ñ (2<@) 4
А о (2оз) Юив.1
Составитель С. Соколова ск (град) Фиг.2
Типография, пр. Сапунова, 2
Отношение компонент дзе/d>< определяют из выражений
+ ""+ ", (3) и/или Г ::: (:::) ) Предмет изобретения
Способ измерения компонент тензора нелинейной поляризуемости монокристаллов класса D d, отличающийся тем, что, с целью одновременного измерения абсолютных и относительных значений указанных компонент, измеряют интенсивность излучения второй гармоники при известном и постоянном значении
5 интенсивности основного излучения, возникающей в плоско-параллельном образце, вырезанном параллельно кристаллической оси
Х от угла а между плоскостью колебаний электрического вектора и плоскостью, прохо10 дящей через оптическую ось кристалла и нормаль к образцу, затем по величине интенсивности при а=О определяют абсолютное значение d 4, а по отношению интенсивностей б
15 при а=О и а= — определяют относительное
4 значение йзе/с(14
Редактор А. Батыгин Техред Т. Миронова
Корректоры: Н. Прокуратова и А. Васильева
Заказ 104/4 Изд. № 74 Тираж 403 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, )К-35, Раушская наб., д. 4/5