Способ раздельного измерения потоков атомов щелочных металлов и содержащих их молекул в смешанных потоках этих частиц в вакуумных устройствах
Иллюстрации
Показать всеРеферат
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
480031
Союз COBBTGKIIX
Социалистических
Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 17.04.72 (21) 1774020/26-25 с присоединением заявки № (23) Приоритет
Опубликовано 05.08.75. Бюллетень № 29
Дата опубликования описания 15.12.75 (51) M. Кл. 6 Olt 1/28
Государственный комитет
Совета Министров СССР (53) УДК 539.1.074.5 (088.8) по делам изобретений и открытий (72) Авторы изобретения
Э. Я. Зандберг и А. Я. Тонтегоде
Ордена Ленина физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе (71) Заявитель (54) СПОСОБ РАЗДЕЛЬНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ПОТОКОВ АТОМОВ
ЩЕЛОЧНЫХ МЕТАЛЛОВ И СОДЕРЖАЩИХ ИХ МОЛЕКУЛ
В СМЕШАННЫХ ПОТОКАХ ЭТИХ ЧАСТИЦ В ВАКУУМНЫХ
УСТРОЙСТВАХ
Изобретение относится к физике атомных столкновений, а именно к способам регистрации потоков нейтральных атомных частиц с тепловыми энергиями.
Известен способ раздельного детектирования атомов щелочных металлов и содержащих их молекул, основанный на явлении поверхностной ионизации. При этом используется способность атомов щелочных металлов практически полностью ионизироваться путем поверхностной ионизации на накаленных металлах, вольфраме и рении, а также на поверхности сплава платины и вольфрама и свойство молекул ионизироваться только на поверхности металлов и практически не ионизироваться на поверхности сплава.
Реализация такого дифференциального способа предполагает применение детектора, содержащего два ионизатора, один из которых изготовлен из металла, а другой — из сплава.
Недостатком дифференциального способа является ограниченность углового разрешения из-за необходимости располагать ионизаторы на некотором расстоянии друг от друга.
Изготовление и эксплуатация детектора связаны с неудобствами, обусловленными изменением эмиссионных свойств сплава со временем.
Предложенный способ позволяет устранить указанные недостатки путем раздельной регистрации потоков атомов и содержащих их молекул в смешанных потоках с помощью одного ионизатора. Это достигается благодаря использованию известного факта, состоящего в том, что покрытие металлов двумерной пленкой углерода приводит к прекращению ионизации молекул. Поэтому применяют ионизатор из такого тугоплавкого металла или сплава, который способен покрываться двуip мерной пленкой углерода при одной температуре и очищаться от нее при нагреве до более высокой температуры. При этом очищенная поверхность оказывается чувствительной к атомам и молекулам, а покрытая углеродной
15 пленкой — только к атомам. В случае ионизирующей поверхности из иридия суммарный ток от ионизации атомов и молекул следует измерять при температурах больше 2000 К, а ток от ионизации только атомов — при тем20 пературах 1200 †15 К.
Таким образом, определение потоков атомов и молекул в смешанных потоках состоит в следующем. Сначала, например, измеряют
25 ионный ток от ионизации только атомов на поверхности иридия при температуре ниже
1600 К, затем повышают температуру эмиттера до 2000 К и более и измеряют полный ток от ионизации атомов и содержащих их молеЗО кул на очищенной от углеродной пленки,по480031
Предмет изобретения
Составитель С. Шитов
Текред 3. Тараненко
Корректоры: Л. Корогод и А. Николаева
Редактор Т. Орловская
Заказ 3175/2 Изд. Кз 981 Тираж 619 Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2 верхности. Величину потока молекул находят по разности измеренных токов.
Способ раздельного измерения потоков атомов щелочных металлов и содержащих их молекул в смешанных потоках этих частиц в вакуумных устройствах путем измерения полученных с помощью поверхностной ионизации суммарного ионного тока от ионизации атомов и молекул, измерения тока только от ионизации атомов и определения потока молекул по разности измеренных токов, о тл ич а ю шийся тем, что, с целью увеличения углового разрешения, увеличения стабильно5 сти, упрощения конструкции и эксплуатации детектирующих устройств, ионизацию производят на одном ионизаторе, выполненном из иридия, и измеряют суммарный ток от ионизации атомов и молекул при температурах
10 ионизатора более 2000 К, а ток от ионизации только атомов — при температуре ниже 1600 К и при наличии в измерительном объеме паров углеводородов.