Наклонный искатель к ультрозвуковому дефектоскопу
Патент 473947
Авторы
Классы МПК
Наклонный искатель к ультрозвуковому дефектоскопу
Иллюстрации
Реферат
О П И С А Н И Е " 1 4УЗ 47
ИЗОБРЕТЕН ИЯ
Союз Советских
Социалистических
Республик
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства— (22) Заявлено 28.03.73 (21) 1899202/25-28 с присоединением заявки №вЂ” (32) Приоритет—
Опубликовано 14.06.75. Бюллетень ¹ 22
Дата опубликования описания 29.12.75 (51) М. Кл. С 01п 29/04
Государственный комитет
Саввта Министров СССР па делам иэееретений и открытий (53) УДК 620.179.16 (088.8) (72) Автор изобретения
М. Э. Хургии (71) Заявитель (54) НАКЛОННЫЙ ИСКАТЕЛЬ К УЛЬТРАЗВУКОВОМУ
ДЕФЕКТОСКОПУ
2А
= Sin 20, 1
Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля качества материалов и изделий.
Известен наклонный иокатель к ультразвуковому дефектоскопу, содержащий корпус, размещенные в нем два демпфера, установленные на демпферах в од ной плоскости одна с другой излучающую и приемную пьезопластины и акустический экран, разделяющий демпферы и пьезопла стины.
Предлагаемый искатель отличается от известного тем, что он снабжен дополнительны ми,приемными пьезопластинами, уста новленными на демпфере сбоку от основной приемной пьезопластины с расстояниями между их осями и плоскостями согласно соотношению. где А,  — расстояния соответственно между осями и плоскостями соседних приемных пьезопластин, 0 — угол наклона искателя.
Кроме того, искатель снабжен,резисторами, последовательно соединенными с приемными пьезопластинами, ширина которых установлена близкой к расстоянию, на котором
2 поверхностная волна в контролируемом изде. лии уменьшается вдвое.
Такое выполнение искателя повышает производительность конгроля.
Наклонный искатель к ультразвуковому дефектоскопу содержит корпус 1, размещенные в нем демпферы 2 и 3, установленные на первом из демпферов излучающую пьезопластину 4, а на уступах второго демпфера 3—
1р приемные пьезопластины 5, 6 и 7, акустический экран 8, разделяющий демпферы, излучающую и приемные пьезопластины, монтажную,плату 9 и резисторы 10, 11 и 12, последовательно соединенные каждый с одним из
15 приемных пьезоэлементов.
Предлагаемый излучатель работает следующим образом.
Излучающая пьезопластина 4 подсовдинена к выходу генератора ультразвукового де2р фектоскопа (на чертеже не показан), электроды приемных пьезопластин 5, б, 7 подсоединены последовательно через соогвегствующие резисторы к входу приемника дефектоскопа. Искатель при контроле изделия 13 устанавливают под углом 8 к контролируемой поверхности, обеспечивающим возбуждение в ней поверхностной ульгразвуковой волны.
При этом многоэлементный вибратор, пьезопластины 5 — 7 которого расположвны на разных уровнях, установлен с той стороны акус473947 г
2А
= Sin 20, 45
55 тического экрана, где угол между экраном и контролируемой поверхностью больше прямого. (Характер выявляемости дефектов не изменится, если пьезопластина 4 будет приемной, а пьезапластины 5, 6, 7 — излучающими).
Пьезопластины 5, 6, 7 установлены на уступах демпфера с расстояниями между их осями и плоскостями, согласно соотношению
2А
=Sin 20, где А,  — расстояния соответственно между осями и плоскостями соседних приемных пьезопластин. Причем пьезоэлементы, раоположенные дальше от акустического экрана, установлены более выступающими в сторону контролируемого изделия 13.
Пьезопластина 4 излучает ультразвуковые колебания, которые, проходят в иммерсионной жидкосги, достигают контролируемого изделия 13, трансформируются в поверхностную волну, направленную (в плоскости чертежа) вправо. После встречи с дефектом эта волна отражается от него назад и преобразуется иммерсионной жидкостью в продольную волну, которая распространяется в жидкости и попадает на приемные пьезопластины.
Пьезопластины в искателе расположены так, что время прохождения ультразвуковых колебаний от излучающей пьезопластины 4 до той пьезопласч1ины 5, 6 или 7, на проекции которой на контролируемом изделии находится дефект, адинаково для всех нриемных пьезопластин, если только одинаково расположение дефекта относительно данной пьезопластины. Поэтому временной интервал устройства автоматической сипнализации дефектов в дефектоскопе может быть установлен равным времени прохождения поверхностной ультразвуковой волны длины проекции приемной пьезопластины, и лри этом будут обнаруживаться все дефекты, находящиеся под прием ными пьезопластинами. Сужение временного интервала устройства автоматической сигнализации дефектов повышает помехоустойчивость контроля.
Максимальная интенсивность колебаний обуславливается той приемной пьезолластиной, на проекции которой на контролируемое изделие, находится дефект. Резисторы, включенные последовательно с приемными пьезопластинами, корректируют напряжение на входе приемника дефектоскона так, что оно оказывается одинаковым при расположении дефекта под любой из приемных пьезопластин. Это позволяет применить шаг сканиро4 вания, равный длине многоэлементного вибратора, если искатель перемещается вдоль плоскости акустического экрана, или увеличить скорость, передвижения искателя в перпендикулярном направлении, есл|и быстродействие дефектоскопа ограничено.
На приемник дефектоскопа оказывает наибольшее влияние приемная пьезопластина, под которой находится дефект, или пластина, расположенная ближе к акустическому экрану. С целью исключения интерференции колебаний этих пьезопластин длительность импульса колебаний должна быть меньше speмени прохождения расстояния между пьезопластинами.
Максимальная ширина приемных пьезопластия ограничена требованием равномерноспи выявляемости дефектов, расположенных в различных местах контролируемого изделия под искателем. Наиболее эффективен контроль, если ширина пьезопласти н в направлении, перпендикулярном акустическому экрану, составляет величину, близкую к расстоянию, на котором интенсивность поверхностной волны в контролируемой детали уменьшается вдвое.
Предмет изобретения
1. Наклонный искатель к ультразвуковому дефектоскопу, содержащий корпус, размещенные в,нем два демпфера, установленные на демпферах в одной плоскости одна с другой излучающую и приемную пьезопластины и акустический экран, разделяющий демпферы и пьезопластины, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности контроля, он снабжен дополнительными приемными пьезопластинами, установленными на демпфере сбоку от основной приемной пьезопластины с расстояниями между их осями и плоскостями согласно соотношению где Л,  — расстояния соответственно между осями и плоскостями соседи их приемных пьезопластин, 0 — угол наклона искателя.
2. Искатель по и. 1, отличающийся тем, что он снабжен резисторами, последовательно соединенными с приемными пьезопластинами, ширина которых установлена близкой к расстоянию, на котором поверхностная волна в контролируемом изделии уменьшается вдвое.
Составитель И. Кесоян
Редактор Л. Василькова Техред 3. Тараненко Корректор О Тюри га
Заказ 5501 Изд. № 1499 Тираж 902 Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
МОТ, Загорский филиал