Устройство для измерения спектральной отражательной способности
Иллюстрации
Показать всеРеферат
11 1 483586
Al 1!с И
ИЗОБРЕТЕНИЯ
Союз Советских
Содиалыстичесыих
Рвсеублик
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 29.10.71 (21) 1709569/18-10 с присоединением заявки № (23) Приоритет
Опубликовано 05,09.75. Бюллетень № 33
Дата опубликования описания 19.12.75 (5l) М, Кл. G 01j 5, 00
Государственный комитет
Совета Министров СССР оо делам изобретений и открытий (53) УДК 535.242.2 (088.8) (72) Автор изобретения
Д. M. Щербина (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ СПЕКТРАЛЬНОЙ
ОТРАЖАТЕЛЬНОЙ СПОСОБНОСТИ
Изобретение относится к области фотометрпп и пирометрии и может быть использовано для измерения отражательной способности в мопохроматическом свете объектов малого диаметра, например тонкой проволоки.
Известны устройства для измерения отря>кятелы!ОЙ способности, содер>ка1!(Ие фото1!риемник, отражатель, выполненный в виде .-!ллпптического цилиндра, внутри которого помещен источник излучения и объект измерения, источник нагрева. Недостатком известных устройств является непригодность Нх для измерения отражательной способности объектов малого диаметра, например нитей или тонкой проволоки.
Цель изооретения — измерение отражательной способности объектов малого диаметра, например топкой проволоки.
Это достигается тем, что источник излучения выбран с узким спектром и выполнен вь1тяпутым вдоль фокальной линии отражателя, я объект измерения расположен также вдоль
Фокальной линии и подключен непосредственно к регулируемому источнику нагрева, причем отражатель снабжен отверстием с объективом, в фокусной плоскости которого помещена диафрагма, а между диафрагмой и
OOÜÅÊTÈÂ0Ì ВВ.ЛЕ11 УЗЕЛ СМЕЩЕНИЯ.
1-1а чертеже схематически изображено предложенное устройство.
Устройство содержит эллиптический цилиндр I с отражающими внутренними стен5 ками, в одной из фокальных линий которого помещен линейный источник света 2, например газорязрядпая лампа, во второй фокальпой линии находится вякуумпяя колба 3 с исследуемым образцом. !
О В стенке цилиндра выполнено отверстие 4, на котором закреплен объектив 5, Фокуспрующий изображение объекта измерения в полости диафрагмы 6, выполненной в виде раздвижной щели, за которой находится пр!цм15:1ик излучения 7. Между объективом 5 и диафрагмой 6 помещен узел смещения 8, выполненный в виде кольцевого магнита. Устройство снабжено источником питания 9, пред»азия fellHhIM для питания гязоряз рядпоп ля ми!>!
20 модулированным по амплитуде током, и регулируемым псточш!ком нагрева 10 дл» нагревания образца.
Устройство работает следующим образом.
Газоразрядная лампа 2, например ГШ-5, 25 равномерно освещает модулированным светом исследуемую проволоку 3, которая пропускаемым током нагревается до требуемой температуры. Яркость проволоки измеряется приемником 7, для чего с помощью объектива 5
483586
Техред Т. Курилко
Корректор Н. Аук
Редактор О. Филиппова
Изд. № 991
Подписное
Заказ 3057/8
Тираж 740
Типография, пр. Сапунова, 2 ее изображение фокусируется на регулируемую щель 6, которая открыта на величину диаметра изображения. Излучение лампы 2 модулируют для отведения света, попадающего в приемник 7 за счет накала проволоки.
Излучение модулировано за счет пропускания переменного тока через лампу 2.
После того, как сигнал приемника излучения И зафиксирован, включают ток электромагнита 8 такой величины, чтобы проволока
3 отклонилась на величину 1 — 3 диаметра проволоки. На приемник теперь попадает излучение, соответствующее интенсивности светового поля в месте расположения проволоки, и сигнал приемника излучения равен И>.
Спектральная отражательная способность при данной температуре проволоки определяется как отношвние И/Ио на длине волны, которая определяется наполнением газоразрядной лампы.
Предмет изобретения
Устройство для измерения спектральной отражательной способности, содержащее фото5 приемник, отражатель, выполненный в виде эллиптического цилиндра, внутри которого помещен источник излучения и объект измерения, источник нагрева, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью измерения отражательной
10 способности объектов малого диаметра, например тонкой проволоки, источник излучения выбран с узким спектром и выполнен вытянутым вдоль фокальной линии отражателя, а объект измерения расположен также вдоль
15 фокальной линии и подключен непосредственно к регулируемому источнику нагрева, причем отражатель снабжен отверстием с объективом, в фокусной плоскости которого помещена диафрагма, а между диафрагмой и
20 объективом введен узел смещения.