Патент ссср 389413

Патент ссср 389413

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

п,"Ат и: 1-.-;

5г,"

О П И С А Н И Е 3894l3

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

Заявлено 28М.1971 (№ 1673517/26-25) М Кч 6 01j 3/00 с присоединением заявки №вЂ”

Приоритет

Опубликовано 05.VII.1973. Бюллетень № 29

Дата опубликования описания 25.Х.1973

Гасударственный комитет

Совета Министров СССР па делам изобретений и OTKpblTHM

УДК 54 3.42(088.8) Авторы изобретения

М. И. Кудряшов, А. М. Искольдский и Р. Д. Баглай

Заявитель Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения АН СССР

СПОСОБ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОГО ПОЛУЧЕНИЯ ЧИСЛОВЫХ

ПАРАМЕТРОВ КОНТУРА СПЕКТРАЛЬНОЙ ЛИНИИ л, 20

„..= Г(Л Л,)Ч(1,)ДЛ, л, Изобретение относится к способам экспериментального получения числовых параметров контура спектральной линии в физических экспериментах.

Известен способ нахождения параметров контура спектральной линии путем математическои обработки всей кривой контура.

Предлагаемый способ позволяет непосредственно измерять числовые параметры контура спектральной линии и вводить их в электронно-вычислительную машину. Достигается это тем, что световой поток с выхода спектрального прибора пропускают через систему масок, расположенных в плоскости изображения выходной щели спектрального прибора одна над другой в направлении равных интенсивностей.

B каждой маске имеется вырез для пропускания светового потока, выполненный согласно формуле (Х вЂ” l>), где: л, — значение длины волны на границе интервала исследуемого спектрального контура, Х вЂ” текущее значение длины волны, и — показатель степени, принимающий значения О, 1, 2, 3, ... для каждой маски в отдельности.

Световые потоки с выхода каждой маски проектируются оптической системой на отдельные фотоэлектрические приемники, а получаемые с них электрические сигналы запоминаются, например, на емкостных ячейках и затем вводятся в электронно-вычислительную машину.

Способ поясняется чертежом.

5 Световой поток от исследуемого объекта 1 ооъективом 2 проектируется на входную щель спектрального прибора 8, далее объективом 4 — на систему масок 5, расположенных в плоскости изображения входной щели

1о спектрального прибора одна над другой в направлении равной интенсивности, а затем широкоапертурной конденсорной линзой 6— на фотоэлектрические приемники 7.

15 Определение числовых параметров контура заключается в регистрации светового потока от каждой маски, представляющего и-й начальный момент контура спектральной линии, запоминании получаемых электрических сигналов, пропорциональных моментам на емко25 стпых ячейках, и вводе их затем в электронно-вычислительную машину. По начальным моментам можно определить среднюю длину волны, полуширину и другие характеристики контура, а также восстановить всю кривую

ЗО спектрального контура, 389413 (л — л )л, Предмет изобретения

Составитель В. Вошанкнн

Техред 3. Тараненко

Корректор О. Усова

Редактор T. Орловская

Заказ 2836/4 Изд. № 750 Тираж 755 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, К-35, Раушская паб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

1. Способ экспериментального получения числовых параметров контура спектральной линии, отличающийся тем, что световой поток с выхода спектрального прибора пропускают через систему масок,,расположенных в плоскости изобр ажения выходной щели спектрального прибора одна над другой в направлении равной интенсивности, световые потоки с выхода каждой маски проектируют оптической системой н а отдельные фотоэлектрические приемники, а получаемые с них электрические сигналы запоминаются, например, на емкостных датчиках и затем вводятся в электронно-вычислительную машину.

2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что в каждой маске имеются вырезы согласно формуле где 4 — значение длины волны на границе интервала исследуемого контура, л — текущее значение длины волны, n — показатель степени, принимающий значения О, 1, 2, 3, ... для каждой маски в отдельности, и световые потоки на выходе каждой маски

10 пропорциональны числовым параметрам контура спектральной линии: л.

„„=1(Л вЂ” >,,) ЦЦ1Л, Л1

15 где Х1, 7.в — значения длины волны на границах интервала исследуемого спектрального контура, 1(Х) — интенсивность светового потока на входе масок.