Способ элементного анализа образцов

Способ элементного анализа образцов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОП ИСАЙИ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

1 Ъ

Союз Советских

Социалистимеских

Республик

Зависимое от авт, свидетельства №

Заявлено 22.IV.1971 (№ 1647847/26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 27Х11.1973. Бюллетень № 3

Дата опубликования описания 12.Х.1973

6 Olv 5/00

Гасударственный комитет

Советв Министров СССР по делам изобретений и открытий

550.835 (088.8) Авторы изобретения

Д. И. Лейпуиская, В. И. Дрыикин и В. И. Варик

Всесоюзный научно-исследовательский институт ядерной геофизики и геохимии

Заявитель

СПОСОБ ЭЛЕМЕНТНОГО АНАЛИЗА ОБРАЗЦОВ

Изобретение относится к нейтронному акти вационному анализу, в частности, к его про,ведению на установках «Нейтрон-2», нейтронном размножителе (HP) и других, где используются представительные навески проб или отбитые м а ссы.

При навесках до 100 г. и более, используемых при .проведении нейтронного активационного анализа на установках «Нейтрон-2», HP и других, часто на результаты анализа влияет состав проб. В особенности это относится к анализу пород, в которых могут иметь место значительные вариации содержаний сильно поглощающих нейтроны элементов, таких, как бор, кадмий, хлор. Вариации элементного состава приводят к разной степени возмущения нейтронного поля пробами в зоне облучения, причем эффект может достигать 50 отн. % по сравнению с эталонными пробами. В связи с этим невозможен подбор единых эталонов для анализа проб (кернов) даже в пределах одной скважины месторождения.

Известные способы проведения анализа на установках «Нейтрон-2», HP и других не предусматривают учета степени возмущения нейтронного поля. В результате этого обнаружены систематические ошибки в элементном определении.

Цель изобретения — устранение систематических ошибок, связанных с вариациями эле2 ментного состава, при проведении нейтронного активационного анализа представительных проб.

Это достигается тем, что исследуемый образец облучают одновременно с эталонным диском например, алюминиевым, обеспечивающим учет возмущения нейтронного поля образцом, и по результатам независимых изме,рений активности образца и диска судят о концентрации определяемого элемента в образцее.

Для учета степени возмущения нейтронного поля вместе с анализируемой пробой облучают диски, располагаемые вне пробы или внутри нее, которые могут быть изготовлены из веществ, слабо поглощающих нейтроны независимо от хода сечения поглощения с энергией нейтронов, например, алюминия, ванадия, марганца. Толщину и форму дисков подбирают таким образом, чтобы наведенная активность диска обеспечивала требуемую статистическую точность измерений.

После облучения регистрируют раздельно наведенную активность пробы и диска. По наведенной активности диска вычисляют коэффициент возмущения нейгронного поля, равный отношению наведенной активности диска, ЗО облучепного с пробой к активности диска, об392438

Предмет изобретения

Составитель И. Трофимова

Техред Л. Богданова

Корректор H. Стельмах

Редактор М. Жиляева

Заказ 2761/17 Изд. № 1778 Тираж 755 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 лученного с эталоном. Исправленное значение наведенной активности пробы находят путем деления измеренной активности пробы на коэффициент возмущения нейтронного поля.

Исправленное значение наведенной активности пробы сравнивают затем со значением наведенной активности эталона и отсюда вычисляют содержание определяемого элемента. Эксперименты показали, что такой способ учета F позволяет получить точные результаты анализа в различных по химическому составу пробах.

Способ элементного анализа образцов методом нейтронной активации, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности анализа, исследуемый образец облучают одновременно с эталонным диском например, алюминиевым, обеспечивающим учет возмущения нейтронного поля образцом, и по результатам независимых измерений активности образца .н диска судят о концентрации определяемого элемента в образце.