Фотоэлектрическое устройство для обнаружения дефектов

Фотоэлектрическое устройство для обнаружения дефектов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

О П Й С А Н И Е (и) 418774

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДИЕПЬСтВЬ

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Зависимое от ап7. свидетельстьа (22) Заявлено 15.04.72 (21) 1772823, 25-28 (51) М. Кл, 6 01п 21/32 с присоединением заявки (32) Приоритет

Опубликовано 05.03.74. Бюллетень № 9

Дата опубликования описания 09.08.74

Государственный комитет

Совета Министров СССР па делам изобретений н открытий (53) УДК 531.715.31:531. т 17.53 (088.8) (72) Авторы изобретения

В. С. Гребнев и М. М. M,àâëþòîâ

Казанский научно-исследовательский технологический и проектный институт химико-фотографической промышленности (71) Заявитель (54) ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОЕ УСТРОИСТВО

ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ

Изобретение относится к контролю качссгва внутренних цилиндрических и плоских поверхностей, а также дефекзов в толщ1ше n leночных прозрачных и полупрозрачны.;. ма | ериалов и может быть ис сльзовано в мета,7,70обрабатывaþùåé, текстильной, бумажной и фотографической промышленности.

Известно фотоэлектрическое устройство 7.7» обнаружения дефектов, ссдержащее источ1шк потока света, наклонно размещенное в нем полупрозрачное зеркало, установленный соосно с потоком прошедшего через зеркало света вращающийся плоский отражатель и фоторсгистратор, расположенный в потоке отряженного от зеркала све1а.

Однако надежность контроля прозрачны и полупрозрачных материалов известным устройством недостаточная, т. к. поток света, прошедший через материал, не регистрируется.

Целью изобретения является повышение надежности контроля прозрачных и полупрозрачных материалов.

Для этого устройство снабжено сферически 1 отражателем, жестко связанным с плоским отражателем, в его фокусе находится контролируемый материал, и дополнительным фоторегистратором, установленным в потоке свс; а, прошедшего через контролируемый материал.

На чертеже изображена блок-схема предлагаемого устройства.

Фотоэ,7ектричсское устройство для обнаружения дефектов содержит источник 1 све111, полупрозрачное зеркало 2, вра1цающийся диск

3 с установленными на нем призмой 4; пло5 ским отражателем 5 и сферическим отражателем 6, два фотоэлектрических преобразователя 7 и 8. основание 9, электродвига7ель 10 с пассиком 11 и про1ягиваемой в фокальной плоскости источника света контролируемый

10 материа7 12.

Устройство работает следующим образом.

Сходящийся поток источника 1 света пропускают через полупрозрачное зеркало 2 и паправляют в центр диска 3 napaллельно оси

15 вращения, где установлена призма 4. В прсломлеином этой призмой световом потоке на краю диска расположен плоский отражатель

5. При вращении диска 3 с помощью электродвигателя 10 через пассик 11 отраженный от

20 отражателя 5 луч света совершает круговую развертку на поверхности контролируемого материала 12.

Световой поток, проходящий через материал, пересекаe7 ось вращения диска 3 в точке

25 А, где располагается фотоэлектрический преобразователь 8. Луч све7а. отраженный от контролируемого материала, падает на сферический отраж пель 6 с фокусом в точке отражения, установленный на краю диска 3. ПоЗО ток света отражается от сферического отр;418774

Предмет изобретения

Со:тавнтель A. Духа1п1н

Техред Е. Борисова

Корректор Т. Хворова

Редактор С. Бычихииа

За <аз 1669/10 Изд. № 552 Тираж 65! Подппс -е

11НИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений н от рьггпй

Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 4:5

Типография, пр, Сапунова, 2

3 жателя 6, контролируемого материала 12, плоского отражателя 5, призмы 4-, полупрозрачного зеркала 2 и падает на фотоэлектрический преобразователь 7.

Если контролируемый материал имеет какие-либо оптические неоднородности, то llpll пересечении их сканирующим лучом на выходах фотоэлектрических преобразователей воз никают электрические импульсы, которые можно использовать для автоматизации контроля. Частота сканирования луча определяется размером светового пятна на контролируемом материале и скоростью движения материала.

Для контроля цилиндрических поверхпос.ей призму 4 повертывают гак, чтобы поток источника света проходил через отверстие В па краю диска 3 и падал перпендикулярно па поверхность контролируемого объекта.

Фотоэлектрическое устройство для обнаружения дефектов, содержащее источник пото5 ка света, наклонно размещенное в ем полупрозрачное зеркало, установленный соосно с потоком прошедшего через зеркало света вращающийся плоский отражатель и фоторегистратор, расположенный в потоке отраженного

10 от зеркала света, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения надежности контроля прозрачных и полупрозрачных материалов, оно снабжено сферическим отражателем, жестко связанным с плоским отражателем, в его фо15 кусе находится контролируемый материал, и дополнительным фоторегистратором, установленным в потоке света, прсшедшего через контролируемый материал.