Способ измерения параметров распределения поля

Способ измерения параметров распределения поля

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

3777I2

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Сома Сооетокм

Социалистическил

Реопублин

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 16.IV.1970 (№ 1427709/26-25) с присоединением заявки №вЂ”

Приоритет

Опубликовано 171 т/.1973. Бюллетень № 18

Дата опубликования описания 22Х1.1973

М. Кл. G Olv 9/00

Комитет по делам иао0ретений H открытия при Совете Министров

СССР

УДК 550.835(088.8) Автор изобретения

А. М. Шестопалов

Заявитель

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ПОЛЯ

В СРЕДЕ

f (a д)=I — ак

U, =U0Ôè,f(a, x,), 10

20

U, = (У,Кт,((а, х, + 1), 30

Изобретение относится к области измерений поля и может быть использовано для исследования параметров поглощения и запаздывания полей в различных средах и материалах, например в массиве горных пород, в элементах конструкций и пр.

Известные способы измерения параметров распределения поля в среде с помощью источников и приемников поля требуют трудоемкой калибровки приемников поля и не обеспечивают высокой точности измерений.

Для повышения точности измерений предлагается способ, по которому измеряют отношения сигналов приемников, расположенных между двумя источниками поля, к сигналу одного приемника при действии только первого источника, а затем при действии только другого источника и определяют искомые параметры через отношения этих отношений.

Схема определения параметров распределения поля по описываемому способу показана на чертеже.

Размещенные в исследуемой среде 1 источники поля 2 и 8 расположены по обе стороны от приемников 4 и б поля. Источники поля 2 и 3 работают поочередно, так что к одному работающему источнику поля более близким оказывается один приемник поля, а при работе другого источника поля — другой приемник.

По приведенной схеме можно исследовать поля, характеризующиеся одним параметром а, например экспоненциальные поля, с распределением

При работе источника поля 2 напряжение на выходе приемника 4 равно: где Ус — интенсивность источника поля 2;

К вЂ” коэффициент, учитывающий переход н ые потери и запаздывание при преобразовании сигнала от источника поля 2 к среде 1;

m> — коэффициент, учитывающий чувствительность приемника 4, а также переходные потери и запаздывание при преобразовании поля от среды

1 к приемнику 4; а — измеряемый параметр распределения поля;

xI — расстояние между источником 2 и приемником 4.

При этом сигнал на выходе приемника 5 равен:

377712

Пр едм ет из oi6ip етен и я

Составитель И. Трофимова

Техред Т. Ускова Корректор Е. Сапунова

Редактор И. Шубина

Заказ 1718/15 Изд. Хо 1390 Тираж 755 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 где m2 — коэффициент, учитывающий чувствительность приемника 5, а также переходные потери и запаздывание при преобразовании поля от среды 1 к приемнику 5;

1 — расстояние между приемниками

4 и 5.

Отношение сигналов приемников 4 и 5 равно;

У mi f(a, х )

U т,f(a, х + 1) При работе источника 8 отношение сигналов приемников 4 и 5 определяется аналогичным соотношением:

U т f(a, х )

U2 m f(a, x> — 1) где х т — расстояние между источником 8 и приемником 4.

Из отношения двух последних выражений

UgU f(a, х )f(a, х1 — 1)

f(a, x + 1)г(а, х1) определяют параметр распределения поля а без погрешностей, обусловленных неидентичностью переходных затуханий между средой и приемниками и различием чувствительности приемников.

Отсюда получаем:

U1U2 1 OUI, =е — " а= — 1п

UqUg 2l Ui Ug

Если распределение поля характеризуется

10 и параметрами f (аь a2,..., а„, х), то для их аналогичного измерения необходимо использовать и+1 приемников, расположенных между излучателями.

Способ измерения параметров распределения поля в среде с помощью источников и

20 приемников поля, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, измеряют отношение сигналов приемников, расположенных между двумя источниками поля, к сигналу одного приемника при действии

25 только первого источника, а затем при действии только другого источника и определяют искомые параметры через отношение этих отношений.