Устройство для пробивки базовых отверстий в пленочном материале

Устройство для пробивки базовых отверстий в пленочном материале

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

и 4576!4

ОП ИСАН И Е

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 28.12.70 (21) 1609452/23-5 с присоединением заявки №вЂ” (32) Приоритет

Опубликовано 25.01.75. Бюллетень № 3

Дата опубликования описания 25,03.75 (51) M. Кл. В 29с 17/10

"осудврственный комитет

Совете Министров СССР оо делам изобретений и откаытий (53) УДК 678.029.35 (088.8) (72) Авторы изобретения

Е. А. Каганов, Н. С. Кудрявцева, Н. С. Кутарев, Г. В. Лагуткин и Ю. Г. Чудаков (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПРОБИВКИ БАЗОВЫХ ОТВЕРСТИЙ

В ПЛЕНОЧНОМ МАТЕРИАЛЕ

Предлагаемое устройство предназначено для пробивки базовых отверстий в пленочном материале, например в фотошаблонах или слоях многослойных печатных плат (МПП) определенного размера, и может быть использовано в различных отраслях техники, где требуется точная сборка слоев по базовым отверстиям.

Известны устройства для пробивки отверстий в пленочном материале, содержащие вакуумный стол и приспособление для пробивки отверстий.

Цель изобретения — обеспечение установки изделий относительно базовых меток стола с большей точностью.

Это достигается тем, что вакуумный стол выполнен в виде жестко установленной опорной плиты с подвижной центральной частью, снабженной микрометрическими приводами ее перемещения. Для осуществления же контроля за совмещением базовых меток стола с метками на изделии, над вакуумным столом установлены направляющие со смонтированными с возможностью перемещения по ним микроскопами.

На фиг. 1 изображено предлагаемое устройство, общий вид; на фиг. 2 — разрез по

А — А на фиг. 1.

Устройство для проб ивки базовых отверстий в пленочном материале, например в фотошаблонах или слоях МПП, состоит из микроскопного устройства, выполненного в виде четырех одинаковых микроскопов 1, которые могут перемещаться в направляющих 2 и 3 при помощи фиксирующих винтов 4 и 5, из опорной плиты 6 с расположенными на ней матрицами 7 и центральной подвижной части стола 8 с подводом вакуума в полость корпуса 9, перемещающегося от микрометрических

10 винтов 10, 11 с пружинными возвратами 12, 13 и поворачивающегося вокруг своей оси от червяка 14, взаимодействующего с зубчатым сектором 15.

Пробивка осуществляется при помощи пуан15 сонов 16, приводимых в движение кулачками

17 при помощи валов 18 и 19 от электродвигателя 20 через редуктор 21, однооборотную муфту 22 с электромагнитом 23, конические шестерни 24 и 25.

20 При отключенной вакуумной системе заготовка вручную устанавливается на центральной подвижной части стола 8 таким образом, чтобы контрольные (базовые) отметки или элементы рисунка на пленке оказались под

25 окулярами микроскопов, визирные устройства которых выставлены относительно контрольных отметок на опорной плите 6.

Затем включается вакуум, и заготовка плотно прижимается к поверхности подвиж30 ной части вакуумного стола 8. После этого

457614 производится точное совмещение контрольных отметок или элементов рисунка с визирами микроскопов, что обеспечивается перемещением части стола 8 с прижатой заготовкой от микрометрических винтов 10 и 11 и поворотом от червяка 14.

Затем нажимом кнопки включается электромагнит 23, замыкающий однооборотную муфту 22, которая передает движение от электродвигателя 20 пуансонам 16 через редуктор

21, две пары конических шестерен 24 и 25 и два вала 18 и 19, несущих профильные кулачки 17.

При переходе к обработке заготовок, имеющих другое расположение контрольных отметок или базовых элементов, микроскопы с помощью винтов 4 и 5 перемещают по направляющим 2 и 3 до совпадения их визиров с соответствующими отметками на опорной плите.

Предмет изобретения

1. Устройство для пробивки базовых отверстий в пленочном материале, например в фо5 тошаблонах или слоях многослойных печатных плат, содержащее вакуумный стол и приспособление для пробивки отверстий, о т л ич а ю щ е е с я тем, что, с целью обеспечения установки изделий относительно базовых ме10 ток стола с большей точностью, вакуумный стол выполнен в виде жестко установленной опорной плиты с подвижной центральной частью, снабженной микрометрическими приводами ее перемещения.

15 2. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что, с целью осуществления контроля за совмещением базовых меток стола с метками на изделии, над вакуумным столом установлены направляющие со смонтированными с

2о возможностью перемещения по ним микроскопами.

457614

Зона разорен:ения ф

+us 2

Составитель В. Фуралев

Редактор Т, Загребельная Техред Г. Дворина

1(орректор И. Позняковская

Заказ 899/3 Изд. № 360 Тираж 778 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, 5К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2