Способ измерения глубины обезуглероженного

Способ измерения глубины обезуглероженного

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОП ИСАН И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

364880

Союз Советский

Социалистических

Республик

Зависимое от гвт. свидетельства №

Заявлено,ЗО.XI I.1970 (№ 1603001/22-1) с присоединением заявки №

Приоритет

М. Кл. G 01п 21/00

Комитет по делам изооретеиий и открытий при Совете Мииистров

СССР

УДК 620.191.31(088.8) Опубликовано 28.XII.1972. Бюллетень № 5 за 1973

Дата опубликования описания 27.П.1973

Авторы изобретения

В. Ф. Жарков, Ю. Л. Перевозкин и В. В. Новиков

Заявитель

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ГЛУБИНЫ ОБЕЗУГЛЕРОЖЕННОГО

СЛОЯ

Изобретение относится к области изыскания способов контроля качества стали, в частности способов определения обезуглероживания стали.

Известен способ измерения глубины обезуглероженного слоя в конструкционных углеродистых сталях, заключающийся в приготовлении металлографического шлифа, травлении и исследовании его под микроскопом, при котором глубину обезуглероженного слоя определяют визуально с помощью окуляр-микрометра.

По предложенному способу глубину обезуглероженного слоя определяют не визуально, а записывая характер изменения фототока, полученного преобразованием увеличенного изображения рядом лежащих участков слоя в фотоэлектрическом приемнике излучения.

Это повышает точность измерения и автоматизирует его процесс.

Способ заключается в следующем.

Приготовляют металлографический шлиф.

Изображение увеличенных рядом лежащих участков обезуглероженного слоя последовательно проектируют на фотоэлектрический приемник излучения и записывают характер изменения фототока. Величина фототока будет пропорциональна количеству структурно-свободного феррита. Способ позволяет определять глубину обезуглероженного слоя и характер изменения содержания углерода по глубине

10 слоя в конструкционных сталях.

Предмет изобретения

Способ измерения глубины обезуглероженного слоя, включающий приготовление метал1S лографического шлифа и исследование его под микроскопом, отличающийся тем, что, с целью автоматизации и повышения точности измерения, последовательно проектируют увеличенные участки изображения слоя на фотоэлект20 рический приемник излучения, преобразуют в электрические сигналы и записывают изменение фототока.