Способ создания диодного источника света на карбиде кремния
Иллюстрации
Показать всеРеферат
О П И С А Н И Е (») 4307 9У
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 08.02.72 (21) 1742653/24-7 с присоединением заявки № (23) Приоритет
Опубликовано 05.07.76. Бюллетень ¹ 25
Дата опубликования описания 02.06.76 (51) М. Кч 2 Н 05В 33/10
Государственный комитет
Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 628.9.038 (088.8) (72) Лвторы изобретения
В. М. Ефимов, Е. А. Белоусова, И. И. Круглов, В. И. Павличенко, И. В. Рыжиков и Л. А. Строганова
P P T.,ã; (71) Заявитель (54) СПОСОБ СОЗДАНИЯ ДИОДНОГО ИСТОЧНИКА СВЕТА
НА КАРБИДЕ КРЕМНИЯ
Способ относится к технологии изготовления полупроводниковых приборов, а именно полупроводниковых источников света.
Известен способ создания диодного источника света с желтым излучением путем совместной либо раздельной диффузии алюминия и бора из газовой фазы при температуре порядка 1900 — 2200 С в инертной атмосфере в монокристаллы карбида кремния и-типа с суммарной концентрацией компенсирующих побочных примесей не менее 2 10" см — и плотностью дислокаций 10 — 10" см — - .
Недостатком этого способа является относительно небольшая яркость излучения 30—
100 нит при плотности тока 0,5 а/см-, вероятно, вследствие значительной роли безизлучательных актов рекомбинации носителей заряда с участием атомов побочной примеси.
Целью изобретения является резкое и воспроизводимое увеличение яркости излучения источников света и повышение их однородности по основным параметрам и, как следствие, весьма существенное повышение процента выхода горных источников света.
Поставленная цель осуществляется в результате раздельной диффузии алюминия и бора из газовой фазы в монокристаллы карбида кремния с суммарной концентрацией побочных компенсирующих примесных центров (акцепторов), не превышающей 5 10" см, и плотностью дислокаций менее 10 см — .
Пример 1. Раздельная диффузия из газовой фазы первоначально алюминия (2150 С;
2,5 час), а затем бора (1930 С; 3 мин) в атмосфере аргопа при давлении его 2 атм. Окись
5 диспрозия в количестве 0,3 г добавлялась к алюминию при первой стадии раздельной диффузии алюминия. Концентрация нескомпенсированных атомов азота (Nd — Na) в исходных кристаллах составляла (1,2 — 2,5) 10" см —, а
10 суммарная концентрация побочных примесей
4,5 10" см — . Плотность дислокаций была близка к нулю. После проведения диффузии
99 0 кристаллов обнаруживали однородную и весьма яркую фотолюминесценцию, не менее
15 чем в 2 — 3 раза превышающую яркость фотолюминесценции, получаемой обычно на стандBpTIIhIx кристаллах с относительно высокой суммарной концентрацией побочных компенсирующих примеспых центров (акцепторов) и
20 плотностью дислокаций, причем у последних кристаллов процент выхода годных по фотолюмннесценции пластин в среднем составляет
50 — 65%. Омические контакты к диффузионным р — л переходам создавались напылением
25 в вакууме двухслойных покрытий Ti — Ni u
Л1 — Х1 соответственно к диффузионному слою и к исходному кристаллу n — SiC. Температура напыления алюминия и титана 650 С, а никеля 300 С.
30 После резки диффузионных кристаллов с контактами на квадраты 1,5><1,5 мм2 96%
430797
Формула изобретения
Составитель Е. Сафонова
Техред Т. Зимина
Редактор В. Левитов
Корректор А. Дзесова.":õ:.à:: 152 ; 3 Изд. Ъ . 1278 iпрахк 1029 !1однпсное
ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-З5, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2 приборов имели однородную электролюминесценцию, яркость которой составляла 150—
300 нит при плотности тока 0,45 а/см (ток
10 ма) и 250 — 600 нит при плотности тока
0,9 а/ом (ток 20 ма). Необходимо также подчеркнуть, что на стандартных кристаллах процент выхода годных по электролннми несценции приборов составляет в среднем 55—
70%, а разброс приборов по яркости излучения и прямому падению напряжения не менее, чем 1,5 — 2 раза вы ше в сравнении с приборами, изготовленными по предложенно1му способу.
Пример 2. Раздельная диффузия из газовой фазы первоначально ал1оминия (2200 С;
6 час), а затем бора (1920 С; 4 мин) в атмосфере аргона при давлении его " атм. Моноокись кремния в количестве 0,5 г добавляется к алюминию при первой стадии раздельной диффузии — диффузии алюминия. Концентрация нескомпенсированных атомов азота (Nd — Na) в исходных кристаллах составляла
2 — 3,5 10" см —, а суммарная концентрация побочных примесей 5.10" см — . Плотность дислокаций была — 10 см .
Яркость излучения изготовленных светодиодов составляла 120 — 320 нит при плотности тока 0,45 а/см (ток 10 ма) и 200 — 600 нит при плотности тока 0,9 а/см (ток 20 ма).
Процент выхода годных по фотолюминесценции (после диффузии) кристаллов составлял 99%, а процент выхода годных по электролюминесценции светодиодов 91,5%.
Пример 3. Раздельная диффузия из газовой фазы первоначально алюминия (2150 С, 2 час), а затем бора (1910 С, 2 мин) в атмосфере аргона при давлении его 2 атм. Моноокись кремния и окись диспрозия ы количестве соответственно 0,7 r и 0,2 г добаьлястся к алюминию (при первой стадии раздельной диффузии — диффузии алюминия), а также в
5 мелкокристаллическую карбидокремниевую засыпку, окружающую кристаллы карбида кремния, подвергаемые диффузии. Концентрация нескомпенсированных атомов азота (Nd — Na) в исходных кристаллах составляла
1О (0,6 — 1,5) 10 " см, а суммарная концентрация побочных примесей 5 10" см — . Плотность дислокаций была близка к нулю.
Яркость излучения полученных светодиодов составила 100 — 300 нит и 180 — 600 нит при
15 плотности тока соответственно 0,45 а/см и
0,9 а/см . Процент выхода годных по фотолюминесценции кристаллов составлял 97%, а процент выхода годных по электролюминесценции светодиодов 94,5%.
Способ созда..ия диодного источника света на карбиде кремния fl-типа путем раздельной диффузии ал::;миния и бора из газовой фазы при 1900 — 2200 С в инертной атмосфере с примесью редки..; земель и кислорода, о т л и ч а ющий ся тем, что, с целью резкого и воспроизводимого увеличения яркости излучения исЗ0 точников света, повышения их однородности по основным параметрам и снижения брака при изготовлении, указанную диффузию в мои окристалл карбида кремния производят с суммарной концентрацией побочных компенсирующих примесных центров (акцепторов), не превышающей 5. 10" ом —, и плотностью дислокаций, не превышающей 10 см .