Способ количественного анализа металлов и их сплавов

Способ количественного анализа металлов и их сплавов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

- АВТОРСИО(,СВИДЕТЕЛЬСТВО,НА ИЗОБРЕТЕНИЕ

ОПИСЙН ИЕ способа ноличественного аналйза метайлбв и йх сплавой.

К авторскому свйдетельству Л; Е. Введенского, заявленному 3" декабря

1934 года (спр. о перв. ¹ 158332).

О выдаче авторского свидетельства опубликовано 31 декабря 1935 года. отомеЭдуарспеко эле-, :Из способов спектрального анализа металлов наибольшей известностью пользуются два способа: способ фотографический, предложенный в 1925 г. Герлахом и Швейтцером, и способ визуальный, предложенный в 1932 г. Шайбе и Лнммером.

В основу настоящего изобретения положей принцип определения интенсив ности спектральных линий, открытый — еще в прошлом столетии американским астрофизиком Эдуардом Пиккерингом и заключающийся в том, что человеческий

-глаз, будучи не в состоянии колйче;". с гвЕнйо определить, во сколько раз один -"источник света интенсивнее другого, тем †йе менее обладает свойством довольно точно оценивать по ощущению положение третьего источйика в интервале между» двумя другими. Этот принцип при"менялся в астрофизике для наблюдения переменных звезд на небе и на фото графической пластинке. Применение этого принципа для количественного спектрального анализа дает возможность об" ходиться при анализе одного элемента

-рдной парой спектральных линий, а также

=б гределять хорошо и все промежуточйые концентрации. " мента сплава и линию элемента примеси;. желательно, чтобы !) обе линии пары были искровые или обе дуговые; 2) расстояние между линиями было меньше

100 ангстрем; 3) обе линии были резкими или размытыми; 4) линии лежали в. в участке спектра со слабым тоном непрерывного спектра; 5) линии пары при средних концентрациях элемента определяемой примеси были близки по интенсивности.

Обозначим отрезки линии основного элемента и одновременно логарифмы их Ш интенсивности через а,, а„а,...а„, где ив число ступенек ослабителя, а линии примеси через х„х2, хв...х„.

Интенсивность первого наиболее интенсивного отрезка линии основного элемента полагаем равной произвольному числу, например 1000, тогда а, =

= 1000 = 3.00; пользуясь данными градуировки ослабителя (для данной длины волны), легко найдем числовые значения а„ а,...а„ (достаточно с точностью ИИ до 0,01).

Способ фотометрического интерполирования при определении интенсивности линии примеси заключается в следующем.

Сравнивают при помощи лупы какой-нибудь нормально экспонированный от-резок х; линии примеси с отрезками а,„,, а,...а„линии основного элемента; прь., этом может быть два случая: 1) х; = а«„т. е. выбранный отрезок линии примеси одинаково интенсивен с одним из отрезков линии основного элеиента. В этом случае логарифм интенсивности линии примеси:

1) 1gl=a+ (а, — а; );

2) а. (х; (а» « т. е. х; лежит ro интенсивности в интервале между двумя отрезками линии основного элемента а,. «и а, .

В этом случае наблюдают попеременно а„- «, х; и а..., стараясь определить, к какому из двух отрезков линии основного элемента ближе данный отрезок линии примеси.

Если этот вопрос решить трудно, то заключают, что х; лежит в середине интервала между а,„«и а,,- и результат записывают в форме оценки; а,-,, 5х;, 5а,,—, Если х; определенно ближе к а,, «, чем к а„, то результат оценки может быть записан так: а,, «, 3x«, 7а,„. в обратном случае: а,,- -, 7х;. За,;, Для любо" оценки а,,- «, тх;,па, логарифм интенсивности линии примеси вычисляется по формуле:

19 = а,,-+-,"-,(а,,- — а,, )+(а,— а, ).

Способ количественного анализа металлов и их сплавов, основанный на сравнении интенсивности спектральных линий путем применения ступенчатого фильтра, отличакицийся тем, что для уточнения и облегчения анализа интенсивность спектральных линий опреде ляют по способу фотометрического интерполирования Эдуарда Пиккеринга.

Рекомендуется вычислить заранее . таблицу значений 1о I для всех оценок

: в каждой паре и, получив оценку, сразу щме. -ФЮВОИ»

Гий.,,11ечатпый Труд" . Зак. бб44 — 4

2 - — -. брать Ig I из таблицы. B каждой паре производится несколько оценок между различными ступеньками и из них берется среднее значение Ig I.

Имея набор образцов сплава с различными содержаниями элемента примеси, производят в спектре каждого образца определение Igl и строят гра- дуировочную кривую, откладывая по оси абсцисс 1д 1, а по оси ординат — процентное содержание элемента примеси. Кривая строится один раз и служит для всех дальнейших анализов, поэтому при ее построении нужно иметь возможно больше данных.

Спектр электрической искры или дуги между электродами из исследуемого сплава фотографируется спектрографом, снабженным платиновым ступенчатым ослабителем на кварцевой пластинке, предварительно проградуированным.

Ступенчатый ослабитель должен давать градацию интенсивности между каждыми двумя последовательными ступеньками в 1,5--2,5 раза (что соответ. ствует изменению логарифма интенсивности на 0,17 — 0,40). Фотографирование спектров ведется всегда при одних и тех же условиях разряда (сила тока„ расстояние между электродами и т. д.).

Предмет изобретения.