Способ оценки адгезии пленки к подложке
Патент 485365
Авторы
Классы МПК
Способ оценки адгезии пленки к подложке
Иллюстрации
Реферат
ОП ИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕН ИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических .Республик (») 485365 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено26.03.73 (21) 189(:) 910/25-28 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 25.09.75Бюллетень № 35 (45) Дата опубликования описания 19.12.75
Государственный комитет
Сонета Министроа СССР оо делам иэаоретений н откры(ий (Я} гДК 620. 7;I.. 4 (088. 8) В. П. Платонов, В. Ф. Артемьев и A. Ф. Орпов (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) СПОСОВ7 ОЦЕ1!К1! АД1Е31!!! !!Л1-. 1!К1!
K 1!ОД.Г1ОЖКГ
11:ill i(ЫВсаЕМЫй ООРН;)ЕЦ e:О СIU!)()kiki
iiJieнки освещают светом с изл(еняющеисн дпиной волны, исса дук) т )(огпощеlrlri. св»тя в зависимо(.ги Ol длины k)()JIIII» и он1)(деiksIK) г границу с()бс гневно) о цо) Jloi)ic)krl))I
Л)Я 1 Ег)нс)нс) НПЕНК И! ЗатЕЛ) 1Ц)Г(КПЯД)>)Вс) К) 1 мехяническук) ILL)I рузку, (.озцявяя в подложке дефорл)ации в иредепях уиру) их, вновь освещаюl ипенку светом и oil!)(!Jre-,— пяют новую гря)шцу собственно(î LL()I пощения пленки. Г- язность дпины во)ш, xciрактеризуi()LILlix ) раницы собств HHol о ll()l—
ПОЩ(.НИЯ, ПОЗВОПЯ(Г ДсЧ ГЬ СРс)ВНИ ГЕПЬНУК) оценку яд)езии ипенки к иодпожке.!
О!
1рецмег изобретения
Способ оценки адгезии пленки к подножке, заключающийся в том, что пленку освещают сначала в недеформиров,)ином, а затем в деформированном состоянии и оиредепяют изл(енения оптических (твойсчв
ОДНОГО ИЗ ЭПЕЛ(ЕНТОВ ЯДГЕсчионн(7Г(7 СОЕДИнения, lro которому суцят Об ядгезии .
) ипенкикиодпожке, о тп и чя ющ ий—
1!аk)((. 1 (.ii (иосоО оценки cJJLI e .зии и)(ьнк))
К ИОД))Ожк(.)ЗНКПК)чс)К))ЦИИ(Я ВТОЛН)ЧГО
ЦJle .IrКy ()(. ЬЧ- .I)le))(7Т CLIЯ Ici))а В НЕЦЕ(РОРМЩ)О—
neirIiIuk я зя гем в деформированном состоянии и определяюi изменение оптических 5
СВОИС.I(J (7Г(НОГО ИЗ ВЛЕМЕН ГОВ ()ДГЕЗИ()ННО) О соедин(ч())г(, по которому судяг об адгезии ипенки к ))оц))ожке, Сог)i()(но изве(:тному способу ирозрачную н))енку )) ирозрячнук подложку пров
СВЕЧИН()Ю1 ИОПЯРИЗОВЯННЫМ СВЕТОМ И IIO ин I ерференц)к)нн))й картине, возникающей вспедс гв )е двойного пучепрепомпения в ц()дпожке, судят об адгезии.
Однако з)о г способ ирименяе гся )опько к проз!па IIII.Ilvl л)ячериапам, к тому же подложка поп)кня быть из оптически яктивноl () Aici (Ет)нанс) .
1I(.J1l к) изобре i e:ILLIA явпяется рясширени вид;) исследуемых материалов.
1!ос г())эп(-.нняя цель достигается тем, гго ипенку освещают светом с изменяю—
ILL(-Ir(7 дпиной вопшл и Оиредепяк)т измене-.
НИЕ ) f)cLIIIL)rril il()i Jl()ilie НИЯ ППЕНКИ, ПО КОТО,f)()IL суд)г) ()I7 ад) езии ипенки к подложке. ) (51) М. Кл. (, 0 n I J L) -!
485365
Составитеаь Н,Алексеев
Редактор B.Дибобес Техред М.Семенов
Корректор Л Орлова
Заказ Изд. Ю Ц g Тираж 902
Подписное
ЦНИИ11И Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
Москва, 113035, Раушская иаб., 4
Предприятие «Патент», Москва, Г-59, Бережковская наб., 24 с я тем, что, с целью расширения вида исследуемых материалов, пленку освещают светом с изменяюшейся длиной волны и определяют изменения границы поглощения пленки, по которой судят об адгезии пленки к подложке.