Способ определения качества пьезокварца

Способ определения качества пьезокварца

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

L

О П И С А Н И Е „,)з7б7ае

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 11.11.71 (21) 1715017/26-9 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (43) Опубликовано 05.08,76. Бюллетень № 29 (45) Дата опубликования описания 03,12.76(51) М. Кл. Н011 21/66

НОЗ Н 3/02

Государственный комнтет

Совета Мннистров СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 621.372.412 (088.8) (72) Авторы В. П. Бутузов, Л. А. Любимов, А. А. Шапошников, Л. Н. Романов, изобретения С. В. Колодиева, А. А, Фотченков, М. И. Ярославский, В. Е, Хаджи и М. И. Голиков

Всесоюзный ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский институт синтеза минерального сырья и Научно-исследовательский институт пьезотехники (71) Заявители (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА ПЬЕЗОКВАРЦА

Изобретение относится к технике определения качества пьезокварцевого сырья, широко применяющегося во многих отраслях промышленности, в частности в радиотехнике и электротехнике.

Известен способ определения качества пьезокварца по температурно-частотной дисперсии диэлектрических потерь, основанный на измерении тангенса угла диэлектрических потерь на образцах произвольной ориентации, произвольных размеров и формы. Недостатком известного способа являются значительные затраты времени на проведение испытаний.

Цель изобретения - упрощение процесса измерений

С этой целью при фиксированной температуре определяют частоту релаксационного максимума тангенса угла диэлектрических потерь.

График зависимости предлагаемого параметра оценки качества пьезокварца от,добротности Q. кварцевых пьезоэлементов AT — среза, измеренной на основной частоте 1 Mt u, представлен на фиг. 1; на фиг. 2 - график зависимости величины диэлектрических потерь от частоты.

Первый график получен следующим образом.

Подбирается серия кристаллов синтетического кварца, параметры роста которого варьируются в широких пределах, что обусловливает значительные различия в качестве этих кристаллов. Из каждого кристалла приготовляют пьезоэлементы в виде полированных двояковыпуклых линз AT — среза на основную частоту 1 мгц, их добротность Я измеряется по декременту затухания колебаний. Значения

Q,êàê показали измерения, для подобранной серик

6 кристаллов лежат в пределах от 0,2-10б до 8.10.

1ð Значения CL откладываются по оси ординат.

Из тех же кристаллов приготовляют шлифованные плоские диски 7, — среза диаметром 15 мм и толщиной 1,3 мм . На этих образцах при темперао туре 330 С измеряют диэлектрические потери зависимости от частоты. Измерение Kg/ осуществляется обычным мостовым методом. Для каждого образца получают зависимости 1 ) о (cM.фиг. 2) .

Значения г г частоты, при которой достигается максимальное значение Ф. () усредняется по 15 образцам для каждого кристалла, и эти усредненые значения откладываются по оси абсцисс в соответствии с величинами добротности пьезоэлементов.

Из графика, изображенного на фиг. 1, видно, что в интервале добротностей (8-0,2) ° 10 зави6 оя симость() прямолинейна.

375726

1 4 Л

Mg3

Фиг. 2

Составитель Э. Гилинская

Техред Н. Андрейчук

Корректор Т. Крк;зчеико

Редактор Т. Ларина

Тираж 963 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб.,д. 4/5

Заказ 5055/423 филиал ППП "Патент", г„ужгород,ул. Проектная, 4

Необходимо отметить, что температура испытаний образцов предлагаемым способом, равная

330 С, является оптимальной, так как с понижением температуры величинами также значительно уменьшается, достигая при комнатной температуре значений менее 0,01-0,001 Гц. Это не только усложняет методическую и аппаратурную часть испытаний, но и существенно увеличивает время их проведения. Проведение испытаний при температурах выше 330 С нецелесообразно по двум причинам. о

Во-первых, значительный нагрев может вызвать необратимые изменения в свойствах образцов.

Во-вторых, с увеличением температуры испытаний величины г закономерно возрастают, амплиту4 ды максимумов Cga нада -.от,: о затрудняет процесс измерения, Формула изоб "етения

Способ определения качества пьезокварца по тем— пературно — частотной дисперсии диэлектрических пав терь, основанный на измерении релаксационного мак. симума тангенса угла диэлектрических потерь на образцах произвольной ориентации, произвольны . раз1О меров и формы, о тл ич а ющийс я тем, .то, с целью упрощения процесса измерений, определяют частоту релаксационного максимума тангенса угла диэлектрических потерь при фиксированной тес ратуре,