Ультразвуковой способ измерения толщины материалов
Иллюстрации
Показать всеРеферат
III) 475529
ОПИСАН ИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Со1оз Советских
Социалистических
Республик (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 11.12.65 (21) 1042753/26-10 (51) Ч, К.1. 6 OIII 1 06
G 0111 17 02 с присоединением заявки ¹
Государственный комитет
Совета Министров СССР (32) Приоритет
Опубликовано 30.06.75. Бюллетещ, М 24
Дата опубликования описания 17.09.75 (53) УДК 531.717.11:534..511.1-8(088.8) ло делам изобретений и открытий (72) Автор изобретения (71) Заявитель
А. Д. Чебышев
Украинский научно-исследовательский и конструкторский институт по разработке машин и оборудования для переработки пластических масс, резины и искусственной кожи (54) УЛЬТРАЗВУКОВОЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ
ТОЛЩИНЫ МАТЕРИАЛОВ
Предмет изобретения
Изобретение относится к измерению толщины материалов ультразвуком прп одностороннем к нпм доступе. Данный способ может быть применен в промышленности по переработке пластмасс, в черной и цветной металлургии, а такхке в других областях народного хозяйства.
Известны ультразвуковые способы измерения толщины материа70B, основанные на отражении колебаний от двух поверхностей исследуемого объекта.
Описываемый способ позволяет повысить разрешающую способность и точность измерений. Отличается оп тем, что ультразвуковые колебания линейно модулируют по частоте, выделяют синусоидальную огибающую электрических колебаний принятых отраженных сигналов и измеряют се частоту, по которой судят о толщине контролируемого материала.
Сущность описываемого способа заключается в том, что измеряемый объект облучают ультразвуковыми колебаниями, линейно промодулированнымп по частоте. Эти колебанпя отражаются от наружной и внутренней поверхностс11 объекта и воздействуют на приемное устройс гго. Линейная модуляция го частоте и совместное воздействие отраженны:
5 к0,1еоанпй на приемник прпвод11т к ООра30ваппю синусопдальной по форме огибающей электрических колеоанпй, частота которых находится в оораTII0II пропорцпîíальнoй зависимости от толщины контролируемого мате10 риала.
У, ь т р а 3 в у 1 0 в 0 и 0110 c o 0 и 3 м е р е и и я то.1 щ1115 ны материалов, например пластмасс, основанный па отражении колебаний от двух поверхностей контролируемого объекта, о т л и ч а ющ II и с я тем, чTÎ, с целью увеличcHèÿ рà3рсшающей способности и точности измерения, 20 В ЫД0. I 51 IOT СИ ПУСОПДа Л ьну10 ОГИ 0 а10щу10 эл СКтрпческпх колебаний принятых отраженных сигналов и пзмеря1от ее частоту, по которой с у:151 T О TO;I LQ I I H C Ii O I I T p O. I I I p 5 е м 0 ГО О О Ъ е к т <1 .