Способ элементного анализа состава вещества

Способ элементного анализа состава вещества

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

1. СПОСОБ ЭЛЕМЕНТНОГО АНА- 'ЛИЗА СОСТАВА ВЕЩЕСТВА, основанный на облучении исследуемого образца потоком ионизирующего iизлучения различной энергии, испускаемого, мишенью при бомбардировке ее пучком частиц, отличающийся .тем, что, с целью .сокращения продолжительности анализа, одновременно облучают несколько образцов анализируемого вещества, расположенных от.- носительно направления первичного пучка частиц под различными углами так, что одному из углов соответ- ''ргвует энергия испускаемого из мшае- 'ни излучения, при которой активи-^ Ьуются все определяемые элементы.^второму соответствует энергия, при которой не активируется один из определяемых или мешающих элементов, третьему - энергия, при которой не активируются два из определяемых ' или мешающих элементов и т.д., при этом количество позиций облучения выбирается в зависимости от числа элементов, имеющих различающиеся пороги реакций в рассматриваемом диапазоне энергий излучения.2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что, с целью уменьшения погрешности, обусловленной нестабильностью потока излучения,одновременно с образцами исследуемого вещества облучаются эталоны, в каждом из которых образуется при ..активации один из радиоактивных изотопов, присутствующих в облученной .пробе, с различающимися периодами полураспада, причем позиции размещения эталонов соответствуют максимальным сечениям реакций.(?>&лхжм»%КЕЯ||)М^ |(S3BSSi.

%з . - ((., j .н

-:ца

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСтИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН

„„Su„„411359

3(50 а б1 И 23/22

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н ABTGPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

f 21 ) 1752681/26-25

I(22) 25.02.72 (46) 07.06.8 3. Бюл. Р 21 (72) Р.Г. Гамбарян и О.К. Николаенко (.53) 543.52(088.8) 1 ,(54)(57) 1. СНОСОВ ЭЛЕМЕНТНОГО АНАЛИЗА СОСТАВА ВЕЩЕСТВА, основанный на облучении исследуемого образца потоком ионизирующего излучения различной энергии, испускаемого.мишенью при бомбардировке ее пучком частиц, отличающийся .тем, что, с целью сокращения продолжительности анализа, одновременно облучают несколько образцов анализируемого вещества, расположенных от.носительно направления первичного пучка частиц под различными углами так, что одному из углов соответствует энергия испускаемого из мишени излучения, при которой активиЬуются все определяемые элементы, второму соответствует энергия, при которой не активируется один из определяемых или мешающих элементов, третьему — энергия, при которой не активируются два из определяемых или мешающих элементов и т.д., при этом количество позиций облучения выбирается в зависимости от числа элементов, имеющих различающиеся пороги реакций в рассматриваемом диапазоне энергий излучения.

2. Способ по и. 1, о т л и ч а ю шийся тем, что, с целью уменьшения погрешности, обусловленной нестабильностью потока излучения, одновременно с образцами исследуемого вещества облучаются эталоны, в каждом из которых образуется при активации один из радиоактивных изотопов, присутствующих в облучениоп пробе, с различающимися периода- ми полураспада, причем позиции размещения эталонов соответствуют максимальным сечениям реакций.

-:;«@»

Ф ,Ю

Ф"

411359 «ф r

Изобретение относится к элементному анализу Ъещественного состава с использованием ускорителей заряженных частиц.

Известны способ элементного анализа вещественного состава, основанные на облучении исследуемого образ. ца потоком ионизирующего излучения различной энергии, испускаемого мишенью при бомбардировке ее пучком частиц.

Однако по известному способу необходимо последовательно облучить исследуемый образец при различных энергиях, что увеличивает продолжительность анализа пропорционально количеству элементов, содержащихся в исследуемом веществе.

Цель изобретения сокращение времени проведения анализа и уменьшение погрешности.

Это достигается тем, что одновре-, менно облучают несколько образцов анализируемого вещества„ расположенных относительно направления первичного пучка частиц под различными углами так, что одному из углов соответствует энергия испускаемого из мишени излученйя, при которой активируются все определяемые элементы, второму соответствует энергия, при которой не активируется один иэ определяемых или мешающих элементов, третьему - энергия, при которой не активируются два из оп- . ределяемых или мешающих элементов т.д, при этом количество позиций облучения выбирается в зависимости от числа элементов, имеющих различающиеся пороги реакций в рассматриваемом диапазоне энергий излучения.

Кроме того, для уменьшения погрешности, обусловленной нестабильностью потока излучения, одновременно с образцами исследуемого вещест10 ва облучают эталоны, в Каждом из которых образуется при активации один из радиоактивных изотопов, присутствующих в облученной пробе, с различающимися периодами полурас35 пада, причем позиции размещения эта .лонов соответствуют максимальным оечениям реакций.

В основу способа заложена угловая зависимость энергии излучения, испускаемого из мишени. Например, удобная для активационного анализа реакция Р(д,п Ив 3 характеризуется изменением энергии нейтронов, испус.каемых под углом 90 к направлению

25".пучка дейтонов, в 2-2,5 раза большей по сравнению с максимальной энергией, соответствующей направлению пучка, при энергии дейтонов

3-5 МэВ. Зависимость энергии от уг30 ла вылета нейтронов имеет место в той или иной мере для всех ядерных реакций, используемых для целей нейтронно-активационного акализа.

-.- 1Редактор Л.Письман Техред М. Кузьма

Корректор В.Бутяга

Тираж 873. Подписное.

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Заказ б322/1

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4