Способ измерения освещенности
Иллюстрации
Показать всеРеферат
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЗИЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистимескнх
Республик (И) 443338 (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 23. 10.7;: (21) 1838898/
/26-25 с присоединением заявки(51) M Кл.
0 01 < 31 22
Государственный комнтет
Совета Мнннстроа СССР по делам нзооретеннй н открытнй (32) Приоритетзл
Опубликовано 15-0974 Бюллетень ¹ (45),Пата опубликования описания Ы.©24 (53) УДК
620. 168. 36 (088.8) (723 Авторы Б.А. Базаров,,li,.Ñ.Ñòðåáêîâ, В.А.Унишков, B.A. Чваркова, изобретения Х.А.Базаров и А.В.Власов (71) Заявитель (54)СПОСОБ ИЗЫЕРЕНИЯ ОСВЩЕННОСТИ
Изобретение относится к области фотометрии, в частности к методам измерения энергетической освещенности в околофокальной области солнечных установок с концентраторами излучения.
Известен метод измерения распределения светового поля в околофокальной области солнечных установок с параболоидными концентра.— торами, в процессе реализации которого в околофокальной области располагают светопроводящее оптическое волокно (светопровод), с помощью ксторого излучение отводят на фотоумножитель, фототок которого регистрируют электронным потенциометром. Недостатком известного способа являются малый диапазон измерения освещенности и сложность аппаратуры, необходимой для его реализации.
Трудности измереиия освещенности, превышающей 10" вт/м, состоят в том, что указанная осющен. ность обуславливает нагрев измери2 тельных элечентов до температурыо превышающеЙ температуру плавления кварца. Поэтому обычно фотоэлементы, в частности матричные высэко5 вольтные фотопреобразователи, помещают в кварцевый светопровод,охлаждаемый водой.
С целью расширения диапазона измерения и повышения точности из10 мерения при больших освещеиностях фотоэлементы во время измерения перемещают со скоростью, соответствующей предельной частоте полосы пропускания фотоэлементов.
15 ПРЕДМЕТ ИЗОЬРЕТЕНИЯ
Способ измерения освещенности путем измерения тока короткого замыкания фотоэлементов, отличающийся тем, что, с пелью р сши ения диапазона измерения и повышения точности измерения при больших освещенностях, фотоэлементы во время измерения перемещают со скоростью, соответствующей предельной частоте полосы пропускания фотоэлементов.