Способ определения удельной поверхности материалов

Способ определения удельной поверхности материалов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

(п) 4458 88

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Зависимое от авт. свидетельства 290202 (22) Заявлено 09.03.70 (21) 1411468/26-25 с присоединением заявки № (51) М. Кл. G 01п 13/00

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (53) УД К, 620.179 (088 8) Опубликовано 05.10.74. Бюллетень № 37

Дата опубликования описания 30.05.75 (72) Авторы изобретения

К. И. Саснаускас и Г. П. Эльзбутас

Каунасский политехнический институт (71) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ УДЕЛЬНОЙ ПОВЕРХНОСТИ

МАТЕРИАЛОВ

Предмет изобретения

Государственный комитет (32) Приоритет

Изобретение предназначено для определения тонкости помола (дисперсности) сыпучих материалов (например, cTpoHTeJlbnblx) .

По основному авт. св. № 290202 известен способ определения удельной поверхности материалов путем высушивания и измерения диэлектрической проницаемости.

Цель изобретения — повышение точности измерений.

Это достигается тем, что предварительно высушенный материал увлажняют инертной жидкостью в количестве 15 — ЗОО, от веса твердого компонента, измеряют диэлектрические параметры, по которым судят о величине удельной поверхности.

Способ осуществляют следующим образом.

Некоторое количество исследуемого материала высушивают при температуре + 105 С и увлажняют определенным количеством инертной полярной жидкости. Затем помещают материал в межэлектродное пространство измерительного емкостного датчика, уплотняют до определенной степсни и измеряют диэлектрические параметры. Предварительно зная функциональные зависимости диэлектрических параметров от количества введенной инертной полярной жидкости и величины удельной поверхности высушенного твердого компонента при одинаковых прочих условиях по значениям диэлектрических параметров определяют искомое значение удельной по5 верхности.

Различие в температурах, при которой определена функциональная связь между диэлектрическими параметрами и удельной поверхностью и измерены диэлектрические naI0 раметры («a» показатель, характеризующий удельную поверхность) оценивают посредством температурных коэффициентов диэлектрических параметров.

Способ определения удельной поверхности материалов путем высушивания и измерения

20 диэлектрической проницаемости по авт. св.

¹290202, отличающийся тем. что, с целью повышения точности измерений, предварительно высушенный материал увлажняют инертной жидкостью в количестве 15 — 30%

25 от веса твердого компонента измеряют диэлектрические параметры, по которым судят о величине удельной поверхности.