Способ количественного определения концентрации люминесцентных минералов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

О П И C А- Н И Е „„452771

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (д) Зависимое от авт.свид-ва— (22) 3aasseHo 22.06.71(21) 1671784/26-25 (51) М. Кл.

G 01тг 21/00 с присоединением заявки № (32) Приоритет—

Гасударственный иамитет

Савета Иинистрав СССР па делам изобретений

И OTKPbtTilll

Опубликовано05. 12.74 Бюллетень №45 (53) УДК

550. 839 (088. 8) Дата опубликования описания 16.09.75 (72) Авторы изобретения

В. Ф. Барабанов, С. Л. Бердников, Ю. М. Гербштейн и Я. М. Зеликин

Ленинградский ордена Ленина и ордена Трудового Красного Знамени государственный университет им А. А. Жданова (71) Заявитель (54) СПОСОБ КОЛИЧЕСТВЕННОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ KOHllEHTPAUHH

ЛЮМИНЕСЦЕН 1 НИХ МИНЕРАЛОВ

Изобретение относится к способам анализа руд.

Известен способ определения концентрации шеелита путем измерения яркости фотолюминесценции анализируемой пробы по сравнению с яркостью фотолюминесценции эталона.

Недостаток этого способа заключается в том, что состав эталона сходен с составом сопровождающей шеелит породы.

Цель изобретения — повышение точности анализа . Цель достигается благодаря использованию эталона, коэффициент рассеяния света которого в спектральной области, соответствующей люминесценции шеелита, близок по величине к коэффициенту рассеяния света исследуемого образца руд. За коэффициент рассеяния условно принимается величина отношения потока света спектрального состава, соответствующего люминесценции шеелита, отраженного от данного образца / + /, к потоку света такого же спект1 рального состава, отраженному от окиси магния / Ф /: ф

У=в

СР

На чертеже показана установка для реализации предложенного способа. 1

Установка для анализа количества шеелита состоит из чашечек 1 для образцов шеелитовых руд, установленных на плате

2, револьверного устройства для перемещения чашечек под ртутно-кварцевой лампой .

3, укрепленной в кожухе 4 и охлаждаемой вентилятором 5. Блок ламп 6 соединен с цилиндром 7, в котррый помещена кварце15 вая линза 8. Каретка 9 в первом гнезде содержит фильтр УФС-2, пропускающий только ультрафиолет, во втором гнезде фильтр СЗС-18, пропускающий только свет ртутной линии 435 мм. Каретка 10 содержит фильтр, пропускающий только видймьтн свет. Линза 11 фокусирует свет на фотока- тод ФЭУ 12. На пути к ФЭУ свет проходит через фильтр 13, поглощающий ультрафиолет, и фильтр 14, поглощающий инфракрасный

3 452771 свет. Сигнал or ФЭУ поступает на усилитель постоянного тока 1 5, а затем на микроамперметр 16.

При проведении анализа сначала определяют коэффициент рассеяния исследуемых образцов для ртути, Для этого свет от лампы 3 пропускают через фильтр СЗС»18, фокусируют линзой 8 и направляют на образец руды. Отраженный поток света проходит через фильтры 14 и 13 и фокусируется ® линзой 11 на фотокатод ФЭУ 12. Величина полученного сигнала Д характеризуется показаниями микроамперметра 16. Затем такое же измерение производят для окиси

И магнии и получают ц . Коэффициент рассеяния определяют как отношение этих двух сигналов:

Концентрацию шеелита в руде находят по градуировочным графикам.

Г!редмет изобретения

Способ количественного определения концентрации люминесцентных минералов, например шеелита, в рудах путем измерения интенсивности фотолюминесценции исследуемого минерала по отношению к образцам с известными концентрациями того же минерала с внесением в результаты измерений поправки, учитываюшей влияние на результаты измерений длинноволновой части возбуждаюшего света, о т— л и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения точности анализа, измеряют коэффициент рассеяния света в спектральной области, соответствующей излучению определяемого люминесцентного минерала, затем измеряют интенсивность люминесценции анализируемой пробы ло сравнению с интенсивностью эталона, имеюшего почти такой же, как у анализируемой пробы, коэффициент рассеяния, и по полученным результатам определяют концентрацию люминесцентного минерала, например шеелита.

Составитель М. Золотухин

Редактор Т. Орловская Техред O. lIyroaas Корректор Л l so;roaxa

Заказ /gott изд. % NQ тирвк 65/ подпнсное

11НИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, 113035, Раушская наб., 4

Предприятие «Патенть, Москва, Г-59, Бережковская иаб., 24